《数字半导体测试基础》由会员分享，可在线阅读，更多相关《数字半导体测试基础（2页珍藏版）》请在装配图网上搜索。
1、数字半导体测试基础学习报告.开路和短路测试(OpensandShortsTest)1目的：验证所有的信号引脚是否都接触良好以及信号引脚与信号引脚或者power/groundpin之间有无短路.2原理:device的每个引脚上都有一对保护二极管，在测试过程中观察保护二极管是否起到钳制电位的作用，来判断引脚的好坏.3方法：串行/静态法和功能测试法1）串行/静态法（OpenandShortsSerialStaticMethod）Opens/ShortsTestSerialZStattcMethod,VSSD)odeDUTVSS.OVGroundallpins(includingVDD).JsingP
2、MU,Force-100|iAponepinatatime+Measureresuttantvoltage.Ea!|s(shorted)ifvoltagemeasuredisgreaterthan-0.2V.尸ai除test(open)ifvoltagemeasuredisJessthan-1h5v.所有devicepins包括power和groundpins都接地.用PMU连接单个引脚，灌入一定值电流（100uA-500uA,接VDD二极管导通，测电压.如果测得电压在二极管导通电压（0.2-1.5v）范围内，则pass该pin为良.如果测得电压大于保护二极管导通电压（1.5v）,则fail,
3、该pin断路.如果测得电压0.2v,则fail.该pin短路.或者，用PMU连接单个引脚，拉出一定值电流（接地二极管导通，测电压.情况与上面相似.如果测得电压在二极管导通电压（-0.2-1.5v）范围内，则pass该pin为良.如果测得电压大于保护二极管导通电压（-1.5v）,则fail,该pin断路.如果测得电压-0.2v,则fail.该pin短路.重复以上步骤，直到每个signalpin都被测好，一般我们使用拉出电流的方法（即接地二极管电流）2）功能测试法（OpenandShortsFunctionalMethod）VDD和ground接地用Drive驱动每个信号引脚至0v.断开一个pin的Drive,用动态负载灌入一定值电流，由comparator判断pin输出电压，确定是否符合要求（Z态）测完这个pin就恢复这个pin的驱动，然后重复以上步骤测试下一个pin.Opens/ShortsTestFunctionalMethodFunctionalTest Limits3）两种方法的比较串行/静态法：结果清晰，但耗时功能测试法：速度快，但是结果不好分析可以先用功能测试法测，如果出现错误则用串行/静态法测试分析具体情况individually
数字半导体测试基础
