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1、文件编号文件名称版本发行日期CPK页次执行日期页版、目的:制定CPK教育训练相关资料，并整理成册作为部门技术资料，作为品保部在职员工及新进员工教育训练之依据，及其它相关单位职员工教育训练时作参考。二、范围：适用于公司品保部及各相关部门。三、权责：3.1品保部：负责相关资料的收集、整理及修正、资料的维护。3.2各相关单位：资料的使用及维护。四、内容：4.1X-R管制图4.1.1功能：可以让我们知道制程上的差异，其中有些参数亦可应用在“制程能力”的计算式中.方便又容易.4.1.2条件:a.先建立制程用之管制图.b.将制程变得稳定.c.然后再评估制程的能力4.1.3作法步骤:A.收集足够资料.最好能
2、得到制程全部变化数据.第一阶段需50个读值.第二阶段需25个读值.第三阶段需25个读值.B.依数据与公式计算出自然管制界限与相关4.1.4 X管制图公式：自然管制上限（UCL）=CL+A2xR.自然管制下限（LCL）=CL-A2xR.注:CL:所有数据之平均值（又称为doublebarX）.A2:参数值须查表.值之大小依样品数目决定.R:全部全距（R）的平均值.R:一组数据中最大值减最小值所得之值.又称为全距.4.1.5 R管制图公式：自然管制上限（UCL）=D4xR.自然管制下限（LCL）=D3xR注:D3,D4:参数值须查表.值之大小依样品数目决定.R的值是R管制图的中心值.4.1.6功能
3、:可显示出生产制程的能力是否达到可生产状况.a. 一般而言CP1.33时，该制程属平稳可生产.b. 若CPV1.33时，该制程属不平稳,需小心管制.c. CP值愈大显示制程的制造能力愈稳定.CP值愈小则显示制程的制造能力愈不足需要作许多的改善.4.2制程能力公式：4.2.1制程能力值CP=（规格上限值-规格下限值）/6（T（制程分布值）（T（Sigama）=R/d2=SR:可采用X-R管制图的“全距（R）的平均值”.d2:参数值须查表.值之大小依样品数目决定.本公式适用于规格有设定上下限值者（max/min值）.4.2.2制程能力值CPK（U）=（规格上限值-实际平均值”3（T（制程分布值）本
4、公式适用于规格只有设定上限值（max值）.4.2.3制程能力值CPK（L）=（实际平均值-规格下限值”3（T（制程分布值）本公式适用于规格只有设定下限值（min值）.文件编号文件名称版本发行日期CPK页次执行日期页版4.3Z分布:431功能：可提供了解制程的变异与不稳定趋势，预先提出改善预防.Z=(规格值-全部数据的平均值(X)/(T(Sigama)以上X,c值与X-R管制图之值相同4.3.2请参阅下页例子说明.Z分布例子说明:假设:X=0.8312R=0.01435d2=2.3264.3.2.1步骤1.用X-c管制图或X-R管制图找出自然管制上下管制界限.c=R/d2=0.01435/2.3
5、26=0.00617.UCL=X+3c=0.8312+3x0.00617=0.8497.LCL=X-3c=0.8312-3x0.00617=0.8127.4.3.2.2步骤2.计算出UCL/LCL超出规格上下限所占之比率Z(UCL)=(规格上限-0.8312)/c=(0.84-0.8312)/0.00617=1.426.由Z分布表查知1.426所占面积约0.423=42.3%.超出规格上限的不良比率：50%-42.3%=7.7%,Z(LCL)=(规格下限-0.8312)/c=(0.82-0.8312)/0.00617=-1.8152,由Z分布表查知1.8152所占面积约0.4653=46.53
6、%,超出规格下限的不良比率：50%-46.53%=3.47%4.3.2.3步骤3.将超出规格上下限的不良比率相加即等于制程不良率,制程不良率=7.7%+3.47%=11.17%(估计值)4.3.2.4制程不良趋势图製程不良趨勢圖規格上限規格下限3.47%=0.8246.53%LCL=0.812742.3%=0.847.7%UCL=0.8491X=0.8312厂規格上限(T(T(T(T規規格格上下限限x3er3r文件名称6r版本页次页版文件编号製程不良趨勢圖发行日期执行日期CPKUQL此圖表示，製程有變異存在，整個分佈圖往規格上限偏移，致使UCL超岀規格上限，以致有不良會產生製程不良趨勢圖製程不
7、良趨勢圖xUCL及LCL都在規格上下限之內,且距離規格上下限皆有一個3以上，此種狀況正表示製程能力很好，且非常穩定.規格UCL上限LCLUCLLCL規格下限規格下限6r文件编号文件名称版本发行日期CPK页次执行日期页版L=ML=(T(T（單邊）不良率=0.135%（雙邊）不良率=0.27%=2700PPM製程不良趨勢圖1(T(T（單邊）不良率=32PPM=31.7PPM（雙邊）不良率=64PPMExposureis32PPM文件编号文件名称版本发行日期CPK页次执行日期页版製程不良趨勢圖日本常用規格下限L=規格下限LCLUCL(T(TLCLML=10c2（單邊）不良率=0.3PPM（雙邊）不良率=0.6PPM製程不良趨勢圖UCL(單邊)不良率=1pt/billion(雙邊)不良率=2pt/billion規格上限規格上限(T(T
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