NI虚拟仪器技术应用方案有奖征文竞赛

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1、NI虚拟仪器技术应用方案有奖征文竞赛2005第六届 参赛须知从2000年起，National Instruments（简称NI）作为开发和生产基于计算机的测试测量和自动化软/硬件产品的领导者，已连续五年成功举办虚拟仪器技术应用方案征文大赛，受到了广大用户的大力支持，参赛人数和文章质量屡创新高。历年的获奖征文集结成册供用户免费索取，具有很高的参考价值，并逐渐成为国内测试测量与自动化业界论文口碑极佳的品牌。为进一步推动虚拟仪器技术在国内的发展和应用，使更多的工程师们能更快更好地开发符合特定要求的基于计算机的测控系统，NI将在中国地区举办2005年第六届虚拟仪器技术应用方案有奖征文竞赛。一. 参赛对

2、象:国内（不包括台湾、香港和澳门特别行政区）使用NI产品开发基于计算机的测试/测量和自动化控制系统的技术人员（包括大专院校教师和学生）。* 不接受NI员工和代理商参赛。*大专院校学生可同时参加NI高校市场部主办的毕业设计有奖竞赛，详情请见二. 参赛方法:1 参赛日期即日起至2005年6月20日前递交您的文章题目、文章摘要（附英文）和所使用的National Instruments 产品名称，以及参赛报名表；至2005年7月31日前递交您的文章。我们有权拒绝任何过期收到的文章参赛。2 参赛要求（1） 您需要在2005年6月20日前递交您的文章题目、文章摘要（附英文）和参赛报名表，以便我们尽早通知

3、您入选本次竞赛。文章摘要以150-200个字为准。文章题目、文章摘要（附英文）和参赛表格，用E-mail（china.）、传真或邮寄方式递交均可。我们将以E-mail、传真或电话的方式通知您，我们已收到您的参赛报名表和文章摘要。（2） 收到我们的入选通知确认后，请严格按照我们提供的文章格式编辑您的文章，文章字数不得少于2500字，不能超过3500字。（3） 参赛文章的格式、样本、参赛文章的特殊要求、同意发表确认书、屏幕捕获指南等信息请上网下载: 。如果您无法下载，请与NI上海分公司有奖征文竞赛组联系，我们将为您提供复印件。（4） 请以如下方式递交您的文章：AE-mail至：china. 标题注

4、明“NI征文竞赛作者姓名”B邮寄至：National Instruments 上海分公司 有奖征文竞赛组收地址：上海虹口区曲阳路800号商务大厦6楼 邮编：200437电话：（021）6555 7838 传真：（021）6555 6244邮寄的文章必须用激光打印一式二份（字体大小为小五号、宋简体、标准4A复印纸，图片须高度清晰）；同时提供Windows 95/98/2000/XP平台下的3.5寸磁盘或CD-ROM，请妥善包装好您的盘片，以防邮寄过程中被损坏；三、参赛文章的评定规则：（1） 文章所描述的是基于计算机的测试测量和自动化应用方案的成功范例吗？（2） 您的应用方案所解决的技术难度如何？

5、（3） 您的应用方案在减少开发时间和降低成本方面的优势，方案的创新程度如何？（4） 文章中列明了所使用的National Instruments的产品，并且比较以前使用的系统，清楚地阐明了NI的产品在现今系统中的优势。四、竞赛奖励办法：一等奖1名: RMB6000；NI征文获奖证书；128M MP3播放器一个；免费参加NI Days活动；征文免费刊登在中文核心期刊和NI宣传资料上*；赠送LabVIEW 实用技术教程二等奖2名:RMB3000；NI征文获奖证书；128M MP3播放器一个；免费参加NIDays活动；征文免费刊登在中文核心期刊和NI宣传资料上*；赠送LabVIEW 实用技术教程三等

