环境应力筛选试验

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1、word环境应力筛选试验1 环境应力筛选的目的和原理1.1 环境应力筛选的目的环境应力筛选的目的在于发现和排除产品的早期失效，使其在出厂时便进入随机失效阶段，以固有的可靠性水平交付用户使用。1.2 环境应力筛选的原理环境应力筛选是通过向电子装备施加合理的环境应力和电应力，将其内部的潜在缺陷加速变成故障，以便人们发现并排除。环境应力筛选是装备研制生产的一种工艺手段，筛选效果取决于施加的环境应力、电应力水平和检测仪表的能力。施加应力的大小决定了能否将潜在的缺陷在预定时间内加速变为故障；检测能力的大小决定了能否将已被应力加速变成故障的潜在缺陷找出来，以便加以排除。因此，环境应力筛选又可看作是产品质量

2、控制检查和测试过程的延伸。2 缺陷分类2.1 通用定义产品丧失规定的功能称失效。对可修复产品通常也称为故障。对设备而言，任一质量特征不符合规定的技术标准即构成缺陷。绝大多数电子装备的失效都称为故障，以故障原因对其进展分解可以参阅图。从图中可知，装备故障分为偶然失效型故障和缺陷型故障两大类。人们认为偶然故障表现为随机失效，是由元器件、零部件固有失效率引起的；而缺陷型故障由原材料缺陷、元器件缺陷、装配工艺缺陷、设计缺陷引起，元器件缺陷本身又由结构、工艺、材料等缺陷造成，设计缺陷如此包含电路设计缺陷、结构设计缺陷、工艺设计缺陷等内容。结构工艺材料电路设计结构设计工艺设计缺陷缺陷缺陷缺陷缺陷缺陷元器件

3、缺陷设计缺陷原材料装配工艺缺陷缺陷缺陷型故障偶然失效型故障电子装备故障图2.1.1 电子装备故障原因分解示意2.2 电子设备可视缺陷分类按照G 2082电子设备可视缺陷和机械缺陷分类，从影响与后果方面缺陷分为致命缺陷、重缺陷、轻缺陷；从可视的角度来看，产生缺陷的主要工艺类型有：焊接、无焊连接、电线与电缆、多余物、防短路间隙、接点、印制电路板、零件制造安装、元器件、缠绕、标记等，其中多数都可能产生致命缺陷或重缺陷，轻缺陷比拟普遍。致命缺陷是指对设备的使用、维修、运输、保管等人员会造成危害或不安全的缺陷，或可能妨碍某些重要装备如舰艇、坦克、大型火炮、飞机、导弹等的战术性能的缺陷。重缺陷是指有可能造

4、成故障或严重降低设备使用性能，但又不构成致命缺陷的缺陷。轻缺陷是指不构成重缺陷，但会降低设备使用性能或不符合规定的技术标准，而对设备的使用或操作影响不大的缺陷。可视缺陷是指通过人的视觉器官可直接观察到的，或采用简单工具对设备质量特征所能判定的缺陷。承制单位的质量检验人员对大多数可视缺陷都可以发现并交有关部门排除，唯有不可视缺陷需要进展环境应力筛选或其它方法才能被发现，否如此影响产品可靠性。3 筛选应力与其效应表达式3.1 常规筛选与定量筛选常规筛选是指不要求筛选结果与产品可靠性目标和本钱阈值建立定量关系的筛选。筛选方法是凭经验确定的，筛选中不估计产品引入的缺陷数量，也不知道所用应力强度和检测效

5、率的定量值，对筛选效果好坏和费用是否合理不作定量分析，仅以能筛选出早期失效为目标。筛选后的产品不一定到达其故障率恒定的阶段。定量筛选是要求筛选的结果与产品的可靠性目标和本钱阈值建立定量关系的筛选。定量筛选有关的主要变量是引入缺陷密度、筛选检出度、析出量或残留缺陷密度。引入缺陷密度取决于制造过程中从元器件和制造工艺两个方面引进到产品中的潜在缺陷数量；筛选检出度取决于筛选的应力把引入的潜在缺陷加速开展成为故障的能力和所用的检测仪表把这些故障检出的能力；残留缺陷密度和缺陷析出量如此取决于引入缺陷密度和筛选检出度。定量环境应力筛选关系式如下： DR=DINF =DIN(1TS) (2-3-1) TS=

