电子元器件检验规范方案标准书模板

《电子元器件检验规范方案标准书模板》由会员分享，可在线阅读，更多相关《电子元器件检验规范方案标准书模板（7页珍藏版）》请在装配图网上搜索。

1、 电子元器件检验规X标准书修订日期修订单号修订内容摘要页次版次修订审核批准2011/03/30/系统文件新制定4A/0/ 局部电子元器件检验规X标准书IC类检验规X(包括BGA)1. 目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。2. 适用X围适用于本公司所有IC包括BGA之检验。3. 抽样方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。4.允收水准AQL严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件无检验工程缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及

2、实物是否 都正确,任何有误,均不可承受。b. 包装必须采用防静电包装，否那么不可承受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可接 受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以识别不可承受；b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可承受；c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可承受；d. 元件封装材料外表因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过0.5mm2,且未露出基质, 可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可承受；f. 元件脚弯曲，偏位, 缺损或少脚，均不

3、可承受；目检或10倍以上 的放大镜检验时，必须佩带静电带。 备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC，由于管理与防护的特殊要求不能现场打某装的，IQC仅进展包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进展拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色，假设已变为粉红色那么使用前必须按供给商的要求进展烘烤。三 贴片元件检验规X(电容,电阻,电感)1. 目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。2. 适用X围适用于本公司所有贴片元件电容,电阻,电感之检验。3. 抽样方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?

4、。4.允收水准AQL严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件?LCR数字电桥操作指引?数字万用表操作指引?检验工程缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是 否都正确,任何有误,均不可承受。 b. 包装必须采用防静电包装，否那么不可承受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可承受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以识别不可承受；b. 来料品名错，或不同规格的混装，均

5、不可承受；c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可承受；d. 元件封装材料外表因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可承受； 目检10倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。电性检验MA元件实际测量值超出偏差X围内.LCR测试仪数字万用表检验时，必须佩带静电带。二极管类型检 测 方 法LED 选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否那么该二极 管不合格。 注：有标记的一端为负极。其它二极管 选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无

6、穷大；否那么该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。备注 抽样方案说明：对于CHIP二极管，执行抽样方案时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每 盘中取35pcs元件进展检测；AQL不变。检验方法见LCR数字电桥测试仪操作指引 和 数字万用表操作指引。四 插件用电解电容.1. 目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2. 适用X围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3. 抽样方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。4. 允收水准AQL严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1

7、.5.5. 参考文件?LCR数字电桥操作指引?、?数字电容表操作指引?。检验工程缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可承受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可接 受。目检 点数外观检验MAa. 极性等标记符号印刷不清，难以识别不可承受；b. 电解电容之热缩套管破损、脱落，不可承受；c. 本体变形，破损等不可承受；d.Pin生锈氧化，均不可承受。目检可焊性检验MAa.Pin上锡不良，或完全不上锡不可承受

8、。(将PIN沾上现使 用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是那么拒收)实际操作每LOT取510PCS在 小锡炉上验 证上锡性尺寸规格检验MA a. 外形尺寸不符合规格要求不可承受。卡尺假设用于新的Model，需在PCB上对应的位置进展试插电性检验MAa. 电容值超出规格要求那么不可承受。用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测五 晶体类检验规X1. 目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2. 适用X围适用于本公司所用晶体之检验。3. 抽样方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。4. 允收水

9、准AQL严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件?数字频率计操作指引?检验工程缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都 正确,任何有误,均不可承受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可接 受。目检点数外观检验MAa. 字体模糊不清，难以识别不可承受；b. 有不同规格的晶体混装在一起，不可承受；c. 元件变形，或受损露出本体等不可承受；d. Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin

10、，均不可承受。目检每LOT取510PCS在小锡炉上验证上锡性电性检验MAa. 晶体不能起振不可承受；b. 测量值超出晶体的频率X围那么不可承受。测试工位 和数字频率计电性检测方法晶体检 测 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz 在好的样板的相应位置插上待测晶体, 再接通电源开机; 在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看 测量的频率是否在规格X围内，假设不能开机或测量值不在规格X围内，那么该晶体不合格。24.576MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的