6、奖3名:RMB2000；NI征文获奖证书；128M MP3播放器一个；免费参加NIDays活动；征文免费刊登在中文核心期刊和NI宣传资料上*；赠送LabVIEW 实用技术教程鼓励奖10名: RMB500；NI征文获奖证书；免费参加NIDays；赠送LabVIEW 实用技术教程（以上所有奖金将按规定扣除相应的税项。） 所有参赛者都将获得National Instruments公司赠送的精美礼品一份。一、二、三等奖颁奖仪式将在NIDays上举行。 NI将把获奖文章编订成册，赠送给参加NIDays的所有用户。 NI有权处理所有递交的文章，并保留本次活动的解释权。如果您对本次有奖征文活动有任何问题，请

7、联系National Instruments 上海分公司有奖征文竞赛组或者E-mail: china.我们热诚欢迎您参加本次竞赛，与中国地区工程师分享您在虚拟仪器领域的使用心得和开发经验。请仔细阅读以上说明，具体参赛方法及其他细节请登陆 code）cnv7zb，或致电NI上海分公司（021-6555 7838）向市场部征文组咨询。NI上海分公司市场部征文组2005.04后附文件：附件一：参赛报名表附件二：参赛文章特殊要求附件三：参赛文章格式附件四：参赛文章格式样本附件五：同意发表确认书附件六：Windows/DOS下的屏幕捕获指南附件七：核实清单附件一：参赛报名表姓名公司/部门职称/职务公司地

8、址（包括邮编）电话（包括区号）传真（包括区号）E-mail学历简要介绍您的主要工作（工作职位，从事的专业技术领域）完整地填写您使用的National Instruments 产品个人爱好附件二：参赛文章的要求截止7月31日前收到的的入选参赛的文章，将可能收入专业、编入National Instruments 用户解决方案或以其它形式发表，所以我们希望您的文章能严格按照我们的格式要求。请仔细参考附件三“参赛文章的格式”和附件四“参赛文章的格式样本”，编辑您的文章。文章字数不能少于2500字，不得超过3500字。我们有权拒收任何不符合标准格式的文章参赛。图片要求：您必须在正文中的每幅图片下加上图片

9、说明，并将所有图片打包与正文一同发出。以任何形式递交的图片必须高度清晰，您也可直接送照片给我们。如果您正在使用NI的软件，请在文章中附上屏幕捕获图，捕获的图片在文章中的分辨率至少是72dpi，其它图片至少是300dpi。请参考附件六屏幕捕获指南一文，完成您的屏幕捕获图。我们有权拒收任何包含了非标准的图片的文章参赛。邮寄要求：（1） 文章以激光打印的，须一式二份，字体大小是小五号，宋简体，标准4A复印纸。无论是文字和图片都必须高度清晰，并且不要用订书机装订。（尽可能用彩色图片）（2） 文章以磁盘（或E-mail）形式递交，只接受Word文档格式，磁盘必须是Windows平台下的3.5寸盘或CD-

10、ROM（盘片标签上须注明您的姓名、文章题目；使用的信封须有安全保护措施，能防静电，以免邮寄过程中被损坏）。（3） 文章中的图片要求另外保存为单独的文件递交或E-mail，（请注明相应的文件名，文件格式为.tif、.bmp、.gif或.eps，请避免使用JPEG格式。）我们希望图片文件保存在CD-ROM或3.5寸盘中，如有必要，请用WinZip 压缩文件。同样，盘片上请注明您的姓名和文章题目。（4） 邮寄至：National Instruments 上海分公司 有奖征文竞赛组收地址：上海虹口区曲阳路800号商务大厦6楼 邮编：200437电话：（021）6555 7838 传真：（021）655

11、5 6244Email：china.请记住为您所有递交的文件做备份，以防我们收到损坏的文件。在您递交文章时，请同时寄出已签署的同意发表确认书。如果我们没有收到您的同意发表确认书，您将被取消参赛资格。附件三：参赛文章的格式题目作者工作职务公司名称应用领域：（从以下领域中，请选定一个最恰当的类型；并删除其它类型。如果您的应用不属于以下任何一类，请直接注明。）大学教育航空/国防汽车工业生物科技/生命科学电信控制设计维护/现场测试产品测试研发/实验室自动化半导体仿真使用的产品：在此列出所有您使用的NI产品，包括软件版本挑战：用50-100个字描述该方案要解决的主要问题应用方案：以50-100个字概括您