6、SSDE (2-3-2)式中：DR残留缺陷密度，平均个/产品； DIN 装备引入的缺陷密度，平均个/产品； F境应力筛选析出的缺陷量，平均个/产品； TS筛选检出度； SS筛选度； DE检测效率。在进展定量筛选之前，首先要按照可靠性要求确定残留缺陷密度的目标值DRG，然后通过适当地选择筛选应力种类与其量值的大小、检测方法、筛选所在等级等参数设计筛选大纲。实施此大纲时，要进展监测和评估，确定DIN、SS、DR的观察值，并与设计估计值比拟，以便与时采取措施保证实现定量筛选目标，并使之最经济有效。定量环境应力筛选的控制过程请参阅图。3.2 恒定高温应力3.2.1 参数的计算3.2.1.1 筛选度计算

7、设恒定高温筛选的应力参数是温度Tu 、筛选时间t、环境温度TE (一般取25)，其筛选度SS的表达式为：SS1exp-0.0017(R0.6)0.6 t (2-3-3)式中：RTuTE Tu25 温度变化X围，；t恒定高温的持续时间，h。按公式(2-3-1)计算的恒定高温筛选度数据见表2-3-1。加工引入的缺陷 DIN加制造筛选产品元器件材料缺陷 DIN元 DIN SSDE DR DIN = TS = DR= DIN元DIN加 SSDE DINF F=DINTS图 2.3.2 定量环境应力筛选变量关系示意3.2.2 筛选故障率计算恒定高温筛选时缺陷的故障率表达式如下：Dln(1SS)/t (2

8、-3-4)式中：D 故障率，次小时；SS筛选度;根据式(2-3-4)计算的恒定高温故障率(D)见表2-3-1表2-3-1 恒定高温筛选度(SS)和故障率(D)时间温度增量(DtH01020304050607080102030405060708090100110120130140150160170180190200D3.2.3 恒定高温应力激发的故障模式或影响恒定高温能激发的故障模式(或对产品的影响)主要有：使未加防护的金属外表氧化，导致接触不良或机械卡死，在螺钉连接操作时用力不当或保护涂层上有小孔和裂纹都会出现这种未防护的外表。加速金属之间的扩散，如基体金属与外包金属，钎焊焊料与元件，以与隔离

9、层薄弱的半导体与喷镀金属之间的扩散；使液体干涸，如电解电容和电池因高温造成泄漏而干涸；使热塑料软化，如该热塑料件处于太高的机械力作用下，如此产生蠕变；使某些保护性化合物与灌封蜡软化或蠕变；提高化学反响速度，加速与内部污染物的反响过程；使局部绝缘损坏处绝缘击穿。3.3 温度循环应力3.3.1 温度循环应力参数温度循环应力参数有：上限温度、下限温度、循环次数、温度变化速率。3.3.2 温度循环应力筛选度计算 SS1exp0.0017(R0.6)Ln(ev)3N(2-3-5)式中：R=TuTL ，温度变化X围，；Tu 上限温度，； TL下限温度，； V 温度变化速率，min； N 循环次数；，自然对

10、数的底。按式(2-3-5)计算的温度循环应力筛选度见表2-3-2。表2-3-2 温度循环应力筛选度次速率温度X围数/m20406080100120140160180252102152204541041542065610615620858108158201051010101510201251210121512203.3.3 温度循环应力故障率计算D = Ln (1-SS) / N (2-3-6) 式中：D 故障率，平均次循环； SS 筛选度； N 循环次数。各参数组对应的故障率见表2-3-3。3.3.4 温度循环应力激发的故障模式或影响使涂层、材料或线头上各种微细裂纹扩大；使粘接不好的接头松驰；

11、使螺钉连接或铆接不当的接头松驰；使机械X力不足的压配接头松驰；使质量差的焊点接触电阻加大或开路；粒子污染；密封失效。表2-3-3 温度循环故障率(D)速率温度循环X围/min2040608010012014016018051015203.4 扫频正弦振动应力3.4.1 扫频正弦振动应力的筛选度计算SS =1exp0.000727(G)0.863 t (2-3-7)式中：G高于交越频率的加速度量值，g；t振动时间，min。按式(2-3-7)计算的结果见表2-3-4。3.4.2 扫频正弦振动应力的故障率D = Ln (1SS ) / t (2-3-8)式中：D 故障率，次h； SS筛选度；t时间，

12、h。按式(2-3-8)计算的结果也见表2-3-4。表2-3-4 扫频振动筛选度和故障率时间加速度量值gMin5.0020.0036.0051.0066.0080.0099.0107.0120.0132.0145.0157.0169.0181.019310.0040.0072.0103.0131.0519.0186.0212.0238.0263.0287.0312.0355.0359.038215.0060.0108.0154.0196.0289.0278.0316.0354.0391.0428.0464.0499.0534.056820.0080.0144.0204.0261.0316.036

13、8.0420.0470.0519.0566.0614.0660.0705.075025.0099.0180.0255.0325.0393.0458.0522.0584.0644.0703.0761.0818.0874.092930.0119.0216.0305.0389.0470.0547.0623.0696.0768.0838.0906.0937.1039.110135.0139.0251.0355.0452.0546.0636.0723.0807.0890.0970.1049.1122.1201.127540.0159.0287.0404.0515.0621.0723.0822.0917.

