SDH电接口全参数测试

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1、wordSDH电接口参数测试1、比特率及容差、接口码型A、指标要求：比特率即二进制信号速率，定义为每单位时间传送的比特数。实际数字信号的比特率和规定的标称比特率多少有点差别，ITU-T规定了这种差别允许的围，即容差。见下表1。输入口、输出口都应满足表1要求，输入口满足指能适应相应容差围的任何实际比特率，其它参数仍应满足指标；输出口满足指无论上游是何设备，数字信号从输出口送出，其实际比特率应在表1给出的容差之。接口名称标称比特率（或时钟频率KHz)(Kbits/s) 容差（或频率容差Hz）接口码型ppm(bits/s) PDH 1次群2048 50 102.4 HDB3 2次群8448 30 2

2、53.4 3次群34368 20 687.4 4次群139264 15 2089 CMI SDH STM-1e 155520 20 3110.4 / 表1：比特率及容差、接口码型指标要求B、测试基本框图：图1：比特率及容差测试框图C、测试步骤：（1）、输入口比特率及容差：-按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行，确认SDH测试设备检测不到任何误码；-减少SDH测试设备的输出信号比特率，直到SDH测试设备刚好检测到任何误码的临界点，记下此时的频偏值（如到测试设备频偏设置的极限仍无误码，则记下此极限值）；-增加SDH测试设备的输出信号比特率，重复上一步骤；

3、-记录下的频偏值必须超过表1中的容差限值；-更换其它输入口重复以上测试步骤。（2）、输出口数字信号比特率： -按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行； - 确认SDH测试设备的输出信号比特率无频偏，测试此时接收到的信号比特率频偏，其值应在表1所示容差限之； -更换其它输入口重复以上测试步骤。2、出口信号波形A、指标要求：实际工作条件下，输出口通过电缆连接在数字配线架（DDF）上，由于电缆长度和阻抗等不确定因素，无法规实际工作的输出口信号波形参数指标。现在的输出口信号波形各参数都是在输出口终结规定的测试负载阻抗条件下所规定的指标，各级数字接口的输出口指标

4、应符合表2的要求。比特率（Kbit/s）2048 8448 34368 139264 155520 脉冲形状矩形，应满足相应的脉冲模板负载阻抗75W75W75W75W75W传号（脉冲）峰值电压2.37V 2.37V 1.0V 峰-峰电压10.1V 峰-峰电压10.1V 空号（无脉冲）峰值电压00.237V 00.237V 00.1V / / 标称脉冲宽度244ns 59ns 14.55ns 升时间2ns 上升时间2ns B、试用滤波器和探头要求：测试用滤波器的带宽要能覆盖被测信号，探头阻抗要高，电容要小，具体要求见表3。接口标称比特率 （Kbit/s）Y轴下降3dB上限频率 (MHz) 固定阻

5、抗（低阻输入）(W) 低电容高阻抗探头 耦合方式 工作频段(MHz) 输入阻抗（输入电阻及并联电容） 2048 60 / 0 60 10MW,20pf 直流(DC) 8448 150 50 0 150 5kW , 20pf 直流(DC) 34368 350 50 0 350 5kW, 20pf 直流(DC) 139264 500 50 0 500 5kW, 1.0pf 交流(AC)耦合电容 0.01uf 155520 500 50 0 500 5kW, 1.0pf 交流(AC)耦合电容 0.01uf 2048kHz同步信号接口 60 / 0 60 10MW,20pf 直流(DC) 表3：接口测

6、试用滤波器和探头要求C、测试基本框图：D、测试步骤：-按表3选择示波器和探头，按测试框图接好电路；-将测试负载阻抗（75W电阻，误差小于0.5%）或75W/50W阻抗变换器（若不用低电容高阻抗探头时）的75W侧接到待测的输出口上；-先校准零基线，方法是不给示波器送信号（输入端短路），将水平扫描线调到屏幕适当的位置（模板的标称0伏线）处；-将被测信号送入示波器，读出表2中各参数，应满足相应的指标；-对于139264和155520Kbit/s输出口，注意示波器用交流耦合（AC）方式。CMI码的幅度中线和示波器的零基线之差应不超过0.05V。3、阻抗和反射衰减A、指标要求：输入口或输出口的实际阻抗与