12、的应用方案介绍：文章第一段作150-200个字的简明扼要的介绍也可以是文章摘要。然后开始文章的主体，字数限制在2500-3500个字。所有字体大小为小五号字，宋简体。小标题五号粗黑体继续您的文章每幅图片下的注释用小五号简宋体斜体字打印。记住，以电子文件形式递交的文章，其中的每幅图片包括注释需再以单独文件附上。如果您正在使用NI的软件，请在文章中附上屏幕捕获图，捕获的图片在文章中的分辨率至少是72dpi, 其它图片至少是300dpi。请参考附件四：参考文章的格式样本附件四：参赛文章的格式样本 TempVIEW - 采用LabVIEW 和IMAQ Vision开发经济灵活的热像系统TempVIEW

13、 A Low-Cost thermal Imaging System Using LabVIEW and IMAQ Vision 作者：Dino J. Farina 职务：President 公司：Image Therm Engineering, Inc.和IMAQ Vision强大的图形处理工具，我们很快开发出了既在TempVIEW中使用，又在为客户定制的基于TLC的图像系统中使用的工具。 TempVIEW是一个在Windows PC（486或者Pentium）平台下的易用系统，根据要求我们可以提供Mac操作系统下的TempVIEW版本。TempVIEW系统包括一块插卡式的彩色图像采集卡，有

14、合适光学特征的彩色CCD相机，TLC彩色温度校准模块，TLC 用TempVIEW获取的一幅工作中电子元件的TLC热像图。小片（中央的彩色区域）尺寸为10平方毫米。兰色表示热的区域（约41C）；红色是较冷的区域（约39 C）；绿色区域温度介于两者之间。应用领域：产品测试挑战：使用成熟的技术精确测量并描绘热色液晶（TLC）绝对温度分布的热像图。应用方案：使用National Instruments公司的IMAQ 可视化软件、LabVIEW 图片控制工具包、执行程序生成器和LabVIEW来开发一个经济、灵活的基于PC的热像系统。使用的产品：LabVIEW；IMAQ介绍 过去30年，基于热色液晶（TL

15、C）的热像系统为工程师们提供了一种相对低成本的热现象研究手段。TLC在电子、汽车、航空工业和学术界都获得了广泛的应用。但是他们使用为常规应用组建的内部系统从未设计过，也未试图将它们用作商业用途。进入TempVIEW 位于麻省Waltham的热像工程公司（Image Therm Engineering）是NI的一个联盟商，它曾协助斯坦福大学机械工程系开发了TLC技术。热像工程公司将成熟的TLC技术同NI的LabVIEW和IMAQ Vision软件结合在一起创建了TempVIEW。TempVIEW是一个为广阔的商业和实验室应用而设计地灵活强大的温度测量工具。 我们之所以使用LabVIEW和IMAQ

16、 Vision软件是因为它们提供了强大的图像处理、RS-232通信和GUI设计/实施工具在一个平台无关的集成开发环境中的合成。因为LabVIEW数据流式编程过程具有的软件模块化过可观的入射光，所以我们透过一个不反射（黑色）的背景来观察TLC，以便防止透射光给选择性反射光的翻译带来不良影响。我们用彩色相机来捕捉颜色-温度响应，并且用一条颜色-温度校准曲线来创建十分有效的基于TLC的热像系统。光，这种主观实体并且难以定量的事实，在构建高效的基于TLC的热像系统时形成了一些特殊的尖锐难题。因为研究表明人眼将颜色分解为红、绿、蓝（RGB）三原色，所以许多机器视觉系统实施了这种对光的自然三色分解。虽然简