14、1010.1101.1189.1276.1361.144445.0178.0322.0454.0578.0696.0810.0919.1026.1129.1230.1328.1424.1517.160950.0198.0357.0503.0640.0770.0895.1016.1133.1246.1357.1464.1569.1671.177155.0217.0392.0552.0701.0844.0980.1112.1239.1362.1482.1598.1711.1822.198060.0237.0427.0600.0763.0917.1065.1207.1344.1476.1605.17

15、30.1852.1970.2089D.0240.0436.0619.0793.0962.1126.1286.1443.1597.1749.1899.2048.2194.23393.4.3 扫频正弦振动应力激发的故障模式或影响使结构部件、引线或元器件接头产生疲劳，特别是导线上有微裂纹或类似缺陷的情况下；使电缆磨损，如在松驰的电缆结处存在尖缘似的缺陷时；使制造不当的螺钉接头松驰；使安装加工不当的IC离开插座；使受到高压力的汇流条与电路板的钎焊接头的薄弱点故障；使未充分消除应力的可作相对运动的桥形连接的元器件引线造成损坏，例如电路板前板的发光二极管或背板散热板上的功率晶体管；已受损或安装不当的脆性绝

16、缘材料出现裂纹。3.5 随机振动应力3.5.1 随机振动应力的参数随机振动应力的参数有：频率X围、加速度功率谱密度(PSD)、振动时间、振动轴向数。其振动谱可参阅图。3.5.2 随机振动应力筛选度随机振动应力筛选度的计算式如下：SS=1exp0.0046(Grms)t (2-3-9)式中：Grms加速度均方根值，g；Grms =A1 A2 A3 1/2； (2-3-10) A1 、A2 、A3 随机振动谱的面积，g2 (见图2.3.3)；t动时间，min。加速度功率谱密度 g2/Hz +3db/oct 3db/oct A1 A2 A3频率HZ 0 20 80 350 2000图2.3.3 随机

17、振动谱示意 3.5.3 随机振动应力故障率计算随机振动应力的故障率计算式如下：D = Ln (1-SS) / t (2-3-11)式中：D 故障率，平均次h； SS筛选度；t时间，h。按照式(2-3-9)计算的筛选度和按照式(2-3-11)计算的故障率数值见表2-3-5。表2-3-5 随机振动筛选度和故障率时间加速度均方根值 (g)min5.007.023.045.012.104.140.178.218.260.303.346.389.431.47810.014.045.088.140.198.260.324.389.452.514.572.627.677.72315.021.067.129.

18、202.282.363.444.522.595.661.720.772.816.85420.028.088.168.260.356.452.543.626.700.764.817.861.896.92325.035.109.206.314.424.529.625.708.778.835.880.915.941.95930.041.129.241.363.484.595.691.772.836.885.922.948.966.97935.048.149.275.409.538.651.746.882.878.920.949.968.981.98940.055.168.308.452.586.70

19、0.791.860.910.944.966.981.989.99445.061.187.339.492.629.742.829.891.933.961.978.988.994.99750.068.205.369.529.668.778.859.915.951.973.986.993.996.99855.074.224.397.563.702.809.884.938.964.981.991.996.998.99960.081.241.424.595.734.836.905.948.973.987.994.997.999D.084.276.552.9033.5.4 随机振动应力激发的故障模式或影响

20、随机振动应力激发的故障模式或影响与正弦扫频振动应力一样，但故障机理更复杂，开展故障的速度要比扫频正弦振动应力快得多，这是由于随机振动能同时激励许多共振点的作用结果。3.6 筛选效果比照3.6.1 温度应力比照 a) 对恒定高温应力的分析恒定高温筛选的筛选度与温度增量、筛选时间密切相关，但其量值很小，由表2-3-1查得当温度增量为最大(80)、老炼筛选时间最长(200h)时，筛选度为。恒定高温的故障率只与温度增量有关，其值也很小，同样从表2-3-1查得温度增量最大(80)时故障率为平均次h。即为了暴露1个缺陷，用温度增量为80的恒定高温进展筛选平均需要42个小时。如果按有些产品以45(温度增量为

