阵列感应资料处理培训学习教案

会计学1第一页，共58页。第1页/共58页第二页，共58页。12345阵列感应(gnyng)（MIT5530）仪器67电源(dinyun)带通滤波前置(qin zh)放大线圈系压力平衡发射驱动数据采集处理与控制阵列感应（MIT5530）配套100KBPS遥测处理软件刻度装置1.1 MIT5530阵列感应仪器总体组成阵列感应仪器总体组成第2页/共58页第三页，共58页。MIT5530阵列感应阵列感应(gnyng)仪器线圈系仪器线圈系结构结构1.2 MIT5530阵列感应阵列感应(gnyng)线圈线圈系结构系结构第3页/共58页第四页，共58页。1.2 MIT5530阵列感应阵列感应(gnyng)线圈系结构线圈系结构第4页/共58页第五页，共58页。MIT5530原始测量原始测量(cling)信号信号1.3 MIT5530阵列阵列(zhn li)感应测量信感应测量信号号第5页/共58页第六页，共58页。1.3 MIT阵列感应响应阵列感应响应(xingyng)特性特性第6页/共58页第七页，共58页。第7页/共58页第八页，共58页。第8页/共58页第九页，共58页。第9页/共58页第十页，共58页。第10页/共58页第十一页，共58页。第11页/共58页第十二页，共58页。第12页/共58页第十三页，共58页。1.4 MIT5530阵列阵列(zhn li)感应技术指感应技术指标标第13页/共58页第十四页，共58页。1.5 MIT5530阵列感应阵列感应(gnyng)仪器适仪器适应范围应范围MIT55305530短阵列测量误差较大nMIT55305530最佳工作范围：Rt 在0.2-100m， Rt/Rm应在白色区域内。nMIT5530阵列感应仪器适用最佳井眼条件：钻头直径在6”（150cm）- 12”(300cm)，当井眼尺寸大于12”时，合成的误差可能较大。MIT55305530所有阵列测量误差较大第14页/共58页第十五页，共58页。1.6 MIT5530阵列阵列(zhn li)感应感应仪器优点仪器优点第15页/共58页第十六页，共58页。第16页/共58页第十七页，共58页。v监控曲线监控曲线(qxin)QC(qxin)QC判定判定v测井曲线测井曲线(qxin)(qxin)合理性判定合理性判定 QCQC曲线判定：曲线判定：MIT5530MIT5530仪器仪器(yq)(yq)质量监控曲线质量监控曲线QCQC数值变化范围应小于数值变化范围应小于1010。且。且QCQC曲线无突变。否则需重新加电测井。曲线无突变。否则需重新加电测井。 原始曲线合理性判定：原始曲线合理性判定： MIT5530 MIT5530原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型地原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型地层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚层进行曲线情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚层进行曲线关系分析，如果关系分析，如果(rgu)(rgu)与理论图版相符，即仪器工作状态正常。与理论图版相符，即仪器工作状态正常。第17页/共58页第十八页，共58页。mspfLMIT5530均质地层(dcng)响应第18页/共58页第十九页，共58页。第19页/共58页第二十页，共58页。第20页/共58页第二十一页，共58页。第21页/共58页第二十二页，共58页。第22页/共58页第二十三页，共58页。MIT5530常见问题：原始曲线缺失字符未安装间隔器仪器(yq)预热不足刻度文件加载错误测井遇卡硬件故障第23页/共58页第二十四页，共58页。3.1 MIT5530阵列感应曲线(qxin)命名规范第24页/共58页第二十五页，共58页。3.2 MIT5530阵列感应不同扶正(f zhn)器方案测试第25页/共58页第二十六页，共58页。3.2 MIT5530阵列感应(gnyng)不同扶正器对短阵列影响第26页/共58页第二十七页，共58页。第27页/共58页第二十八页，共58页。第28页/共58页第二十九页，共58页。 MIT5530测井影响因素: 温度影响 井眼影响 趋肤效应(q f xio yn) 围岩影响第29页/共58页第三十页，共58页。第30页/共58页第三十一页，共58页。