17、单和直接，但是为了翻译热像图每点的温度它需要三个数值（RGB），这将使基于TLC的热像系统效率太低。为了解决这个问题，TempVIEW使用了一种非常高效的单值颜色描述符，这种描述符是专门为TLC热像图设计的比RGB更进一步的分解。这种实施对计算非常有利，而且节省内存材料和白光源。通过LabVIEW的图形用户接口，用户能够很容易的设置、采集、处理和分析热像图。用TLC的色响应来测量温度TempVIEW的核心是TLC。基本的，液晶是物质介于纯固态和纯液态之间的热力学状态，特定条件下某些有机化合物呈现这种状态。在“事件温度”以下，TLC物质是透明的固体。在事件温度上，TLC物质将反射某种波长的可见光

18、（颜色）。当温度在TLC的带宽内变化时，它所反射的光的颜色相应改变。一旦超过TLC的“清晰点温度”，TLC物质呈透明的液态。这种选择性反射在对大多数TLC加热和冷却的时候都会发生，滞后现象很小。对大多数TLC材料来说，当温度由事件温度变化到清晰点温度时，反射光连续的从长波（红）变化到短波（蓝）。由于TLC材料也不加改变的透TempVIEW - 采用LabVIEW 和IMAQ Vision开发经济灵活的热像系统步处理。通过TempVIEW的处理工具，您可以交互的用ROI控件取出一个颜色或者温度图象平面，创建和应用过滤面具（协助取得图像的有效区域），应用门槛值，和使用空间滤波。根据TLC颜色-温度

19、校准数据，颜色值自动的转换成指定的温度（C, F, K）。其它系统能够取出的“投影”包括红、绿、蓝、饱和度、强度和其它用户定义的量。结论 和学院的实验室一样，电子和气动透平工业因为TempVIEW出色的性能（0.5 C的温度精度和1 m的空间分辨率）和相对其它技术（例如红外）实质上的价廉而对它很感兴趣。另外，LabVIEW代码的移植性同时简化了PC和Macintosh平台上的维护和配置。1. 启动DUT（例如，打开设备电源，开启通风，等等）。2. 照亮DUT，将相机对准它并调好焦距。TLC颜色-温度校准模块 TempVIEW系统中包括我们的专利带RS-232接口的校准设备，它可以对任何TLC材

20、料进行全自动或者手工的颜色-温度校准。将TLC安放在一TempVIEW的动态数据抽查界面显示联合X-Y数据分布图。个PID控制的、温度连续变化的测试表面上，这种设备就记录TLC的颜色响应。这里，LabVIEW同样大大简化了这种模块的开发。图像采集/存贮/处理/分析TempVIEW有内建的动态图像采集，平均和存贮，协助用户配置系统和采集TLC热像图。同时，TempVIEW还具有别的特征，比如对获得的图像缩放和校准，指定ROI（感兴趣的区域，使用IMAQ Vision内建的工具来实现的），和从硬盘恢复图象以进一（仅需三分之一的内存），它具有单值性和随温度变化的单调性的附加特征。通过这种方案，我们从

21、根本上提高了系统在图像处理和温度翻译上的性能。使用TempVIEW进行测量在使用TempVIEW进行温度测量之前必须进行如下步骤：3. 选择TLC材料并且校准它的颜色- 温度关系。4. 将TLC与被测设备（DUT）连接。附件五：同意发表确认书致：National Instruments TM Corporation来自：作者_作者职称/职务_公司名称/部门_公司地址（邮编）_电话_传真_E-mail: _我同意National Instruments TM Corporation 享有永久并免费在全球以任何语言、任何形式（印刷和电子文件）处理和发表我的文章的特权（包括所附的图片和照片等）。可能

22、被发表的形式包含但不限于如下几种：O 发表在National Instruments网站，InstrupediaTM CD，Software Showcase CD，或其它软件演示光盘等等；O 发表在Instrumentation Newsletter TM；O 作为成功的用户解决方案文章收入NI用户解决方案文集；O 发表在National Instruments 市场宣传材料，包括宣传册、目录册等等；O 被提供给商业性或业界杂志发表，或在文章中被引用。我同意所有发表都归功于上述作者，并在发表时附如下版权申明：National Instruments TM Corporation版权所有，违者