21、20)高温进展老炼筛选的话，其故障率为次/h，需要平均老炼100小时才能暴露1个缺陷。因此可见，为了达到消除早期失效的目的，用恒定高温的老炼筛选时间要很长，不仅筛选效率低下，而且有可能要影响产品的使用寿命。故障率低和可能影响产品的使用寿命是恒定高温筛选应力的致命缺点。 b) 对温度循环应力的分析温度循环应力的筛选度与温度X围、循环次数有关，并且与温度变化速率关系最密切，即温度升降速率越大，其筛选度也越大。由表2-3-2可查得温度X围为180、循环次数为4、温度变化速率为20/min时，筛选度为。归一化后其故障率与温度变化X围和温度变化速率成正相关。由表2-3-3可查得,当温度变化X围为80、温

22、度变化速率为5/min时温度循环应力的故障率平均为次/循环，一般每个循环时间在小时之间，因此该应力的故障率相当于平均次/h次/h之间。因此，故障率高、筛选效率高、不会影响产品使用寿命是温度循环应力的特点。 c) 温度应力的比拟由上分析可知，温度变化X围为80、温度变化速率为5/min的温度循环应力的故障率是温度增量为80的恒定高温应力的2倍多与之比)。而且在工程上要实现前者比后者容易得多。温度增量为80的恒定高温应力要让产品经受1058025高温的相当长时间的工作过程，平均42小时才能暴露1个故障。而温度循环应力，通常采用温度交变试验箱，此类设备对温度X围为80由35变化到45、温变速率为5/

23、min的性能参数是最低的要求，轻易便可实现，此应力可使产品平均筛选20小时便可以暴露1个故障，比恒定高温应力的筛选效率高很多。为了进一步提高温度循环应力的筛选效率，可以通过提高温度变化率的应力参数来实现。由表2-3-2可知，当温度X围仍为80、温度变化速率由5/min提高到20/min时，其故障率由平均次/循环提高到平均次/循环，后者是前者的倍多，即平均5个小时便可以暴露1个缺陷。当然，温度交变试验箱要实现20/min的温变速率，需要大幅度地增加升降温系统的功率，甚至要在机械致冷的根底上加装液态氮致冷系统与其控制装置。这需要增加投入。为了提高筛选效率、减少筛选对产品寿命的影响，提高温变速率是最

24、好的方法，为此而增加投入也是适宜的。3.6.2 振动应力比照一般说来，振动应力是定量环境应力筛选方法才采用的应力，它可以暴露温度循环暴露不了的某些缺陷。据统计，对电子设备而言，温度应力平均可以暴露79的缺陷，而振动应力平均可以暴露21的缺陷。因此，振动是不可缺少的筛选应力。扫频正弦振动台和随机振动台都可以作为振动环境应力筛选的设备，但由表2-3-4和表2-3-5的数据可以比拟它们的故障率(即筛选效率)。我们按照G 1032电子产品环境应力筛选标准要求的典型的随机振动谱(见图2.3.3)算得其加速度均方根值为，取为7g；设持续时间为5min，查表2-3-5得筛选度为、故障率为次/小时。同样设扫频

25、正弦振动的加速度为7g、持续时间为5min，查表2-3-4可得筛选度为、故障率为次/小时。两种振动应力的故障率相差甚大，随机振动是扫频振动的33倍！几种应力的筛选度和故障率的比照见表2-3-6。表2-3-6 筛选应力效果比照项目恒温45恒温105交变805/min交变8020/min扫频 7g5min随机 rms7g5/minSS中等高D(1/h)H/次故障10042520.13(70.8min)影响寿命较大较大根本不影响不影响不影响不影响试验设备造价低低较低较高低较高当然，只有随机振动控制设备和与之配套的电磁振动台才能提供随机振动应力，其设备价格要比扫频振动台昂贵，但是为了提高筛选效率，最大

26、限度地消除早期故障，这个投入还是合算的。3.6.3 结论 a) 经典的老炼工艺与常规的恒温筛选对暴露产品的缺陷有一定的作用，但其筛选度和故障率数值很小，效率十分低，需要用相当长的时间才能达到消除早期失效(缺陷)的效果，因而可能会影响产品的使用寿命，有必要改用定量环境应力筛选方法。 b) 如果采用常温考机的方法作为产品出厂的依据，在几百小时内暴露不了一个缺陷，也说明不了产品的可靠性有什么样的水平，此法意义不大。 c) 定量环境应力筛选，需要采用温度循环应力，其效率已比恒定高温老炼筛选大为提高；就温度循环筛选而言，提高温变速率又是进一步提高筛选效率、减少筛选对产品使用寿命影响的最优方法，我们要为此