4.2 趋肤效应趋肤效应(q f xio yn)影响影响0.010.11101000.010.1110100地层电导率（S/m）视电导率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfL第31页/共58页第三十二页，共58页。偏心度偏心度d dh h井眼直径井眼直径R RF FMudMudR RM M第32页/共58页第三十三页，共58页。深度深度(shnd)=0.25m, (shnd)=0.25m, 分辨分辨率率=0.3m=0.3m深度深度=0.50m, =0.50m, 分辨率分辨率=0.6m=0.6m深度深度=0.75m, =0.75m, 分辨率分辨率=1.2m=1.2m深度深度=1.5m, =1.5m, 分辨率分辨率=1.5m=1.5m深度深度=2.25, =2.25, 分辨率分辨率=1.8m=1.8m第33页/共58页第三十四页，共58页。第34页/共58页第三十五页，共58页。4.5 MIT5530预处理预处理第35页/共58页第三十六页，共58页。4.6 MIT5530井眼校正井眼校正(jiozhng)第36页/共58页第三十七页，共58页。(hchng)，不同探测深度合成(hchng)出相应分辨率的曲线。其次是分辨率匹配，实现不同探测深度具有同样的分辨率的测井曲线。n测量信号的探测深度与分辨率之间是矛盾的，探测深度深必定分辨率低，探测深度浅则分辨率高。4.7 MIT5530合成合成(hchng)处理处理第37页/共58页第三十八页，共58页。、T60、T90第38页/共58页第三十九页，共58页。n输出数据：n一英尺匹配 AO10、AO20、AO30、AO60、AO90n二英尺匹配 AT10、AT20、AT30、AT60、AT90n四英尺匹配 AF10、AF20、AF30、AF60、AF90第39页/共58页第四十页，共58页。4.8 MIT5530反演反演(fn yn)第40页/共58页第四十一页，共58页。第41页/共58页第四十二页，共58页。处理处理(chl)(chl)环节质量控制环节质量控制 处理处理(chl)(chl)环节质量控制主要是判定处理环节质量控制主要是判定处理(chl)(chl)过程过程中参数选取是否合适，井段的选择应以井眼相对规则的大段中参数选取是否合适，井段的选择应以井眼相对规则的大段泥岩段作为判断点，结合渗透层曲线进行综合判断；处理泥岩段作为判断点，结合渗透层曲线进行综合判断；处理(chl)(chl)效果可以通过井眼校正曲线和真分辨率聚焦曲线来效果可以通过井眼校正曲线和真分辨率聚焦曲线来综合判定。综合判定。第42页/共58页第四十三页，共58页。图20（正演模拟无侵地层(dcng)）合格的处理效果 第43页/共58页第四十四页，共58页。图21（正演模拟无侵地层(dcng)）过校正效果图第44页/共58页第四十五页，共58页。（正演模拟无侵地层(dcng)）欠校正效果图 第45页/共58页第四十六页，共58页。（吉林红井）合格(hg)的处理效果第46页/共58页第四十七页，共58页。（吉林红井）过欠校正(jiozhng)处理效果 第47页/共58页第四十八页，共58页。 在井眼相对规则的大段(d dun)泥岩段，合格的井眼校正曲线经过真分辨率聚焦，其聚焦曲线关系应与其分辨率关系相一致。即合成浅探测曲线分辨率高，合成深探测分辨率低。在非渗透层即出现短阵列在长阵列左右摆动的现象。这是由于其分辨率差异导致。 井眼相对规则的大段(d dun)泥岩段，井眼校正过校正或欠校正则在其合成曲线中会出现短阵列在长阵列左侧或右侧的现象。此现象为校正不当，需要适当调整处理参数。 第48页/共58页第四十九页，共58页。MIT5530匹配曲线关系：匹配曲线关系：MIT5530匹配曲线在在典型匹配曲线在在典型(dinxng)渗透层（低阻环带除外渗透层（低阻环带除外）情况下应满足：）情况下应满足：当当Rmf Rw 时：时： AX10=AX20=AX30=AX60 Rw时：时： AX10=AX20=AX30=AX60=AX90在非渗透层在非渗透层MIT5530匹配曲线应相对重合匹配曲线应相对重合 第49页/共58页第五十页，共58页。纵向分辨率适用纵向分辨率适用(shyng)情况情况第50页/共58页第五十一页，共58页。第51页/共58页第五十二页，共58页。MIT5530阵列感应(gnyng)模拟井处理地层：5欧姆(u m)米围岩：20欧姆(u m)米泥浆：1.5欧姆(u m)米井径：8in第52页/共58页第五十三页，共58页。阵列(zhn li)感应新杨井综合解释图第53页/共58页第五十四页，共58页。第54页/共58页第五十五页，共58页。第55页/共58页第五十六页，共58页。第56页/共58页第五十七页，共58页。第57页/共58页第五十八页，共58页。