7、标称阻抗的差异用反射衰减规定，它表示接口失配时反射造成的能量损失，又称回波损耗。相应各数字接口的反射衰减指标见下表4：接口比特率(Kbit/s) 测试频率围(KHz) 标称阻抗反射衰减2048输入口51.2 102.4102.4 2048 2048 3072 75W或120W75W或120W75W或120W 12dB 18dB 14dB 2048KHz同步信号输入口2048 75W或120W 15dB 8448输入口211.2 422.4422.4 8448 8448 12672 75W75W75W 12dB 18dB 14dB 34368输入口859.2 1718.41718.4 34368

8、 34368 51552 75W75W75W 12dB 18dB 14dB 139264输入口和输出口7000 210000 75W 15dB 155520输入口和输出口8000 240000 75W 15dB 表4：接口阻抗特性指标B、基本测试框图：图3：阻抗和反射衰减测试配置C、测试步骤：-按图3接好电路，振荡器的阻抗按反射桥的要求设置，输出电平0dB，频率在表4相应的围。电平表阻抗按反射桥的要求设置；-先将待测接口与反射桥完全断开，此时电平表指示电平为P1（dB）；-将待测接口接在反射桥上，此时电平表指示电平为P2（dB）；-反射衰减br=P1 - P2，其值应满足表4的要求；-改变频率

9、，重复以上步骤，可得到整个频率围的br。注意：连接被测接口和反射桥的电缆要尽量短。YB536-92规定，2048Kbit/s及更低速率接口测试所用电缆在10MHz的衰减不得超过0.5dB，8448Kbit/s及更高速率接口测试所用电缆在200MHz的衰减不得超过0.2dB，这样才能使测得的结果准确。4、输入口允许衰减和抗干扰能力A、指标要求：连接输出口和输入口的电缆和数字配线架会引入衰减，对于减弱的信号，输入口应能正确接收，输入口的这种特性用允许的衰减围表示。另外，由于数字配线架和输出口阻抗不均匀性，在接口上可能呈现信号反射，反射信号对有用信号形成干扰，因此必须保证输入口有足够的抗干扰能力。其

10、指标要求见下表5：比特率允许衰减抗干扰能力标称值(Kbit/s) 容差(bit/s) 测试频率(kHz) 衰减围(dB) 信号/干扰(dB) 干扰源(PRBS) 2048 102.4 1024 0 6 18 215 - 1 8448 253.4 4224 0 6 20 215 - 1 34368 687.4 17148 0 12 20 223 - 1 139264 2089 70000 0 12 / 155520 3110.4 78000 0 12.7 2048kHz同步信号接口/ 2048 0 6 B、测试基本框图：见下图4。C、测试步骤：-按图4接好电路，仪表参数按表5设置；-调整干扰支路

11、衰减器，使信号/干扰比等于表5所要求的数值；-SDH测试设备设置相应的速率、码型，连接电缆衰减接近0dB时，SDH测试设备应检测不到误码；-在SDH测试设备速率有偏差（围不超过表5所给容差），连接电缆衰减增大（围不超过表5所给衰减围）的不利条件下，SDH测试设备仍应检测不到误码。图4：输入口允许衰减和抗干扰能力测试配置5、过压保护要求通过比较输入口经标准闪电脉冲冲击前后各项指标的测试结果，检验闪电脉冲冲击后输入口是否损坏。由于该项试验带有一定的破坏性，一般作为抽测项目，维护测试中一般不作要求，此出不再繁述。6、输入口容许抖动容限输入口抖动容限指标及测试方法详见第五部分传输性能测试-抖动测试。7、输出口输出信号最大峰峰抖动输出口输出信号最大峰峰抖动指标及测试方法详见第五部分传输性能测试-抖动测试。7 / 7