27、项筛选创造条件。 d) 定量环境应力筛选，需要采用振动应力，其中又可以采用扫频正弦振动或随机振动方式，但从筛选效率比照可知，随机振动方式是最优的应力。为了提高筛选效率、减少振动应力筛选对产品结构件寿命的影响，应创造条件采用随机振动方式。4. 环境应力筛选方案设计4.1 设计原如此环境应力筛选试验方案的设计原如此是：使筛选应力能激发出由于潜在设计缺陷、制造缺陷、元器件缺陷引起的故障；所施加的应力不必模拟产品规定的寿命剖面、任务剖面、环境剖面；在试验中，应模拟设计规定的各种工作模式。根据条件和是否必要来确定常规筛选或是定量筛选；根据不同阶段和产品的特征制订筛选方案。4.1.1 研制阶段的筛选研制阶

28、段一般按照经验得到的筛选方法进展常规筛选.，其主要作用是：一方面用于收集产品中可能存在的缺陷类型、数量与筛选方法效果等信息；另一方面，在可靠性增长和工程研制试验前进展了常规试验，可节省试验时间和资金；同时利于设计成熟快捷的研制试验方法。研制阶段的常规筛选要为生产阶段的定量筛选收集数据，为定量筛选作准备,设计定量筛选的大纲。4.1.2 生产阶段的筛选生产阶段的筛选主要是实施研制阶段设计的定量筛选大纲；并通过记录缺陷析出量和设计估计值的比拟，提出调整筛选和制造工艺的措施；参考结构和成熟度相似产品的定量筛选经验数据，完善或重新制订定量筛选大纲。这些经验数据主要有：故障率高的元器件和组件型号；故障率高

29、的产品供货方；元器件接收检验、测试和筛选的数据；以往筛选和测试的记录；可靠性增长试验记录；其它试验记录。4.2 设计依据4.2.1 依据产品缺陷确定筛选应力4.2.1.1 影响产品缺陷数量的因素如前所述，产品在设计和制造过程引入的缺陷主要是：设计缺陷、工艺缺陷、元器件缺陷。这些缺陷可归纳为两种类型，一是固有缺陷，它是存在于产品内部的缺陷，如材料缺陷、外购元器部件缺陷和设计缺陷；二是诱发缺陷，它是人们在生产或修理过程中引入的缺陷，如虚焊、连接不良等。这些缺陷的可视缺陷或用常规检测手段便可发现缺陷，可在生产中被排除；除此之外的缺陷便成为潜在缺陷，构成装备的早期故障根源。装备的早期故障一般要经过10

30、0小时以内的工作才能暴露，从而被排除。影响产品缺陷数量的主要因素有：产品的复杂程度。产品越复杂，包含的元器件类型和数量越多、接头类型和数量越多，如此设计和装焊的难度越大，设计制造中引入缺陷的可能性越大。同时也增加环境防护设计的难度。元器件质量水平。元器件质量水平是装备缺陷的主要来源，元器件质量水平包括质量等级和缺陷率指标两个方面，后者用PPM表示，一般生产厂要在说明书中表示。这是定量筛选方案设计的重要依据。组装密度。组装密度高，元器件排列拥挤，装焊操作难度大，易碰伤元器件，工作中散热条件差，易引入工艺缺陷和使缺陷加速扩大。设计和工艺成熟程度。设计和工艺的成熟程度的提高，可以大大地减少产品的设计

31、缺陷和工艺缺陷的种类与其数量。一般，在研制阶段，在结构设计定型之前，设计缺陷占主导地位；在生产阶段，设计缺陷减少，元器件缺陷和工艺缺陷比例增加，并且随着设计的改良和工艺的不断成熟，元器件缺陷将占主导地位。制造过程控制。制造过程控制主要是质量控制，包括采用先进的工艺质量控制标准和管理制度，管理控制得越严格，引入缺陷的机会就越少。4.2.1.2 环境应力对缺陷的影响现场环境应力是影响缺陷开展成故障的主要因素。任何缺陷开展成为故障都需要受到一定强度应力经过一定时间的作用，产品只有受到能产生等于或大于阈值的环境应力才能使某些缺陷变为故障；在某些温和的环境应力中，许多缺陷不会开展为故障。因此，只有选择能

32、暴露某些缺陷的应力作为筛选的条件，才能达到筛选的目的。常用的应力所能发现的典型缺陷见表2-4-1。据统计，温度应力可筛选出80的缺陷，振动应力可筛选出20左右的缺陷。表2-4-1 常用应力能发现的典型缺陷温度循环应力振动应力温度加振动应力元器件参数漂移电路板开路、短路粒子污染焊接缺陷压紧导线磨损硬件松脱晶体缺陷元器件安装不当混装元器件缺陷错用元器件邻近板摩擦紧固件问题密封失效相邻元器件短路元器件破损导线松脱电路板蚀刻缺陷导线束端头缺陷元器件粘接不良夹接不当机械性缺陷大质量元器件紧固不当4.2.2 根据缺陷分布确定筛选等级4.2.2.1 缺陷分布缺陷在装备研制生产的不同阶段的类别和分布是变化的，

