元器件检验通用标准

《元器件检验通用标准》由会员分享，可在线阅读，更多相关《元器件检验通用标准（65页珍藏版）》请在装配图网上搜索。

1、 来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-001受控状态：碳膜电阻修 改 页：第 1 页 共 53 页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观色环标识色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.用毛刷沾洗板水轻擦色环，不能出现脱色现象。MI目测元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10

2、K的用串联方式，频率选用100Hz. 电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。2. 分别在高温85、低温-20、温度93%3%、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。3. 碳膜电阻误差值：5%MALCR电桥4可焊性用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中一次上锡面积大于85%。表面色环的颜色不发生变化。MA烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。3. 外壳用刀片刮取，壳体坚韧度需符合。MA目测、对比样品刀片6包装标识1、 包装材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、

3、数量无误。 4、（内包装、外箱）标识单内容正确。MA目测拟制： 日期日期日期 来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-002受控状态：金属膜电阻类修 改 页：第 2 页 共 53 页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观色环标识色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1 室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差

4、允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。2 分别在75、-5以下、湿度933、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围。MALCR电桥43.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。4. 金属膜电阻误差值1CR5可焊性用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉6材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品7包装标识1、 包装材料用料正确。2、 小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数

5、量无误。4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-003受控状态：氧化膜电阻修 改 页：第 3 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸外形尺寸是否符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允

6、许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；2. 分别在75、-5、湿度933、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围CRLCR电桥4材料所用材料与样品相符MA目测、对比样品5包装标识1. 包装材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验通用标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-004受控状态：AI机用的电阻、二极管引脚标准要求修 改 页：第 4 页 共 53 页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1

7、.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148、二极管1N4007引脚直径序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1电阻引脚11/4W碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达0.43-0.5mm2.1/4W电阻要求带编带（26mm），编带中间电阻引脚的两端尺寸为26mm，也有52mm。3电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。CR数字卡尺目测2二极管1N4148引脚1、二极管1N4148引脚直径为0.45-0.5mm。2二极管1N4148要求带编带（26mm），编带中间二极管1N4148引脚的两端尺寸为26mm。3二极

8、管1N4148引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象CR数字卡尺目测3二极管1N4007引脚1二极管1N4007引脚直径为0.68-0.73mm。2二极管1N4007要求带编带（58mm），编带中间二极管1N4007引脚的两端尺寸为58mm。3二极管1N4007引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象CR数字卡尺目测4可焊性用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1. 包装材料用料正确。 3.装箱方式、数量无误。2. 小包装方

9、式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期、来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-005受控状态：瓷片电容修 改 页：第 5 页 共 53 页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷电容：104P/50V+80%-20% 102P/50V+80%-20%(直径5脚距5mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤

10、、裂痕等。MI目测2尺寸符合产品工程图。脚距5mm，6mm，符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内，漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。2常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%），损耗角0.05。3常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻10000M4常温下，用耐压测试仪测端子间耐压值75V；端子与外壳间耐压值为100V，应元击穿或飞弧现象（高温区95-105检测方法相同）。5将其放于95105及低温-18以下，使用数字电容测试仪检测测其电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%

11、-20%）.6. 手工浸水湿度93%3%用数字电容测试仪测其电容0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.CR数字电容测试仪漏电流测试仪耐压测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1.包装材料用料正确。 2.小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。 4.内包装、外箱标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期 来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-006受控状态：高

12、压瓷片电容修 改 页：第 6 页 共 53 页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷电容： 101P/1KV(直径5脚距5mm) 102P/1KV(直径6.5脚距5mm) 103P/1KV(直径8.5脚距5mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内

13、，漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。2常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%），损耗角0.05。3常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻10000M4常温下，用耐压测试仪测试端子间耐压值1.6Ur(5s)；端子与外壳间耐压值为1250V，应元击穿或飞弧现象（高温区95-105检测方法相同）。5将其放于95105及低温-18以下，使用数字电容测试仪检测测其电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.6.手工浸水湿度93%3%用数字电容测试仪测其电容0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.CR

