存储器的可靠性测试方法

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1、19）中华人民共和国国家知识产权局（12 ）发明专利申请（10）申请公布号CN102903395A（43）申请公布日2013.01.30（21）申请号 CN201210403218.2（22）申请日 2012.10.19（71）申请人 上海宏力半导体制造有限公司地址201203 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路1399号（72）发明人 钱亮（74）专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司代理人 骆苏华（51）Int.CI权利要求说明书 说明书 幅图（54）发明名称存储器的可靠性测试方法（57）摘要本发明提供一种存储器的可靠性测试方 法，包括：对存储器进行第一测试，判断第一测 试结果是

2、否大于或等于第一判断标准；如果第一 测试结果大于或等于第一判断标准，对存储器设 置第一标识；如果第一测试结果小于第一判断标 准，对存储器设置第二标识；对存储器进行老化 处理；对经过老化处理的存储器进行第二测试， 判断第二测试结果是否大于或等于第二判断标 准，第二判断标准低于第一判断标准；如果第二 测试结果大于或等于第二判断标准，则存储器为 良品；如果第二测试结果小于第二判断标准，判 断存储器的标识类型，如果存储器设置的是第一 标识，则存储器为差品；如果存储器设置的第二 标识，则存储器为良品。本发明对数据保持力的 判断具有较高的准确度。法律状态法律状态公告日2013-01-302014-05-072014-07-302016-09-28法律状态信息 公开 专利申请权、专利权的转移 实质审查的生效 授权法律状态公开 专利申请权、专利权的转移 实质审查的生效授权权利要求说明书存储器的可靠性测试方法的权利要求说明书内容是请下载后查看说明书存储器的可靠性测试方法的说明书内容是请下载后查看