33、因此在制定筛选大纲时要根据产品缺陷的分布确定筛选等级。在研制阶段，设计缺陷的比例最大；在生产初期，设计缺陷比例下降，工艺缺陷比例增加，占最大比例；在生产成熟阶段，设计和工艺趋于成熟，个人操作熟练，元器件缺陷比例变得最大，此时设计缺陷一般只占5以下，工艺缺陷在30以下，而元器件缺陷可占60以上。表2-4-2是不同装备在单元或模块组装等级进展环境应力筛选暴露的缺陷比例，反映了缺陷的分布情况，可作参考。表2-4-2 各种产品筛选的缺陷比例硬件类型筛选组装等级温度筛选故障%振动筛选故障%飞机发电机单元5545计算机电源单元8812航空设备计算机单元8713舰载计算机单元937接收处理机单元7129惯性

34、导航装置单元7723接收系统单元8713机载计算机模块8713控制指示器单元7827接收、发射机模块7426平均综合79214.2.2.2 筛选组装等级的选择为了保证根本消除装备的早期故障，最好在各个装配等级上都安排环境应力筛选。任何筛选都不可能代替高一装配等级上的筛选。而任何高一级的筛选虽然可以代替低一级的筛选，但筛选效率会降低，筛选本钱要提高。一般装备分成设备或系统级包括电缆和采购的单元、单元级包括采购的组件和布线、组件级包括印制电路板和布线、元器件等4个级别。据经验介绍，对元器件的筛选本钱需要15个货币单位的话，组件级筛选如此需要3050货币单位，单元级需要250500货币单位，设备或系

35、统级需要5001000货币单位。根据多数单位的情况来看，设计筛选取组件级与以下和取单元级与以上的较多。从综合的角度来看，组件级筛选的优点是：每检出一个缺陷的本钱低，尺寸小、不通电可进展成批筛选、效率高；组件的热惯性低，可进展更高温度变化率的筛选，筛选效率提高。其缺点是：由于不通电，难以检测性能，筛选寻找故障的效率低；如果改成通电筛选检测，需要专门设计设备，本钱高；不能筛选出该组装等级以上的组装引入的缺陷。单元级以上的筛选优点是：筛选过程易于安排通电监测，检测效率高；通常不用专门设计检测设备；单元中各组件的接口局部也得到筛选，能筛选各组件级引入的潜在缺陷。其缺点是：由于热惯性较大，温度变化速率不

36、能大，温度循环时间需要加长；单元级包含了各种元部件，温度变化X围较小，会降低筛选效率；每检出一个缺陷的本钱高。4.2.3 根据检测效率确定定量筛选目标检测效率是环境应力筛选工作的重要因素。给产品施加应力把潜在缺陷变成明显的故障后，能否准确定位和消除,就要取决于检测手段与其能力。当选择在较高组装等级进展筛选时，有可能利用较现成的测试系统或机内检测系统；在选择高组装级筛选时，能准确地模拟各种功能接口，也便于规定合理的验收准如此，容易实现高效率的检测，提高检测效率。表2-4-3列出了不同组装等级情况的检测效率，表2-4-4列出了各种测试系统的检测效率X围，可用于计算析出量的估计值。需要指出的是，综合

37、利用各种检测系统能提高检测效率。表2-4-3 不同组装等级情况的检测效率组装等级测试方式检测效率组件生产线工序间合格测试组件生产线电路测试组件高性能自动测试单元性能合格鉴定测试单元工厂检测测试单元最终验收测试系统在线性能监测测试系统工厂检测测试系统定购方最终验收测试表2-4-4 不同测试系统检测效率X围(%)电路类型负载板短路测试(LBS)电路分析仪(ICT)电路测试仪(ICT)功能板测试仪(FBT)数字式4565507585949098模拟式355570290968090混合式400600879483954.2.4 元器件缺陷率确实定确定环境应力筛选的定量目标必须确定产品的元器件缺陷率。可以

38、按以下方法确定元器件缺陷率。4.2.4.1 查表法国产元器件由G 299电子设备可靠性预计手册规定质量等级，当产品选定某个等级的元器件后，按照使用环境条件，可以从G/Z34电子产品定量环境应力筛选指南的附录A的相应表中查得不同质量等级、不同使用环境的各种电子元器件的缺陷率数据以PPM表示。进口元器件问题较复杂，我们不可能查得每一个国家每一种元器件的缺陷率，只能参考美国MILHDBK217E查出质量等级，然后从G/Z34中查出进口元器件的缺陷率。4.2.4.2 试验验证法当所用的元器件质量等级无法从手册中查得缺陷率数据时，可根据G/Z34电子产品定量环境应力筛选指南提供的方法对元器件进展抽样筛选

