运算放大器主要参数测试方法说明

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1、运算放大器主要参数测试方法说明1 （共10页）-本页仅作为文档封面，使用时请直接删除即可-内页可以根据需求调整合适字体及大小-通用运算放大器主要参数测试方法说明1. 运算放大器测试方法基本原理采用由辅助放大器(A)与被测器件(DUT)构成闭合环路的方法进行测 试，基本测试原理图如图1所示。图1辅助放大器应满足下列要求：开环增益大于60dB；(2) 输入失调电流和输入偏置电流应很小；(3) 动态范围足够大。 环路元件满足下列要求：(1) 满足下列表达式Ri IbVVosRVRidR Ib VosRosVRfVRidR1 = R2R1RL式中：Ib：被测器件的输入偏置电流；Vos:被测器件的输入失

2、调电压； Rid :被测器件的开环差模输入电阻； Ros :辅助放大器的开环输出电阻；(2) Rf/ Ri值决定了测试精度，但须保证辅助放大器在线性区工作。2. 运算放大器测试适配器SP-3160III数/模混合集成电路测试系统提供的运算放大器测试适配器便是 根据上述基本原理设计而成。它由运放测试适配板及一系列测试适配卡组成， 可以完成通用单运放、双运放、四运放及电压比较器的测试。运算放大器适配 器原理图如附图所示。3 测试参数以OP-77G为例，通用运算放大器主要技术规范见下表。E LECTR PCA L CH ARA CTE R l$TI CS st Vg = 1SV,= 25&C. uD

3、t h 前协谄 & fueled.PARAMETERSYMBOLCQMDiriDNSIIJNOF-TTE TTPOP-T7KMNOP-77G.HUNITSR1AXMINTTFMAXTTFMAXinput 0h*&K7口 a!&520一豹-ifCO-vVBini? lily恤Fftigg* 1:丄0.4&.4卅MbliAipV1! Oll购1.51X33.60.5nA1 n p ul Bits Gur4lq-031 S7*0砒凹1 S丁目I0PU1时列怫1區6np-pO.lHf CO 1XzD.35C.B一D.3GD65D謫Ll.ffiInpul Mdm 曲 tupif Dcnl ly临=Iff

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8、测试方法:测试原理如图2所示。图2（1）在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中; 电源端施加规定的电压；开关“K4”置地（或规定的参考电压）；在辅助放大器A的输出端测得电压Vlo；计算公式：Vos=(Ri/(Ri+Rf)*VLo。313编程举例：（测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160）-测试名称:vos- 测量方式：VosBias 1= VClamp1=Bias 2= VClamp2=测量高限=V测量低限=V测量延迟：50mS箝位延迟：50mSSKon=0,4,11,12,13,19,23,27电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/

9、测试通道TP1测量单元DCVDCV 量程:+/-2V参数名称：输入失调电流los (Input Offset Current)。参数定义：使输出电压为零(或规定值)时，流入两输入端的电流之差。 测试方法：测试原理如图3所示。ftp(1) 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2) 电源端施加规定的电压；(3) 开关K4置“地”(或规定的参考电压)；(4) 开关K1、K2闭合，在辅助放大器A的输出端测得电压VL0；(5) 开关K1、K2断开，在辅助放大器A的输出端测得电压VL1；(6) 计算公式：los=(Ri/(Ri+Rf)*(VL1-VL0)/R)。323编程举例：(测试对象：OP

10、-77G,测试系统：SP3160) 测试条件详见下一参数。参数名称：输入偏置电流lb (Input Bias Current)。参数定义：使输出电压为零(或规定值)时，流入两输入端电流的平均值。 测试方法：测试原理如图4所示。cmKi(1)在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；电源端施加规定的电压；开关K4置“地”(或规定的参考电压)；开关K1断开、K2闭合，在辅助放大器A的输出端测得电压VL2；(5) 开关K1闭合、K2断开，在辅助放大器A的输出端测得电压VL3；(6) 计算公式：lb=(Ri/(Ri+Rf)*(VL2-VL3)/2R)。编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：

11、SP3160)-测试名称:Ib/Ios- 测量方式:Ib/IosBias 1= VClamp1=Bias 2= VClamp2=测量高限=nA 测量低限=nA测量延迟：10mS 箝位延迟：10mSSKo n=0,4,11,12,13,19,23,27电压基准源2电压=0V 电压基准源2量程+/ 电压基准源3电压=0V 电压基准源3量程+/ 测试通道TP1 测量单元DCVDCV 量程:+/-2V参数名称：开环电压增益Avo (Large Signal Voltage Gain)。参数定义：器件开环时，输出电压变化与差模输入电压变化之比。 测试方法：测试原理如图5所示。(1)在规定的环境温度下，将

12、被测器件接入测试系统中；电源端施加规定的电压；开关K4置“1”，在辅助放大器A的输出端测得电压VL4； 开关K4置“2”，在辅助放大器A的输出端测得电压VL5； 计算公式：Avo=(Vref+-Vref_)/(VL4-Vl5)*(Ri+Rf)/Ri)或+Avo=20lg(Vref+-VrefJ/|(VL4-Vl5)|)*(Ri+Rf)/Ri)(dB)。编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160)-测试名称:Avo-测量方式:Op_AvoBias 1= VClamp1=Bias 2= VClamp2=测量高限= dB测量低限=126 dB测量延迟：10mS箝位延迟：10mSSKo

13、n=0,4,11,12,13,17,19,23,27电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/电压基准源3电压=-5_5V 电压基准源3量程+/-10V 测试通道 TP1测量单元 DCVDCV 量 程 :+/-2V参数名称：共模抑制比 CMRR (Common-Mode Rejection Ratio)。 参数定义：差模电压增益与共模电压增益之比。测试方法：测试原理如图6所示。r + 必仏：图6(1)在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；电源端施加规定的电压；(3) 输入端施加规定的直流共模信号电压Vic+，在辅助放大器A的输出端测得 电压VL6；输入端施加规定的直流共模信号电压Vic

14、-，在辅助放大器A的输出端测得 电压VL7；计算公式：CMRR=(Vic+-VicJ/(VL6-VL7)*(Ri+Rf)/Ri)或*CMRR=20lg(Vic+-VicJ/(VL6-VL7)*(Ri+Rf)/Ri)(dB)。编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160)-测试名称:CMRR- 测量方式:CmrrBias 1=-5_-25 VClamp1=Bias 2=25_5 VClamp2=测量高限= dB测量低限=116 dB测量延迟：10mS箝位延迟 :10mSSKon=0,4,11,12,13,18,19,23,27电压基准源2电压=0V 电压基准源2量程+/ 电压基准源3电压=-5_5V 电压基准源3量程+/-10V 测试通道 TP1 测量单元 DCVDCV 量 程 :+/-2V10