23、必究。所有产品和公司名称都是相应公司的商标和商品名。 _ _作者签字（或所属公司被委托签字盖章） 日期 _ _职务/职称 电话附件六：Windows/DOS下的屏幕捕获指南以下指南将告诉您如何进行屏幕捕获。为得到最佳的打印效果，请按照以下指南进行屏幕捕获，再将捕获的屏幕图像发送给我们。在捕获之前请确保所有适当的数据都在屏幕上显示。Windows用户1 设置显示模式为可达到的最高颜色数。在桌面上点击鼠标右键，在弹出的菜单中选择“属性（properties）”, 然后在显示属性（Display Properties）窗口中选择“设置”（settings）。推荐使用真彩色True Color (24

24、位) ，也可使用增强色High Color (16位) 或者256色。这对于保证图像的质量很重要。2 运行您的应用程序，按下键盘上的Print Screen键，这个操作将屏幕捕获并拷贝到剪贴板clipboard。从开始菜单（Start Menu）程序（Programs）附件（Accessories）中打开画图（Paint），同时按下Ctrl键和V键将剪贴板的内容粘贴到画图Paint。如果出现一个对话框，选择“OK”以将画板缩放到捕获的图像的大小。保存该图像，画图程序Paint会默认地将图像的颜色深度设为您在第一步中的设置值。如果您的内存太少，可能无法进行粘贴操作，在这种情况下，在用Print

25、Screen捕获图像后，请先退出您的应用程序，再打开画图Paint进行粘贴操作。3 除了Microsoft的画图程序Paint，您也可以使用其他的画图程序。保存图像到文件时，请尽可能使用24位颜色深度（真彩色），也可以是16位或8位，文件格式可以是.BMP, .TIF, .GIF或.eps。请避免使用JPEG格式。如果您需要将文件压缩，请使用WinZip。Windows 3.1或DOS用户 _在Windows 3.1或DOS 环境下，我们推荐您使用Quarterdeck Select 公司的HiJaak Pro软件来进行屏幕捕获。Windows 3.1用户也可以尝试上述Windows 95 下

26、的图像捕获方法，但是这样可能会出现问题，我们不建议您这样做。如果您尝试，请一定在关闭该文件后再重新打开以验证所捕获屏幕的调色板未遭破坏。在Windows 3.1下，6405480的分辨率似乎是最适合这种方法的设置。您可以同您公司的相关部门商议采用邮递或者电子传输的方式来发送文件。如果您使用电子传输方式，传输前请先将捕获的屏幕图像进行压缩。如果您是以邮寄或邮政特快的方式寄送包含文件的磁盘，请一定在磁盘标签上写明联系人的详细地址。核实清单您已完成如下事项？ 确信在2005年6月20日前寄出了您的文章题目和文章摘要，及参赛报名表？ 按照提供的文章样式，完成您的文章，字数2500-3500字？ 做过完

27、整仔细的校对？ 填写并签署了同意发表确认书？ 打印稿，须激光打印包括高质量的图片2份（尽可能是彩色图片）？不要装订。 完好地复制了所有文稿包括图片？ 寄给我们的盘片中，除了带图片的完整文章（Word文档格式），也另外包含了单独的图片文件附图片说明（我们只接受扩展名为.tif,.bmp,.gif和.eps的文件，注意：屏幕捕获图在文章中的分辨率至少是72dpi, 其它图片至少是300dpi。磁盘的标签上注明了您的名字，文章题目。） 邮寄的磁盘采取了妥善的安全保护措施？ 确信在2005年7月31日前邮寄所有材料至如下地址： National Instruments 上海分公司 市场部征文竞赛组收 地址：上海虹口区曲阳路800号商务大厦6楼 邮编：200437 电话：（021）6555 7838 传真：（021）6555 6244Email：china. 10 / 10文档可自由编辑打印