39、，处理试验数据获得该元器件的缺陷率。4.2.4.3 推算法当具备足够的失效率、缺陷率、环境系数、质量系数等数据时，可以按照以下步骤推算同类元器件在同种环境中其它质量等级下的缺陷率。4.2.4.3.1 根据质量系数推算同类元器件在同种环境中其它质量等级下的缺陷率 a) 根本信息某类元器件的缺陷率DP，包括在生产厂发现的缺陷率DPF和在现场使用中发现的缺陷率DPU，即DP=DPF+DPU，用PPM表示。缺陷率和质量等级的元器件的质量系数Q1和未知质量等级的缺陷率元器件的系数Q2。 b) 计算公式失效率与质量系数成正比的元器件，其缺陷率为 DPC=(Q2/ Q1 )DPO =(Q2/ Q1 )(Dp

40、fo+Dpuo) (2-4-1)式中： DPC要计算的缺陷率，PPM； DPO质量等级元器件的总缺陷率，PPM；Q1质量等级元器件的质量系数，可从有关标准中查得；Q2要计算其缺陷率的质量等级元器件的质量系数，可从有关标准查得； Dpfo质量等级元器件工厂缺陷率，PPM； Dpuo质量等级元器件现场使用中发现的缺陷率，PPM。 c) 示例：某进口晶体管的质量等级为JAN级，缺陷率为D PJAN=346PPM；求取：质量等级为JANTX进口晶体管的缺陷率。步骤：从有关标准查得：QJQJTX按式2-4-1计算 DP(JANTX)=(Q(JANTX)/ Q(JAN) )DP(JAN) =(0.24/1

41、.2)346 =69.2 (PPM) 4.2.4.3.2 根据环境系数推算同类元器件同一质量等级在其它环境中的缺陷率其一：失效率与环境系数成正比的元器件 a) 根本信息某质量等级的元器件在给定环境中的缺陷率DP，包括在生产中发现的缺陷率DPf和现场使用环境中的缺陷率DPU，在生产中发现的缺陷率实际上就是地面固定环境GF的缺陷率。给定环境的相应环境系数E1。求取缺陷率所处环境相应的环境系数E2。 b) 计算公式 DPC=Dpf+(E2/ E1 )Dpu (2-4-2) 式中：DPC要计算的缺陷率，PPM； Dpf的在工厂的缺陷率，PPM； Dpu的在使用现场的缺陷率，PPM；E1缺陷率所在环境的

42、环境系数，可从有关标准查得；E2要计算的缺陷率所在环境的环境系数，可从有关标准查得。 c) 示例：进口的质量等级为JAN的晶体管在地面固定环境GF中的缺陷率为346PPM，其中工厂缺陷率为60PPM，使用环境缺陷率为286PPM；求取：该等级晶体管在地面移动环境(GM)中的缺陷率。步骤：从有关标准查得两种环境的环境系数：E1=E(GF)E2=E(GM)=18应用公式(2-4-2)计算: DPC=Dpf+(E2/ E1 )Dpu=60+(18/5.3)286 =60+971 =1031 (PPM)其二：失效率与环境系数不成正比的元器件，以半导体集成电路为主 a) 根本信息：半导体集成电路的质量等

43、级；半导体集成电路的总量；半导体集成电路工厂缺陷率，PPM；半导体集成电路现场工作小时数；半导体集成电路现场失效率。 b) 确定失效率模型半导体集成电路失效模型为：P=QC1TVPT(C2C3)EL (2-4-3)式中：P工作失效率；Q质量系数；T温度应力系数；V电应力系数；E环境系数； C1，C2电路复杂度失效率； C3封装复杂度失效率；L器材成熟系数；PT可编程工艺系数，除可编程序的只读存储器外，其余为一。可根据半导体集成电路的质量系数和有关技术，确定E、Q、T、V、PT和C1，把它们和的现场失效率数据一并代入式(2-4-3)，可求得C1TVPT和C2C3的值，并分别令其为K1、K2，式(

44、2-4-3)简化为：P=Q(K1K2E)L (2-4-4)式中：K1=C1TVTP K2=C2+C3 c) 导出现场缺陷率计算公式现场缺陷率等于现场失效率与现场工作时间的乘积除以元器件总数。从根本信息可得到现场工作时间和元器件总数，再利用式(2-4-3)求得的失效率数据,就可导出缺陷率计算公式： DPU= (2-4-5)式中：DPU现场缺陷率；统计得到的工厂缺陷率；现场工作总时间；统计的元器件总数。令K3=T/N，合并式(2-4-3)、(2-4-4)、(2-4-5)得： DPU=DPf+Dpu =Dpf+K3Q(K1K2E)L (2-4-6)式中：DPU要计算的缺陷率； Dpf统计得到的工厂缺