11、频率是否在规格X围内，假设不能开机显示或测量值不在规格X围内，那么该晶体不合格。六 三极管检验规X1. 目的作为IQC人员检验三极管类物料之依据。2. 适用X围适用于本公司所有三极管之检验。3. 抽样方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。4. 允收水准AQL严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件无检验工程缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可承受。b. 包装必须采用防静电包装，否那么不可承受

12、。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可接 受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以识别不可承受；b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可承受；c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可承受；d. 元件封装材料外表因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过0.5mm2,且未露出基质, 可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可承受。目检10倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。电性检验无(七)排针&插槽(座)类检验规X1. 目的作为IQC人员检验排针&插

13、槽(座)类物料之依据。2. 适用X围适用于本公司所有排针&插槽(座)之检验。3. 抽样方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。4. 允收水准AQL严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件无检验工程缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可承受。目检数量检验MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可承受。目检 点数外观检验MA

14、a. Marking错或模糊不能辩认；b. 塑料与针脚不能紧固连接；c. 塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；d. 过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;e. 针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少；f. 针脚上下不平、歪针、针氧化、生锈;g. 针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性检验MAa. PIN上锡不良，或完全不上锡,均不可承受；(将零件脚插入 现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒钟 左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是那么拒收)实际操作每LOT取510PCS在小锡炉上验证上锡性安装检验MAa. 针脚不能与标准PCB顺利安装;b. 针脚露出机板长度小于

15、0.5mm或大于2.0mm;卡尺针脚露出机板长度的标准为0.5mm2.0mmX围内。八CABLE类检验规X1. 目的作为C人员检验CABLE类物料之依据。2. 适用X围适用于本公司所有CABLE类之检验。3. 抽样方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。4. 允收水准AQL严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5 参考文件无检验工程缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可承受。目检数量检验MAa. 数量与La

16、bel上的数量是否一样,假设不同不可承受；b. 料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可承受。目检点数外观检验MAa. 五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良；b.塑料体变形、划伤、毛边、破断裂、异色等不良；c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不 可承受；d.排线与支架等组装不牢，易松脱；e.标识CABLE接插方向的颜色不能明确分辩；c. 排线接头的颜色不符合规格要求;g.排线外表的丝印错.1.目检2.按前后左右上下各轻摇3次排线接头处，看有无松脱现象参考Mechanical Drawing of Cable尺寸检验MAa.长度不符合规格要求不可承受.卷尺尺寸参

17、考Mechanical Drawing of Cable电性测试检验MAa. 排线的接线方式错不可承受;b. 排线接触不良或不能运行不可承受;c. IDE排线的传输速率不符合要求不可承受.每批取10pcs送QA,请QA的同事帮助测试拉力测试检验MAa. 与公端对插,插拔力不符合规格要求的不可承受.( 拉力测试: 用标准Box Header与排线对插好，用拉力计测出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)实际操作备注 1. 要求如下(低于20PIN 的不作要求)： 80PIN: 4.07.0Kgf ; 40PIN:3.56.0kgf : 34PIN:3.05.0kgf ;26PIN:2.04.0

18、kgf ;20PIN:1.43.4kg2.接插CABLE要轻插，不可插坏主板之插座；3.测拉力时，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，须重测三次；如有一次符合，那么此CABLE拉拔 力合格；如三次均不符合要求，需转换另一BOX HEADER (可连续转换三次新的BOX HEADER)，以同样的 方式测试。更换三次后仍不符合，那么拒收退货。山水是一部书，枝枝叶叶的文字间，声声鸟鸣是抑扬顿挫的标点，在茂密纵深间，一条曲径，是整部书最芬芳的禅意。春风翻一页，桃花面，杏花眼，柳腰春细；夏阳读一页，蔷花满架，木槿锦绣、合欢幽香、蜀葵闲澹，一派峥嵘；秋风传一页，海棠妆欢，野菊淡姿，高远深邃；冬雪润一页，水仙临水一舞，腊梅素心磬口，向爱唱晚。您好，欢送您阅读我的文章，本WORD文档可编辑修改，也可以直接打印。阅读过后，希望您提出保贵的意见或建议。阅读和学习是一种非常好的习惯，坚持下去，让我们共同进步。