45、陷率；Q质量系数；E环境系数；L器材成熟系数； K1、K2、K3根据统计数据导出的常数。 d) 示例：进口集成电路的质量等级为C1，统计的集成电路数量N为624087个，统计的工厂缺陷率 Dpf为160PPM，现场总工作时间T为8580106h，现场失效率为106/h；求取：该质量等级集成电路的失效率计算公式和缺陷率计算公式。步骤：根据有关标准确定某些值为：Q=13.0 C1=0.0053 T=0.032 VPT=1.0 E=4.0 L代入式(2-4-3)：P=QC1TVPT(C2C3)EL 有：1.0)+(C2+C3如此：C2+C3=K2 C1TVTP=K1将上述数据代入式(2-4-4)得到

46、失效率计算公式：P=QE)现场缺陷率计算公式为： DPU= =8580106/624087 =QE) =QE)10-6 =QE) (PPM)总缺陷率计算公式为： DPU=DPf+Dpu=160QE) (PPM)用此公式可以推算其它质量等级和环境下元器件的缺陷率。4.2.4.3 根据某元器件的缺陷率和失效率求取另一失效率的元器件缺陷率此方法的前提是：假设失效率类似的元器件,其缺陷率也类似。 a) 根本信息要计算的元器件的失效率1；缺陷率为DPO的元器件的失效率； b) 计算公式 DPC=DPO/ 1 (2-4-7)式中：DPC要求解的缺陷率，PPM； DPO的缺陷率，PPM；1缺陷率的元器件的失

47、效率；2要求解缺陷率的元器件的失效率。此式求解的缺陷率是指某质量等级的该类元器件在某种环境条件下的缺陷率，如果要求解的元器件是在不同环境条件和不同质量等级的缺陷率，如此可用本节相应的其它方法求解。其总关系式为： DPC=(Q2/Q1 )DPU(E2/E1)+DPf (2-4-8)式中：DPC要计算的缺陷率，PPM；Q1缺陷率的元器件的质量系数；Q2 要求取缺陷率的元器件的质量系数； DPU的现场缺陷率，PPM；E1缺陷率的元器件的环境系数；E2要求取缺陷率的元器件的环境系数； DPf的工厂中缺陷率，PPM。 c) 示例：质量为M等级的进口元器件在地面固定环境中的失效率为10-6；C-1级进口集

48、成电路在地面固定环境的失效率为10-6，总缺陷率为，工厂缺陷率为160PPM。求取：质量等级为M的电阻器在地面固定环境中的缺陷率。步骤： DPC=DPO/ 110-610-610-6) =(160+343.2)10-6(0.00207/0.5123) =6.46+13.87 (PPM) =20.33 (PPM)求取其它质量等级和环境中的缺陷率公式为： DPC=(Q2/Q1 (E2/E1)+6.46 PPM4.2.5 依据残留缺陷密度的相关性4.2.5.1 残留缺陷密度与平均故障间隔时间的关系据统计，目前良好的元器件的平均失效率在10-6/h至10-7/h之间，现场环境中由潜在缺陷造成的故障率合

49、理X围是大于10-3/h。假定装备交付时故障率比规定的故障率0大10是可承受的，且假定潜在缺陷造成的故障率D为10-3/h，根据G/Z34提供的故障率与残留缺陷密度的关系式： DR=1000 (2-4-9) DR=100/MTBF (2-4-10)式中： DR残留在产品中的缺陷密度；0产品规定的故障率，1/h。根据该标准提供的关系式计算得的缺陷密度与MTBF的关系数据见表2-4-5。表 2-4-5 残留缺陷密度与MTBF的关系(前提条件：D为10-3/h，交付时允许故障率比规定的高0.1)故障率0MTBF1010020050010002000500010000100000DR1014.2.5.2 残留缺陷密度与筛选成品率的关系筛选成品率是指提交验收时产品中可筛选的潜在缺陷数为零的概率。其关系式为： Y=eDR (2-4-11)式中：Y筛选成品率； DR残留缺陷密度。置信度不同，筛选成品率的下限YL也不同，它是缺陷故障率与无故障试验时间的乘积、缺陷故障率与规定故障率的比值的函数，表2-4-6列出了置信度为90%的筛选成品率下限数据，其它参数的数据可参阅G/Z34。表2-4-6 置信度为90%的筛选成品率下限值(D/0=0.1-1.0)故障 (失效) 率比值D/0DT