14、数字电容测试仪漏电流测试仪耐压测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1包装材料用料正确。 2.小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。 4.内包装、外箱标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期 来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-007受控状态：高压金属膜电容修 改 页：第 7 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQ

15、L= 1.0；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷高压电容（CBB金属膜电容） CBB21-473J400V(脚距10mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，有明确认证标志，是否标明3C、UL、TV或VDE等认证标志。MI目测元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤，封胶是否有气孔等。MI目测2尺寸符合产品工程图MA游标卡尺3电性1.根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量，根据电容正负偏差设置上下偏差，然后依据电容的标称电压值，设定其损耗角正切值，最后夹上待测电容，“PASS”灯亮表示合格。2.用电容

16、测试仪测其电容0.047F5%，损耗角1.0%(20 1KHZ).3.用绝缘电阻测试仪测其R30000M（20 1min）4.常温下100CM高度自由跌落3次，再测其电容值应为0.047F5%.5.用耐压测试仪测其极与极的抗电强度2Ur(2S).6.高温80及低温-20时，测其电容值为0.047F5%。CR耐压测试仪电容测试仪漏电流测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性使用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1 所用材料与样品相符。2 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1 材料用料正确2 装箱方式、数量无误

17、3 （内包装、外箱）标识单内容正确MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-008受控状态：聚酯膜（绦纶）电容 修 改 页：第 8 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷聚脂膜电容（绦纶）： 2J103J（630V）(脚距4mm) 2J152J（630V）(脚距4mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，负极标志、丝印标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化，元件

18、体是否有毛刺和破损、划伤。MI目测2尺寸符合产品工程图MA钢尺游标卡尺3电性1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量，根据电容正负偏差设置上下偏差，然后根据电容的标称耐压来设定损耗角，最后夹上待测电容，“PASS”灯亮表示为合格。2.用电容测试仪或LCR电桥测其电容0.0001F5(0.00152F5) ，损耗角正切值0.01（20 1KHZ）。3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度2Ur（Ur=630VDC）时间5S4.用绝缘电阻测试仪测其R30000M（20 1min）。5.工作温度范围-4085CR电容测试仪万用表稳压电源漏电流测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊

19、点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1、所用材料与样品相符。2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3、装箱方式、数量无误。4、（内包装、外箱）小标签内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-009受控状态：二极管IN4007修 改 页：第 9 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二极管

20、：D1-D5 IN4007序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降：0.61.1V和反向耐压：IN40071000V、2. IN4007在最大反向电压下其最大反向电流值为5.0A（+25），平均输出电流值为1A（+75）3. 工作温度范围为-65to+125CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。

21、MA烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。4.（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-009A受控状态：二极管IN4007修 改 页：第 9A 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷型号稳压值及精度测试电流正向电压（VF）IN47

22、233.3V5%76mA当IF=200mA时,VF1.2VIN47324.3V5%53mA当IF=200mA时,VF1.2VIN47335.1V5%49mA当IF=200mA时,VF1.2VIN47345.6V5%45mA当IF=200mA时,VF1.2VIN472312V5%21mA当IF=200mA时,VF1.2VIN472327V5%9.5mA当IF=200mA时,VF1.2V稳压二极管参数:二极管参数:型号最大反向电压(VR)正向电压(VF)正向电流（IF）最大正向输出电流IAFIN400150V0.7V5.0A1AIN4002100V0.7V5.0A1AIN40071000V0.7V

23、5.0A1AIN4148100V0.7V5.0A150mABAV9975V0.7V1.0A215mA拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-010受控状态：二极管IN4148修 改 页：第 10 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二极管：D6-D7 IN4148 序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测

24、2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1、 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降：0.61.0V和反向耐压：IN4148100V、2、 最大反向电流（+25）值为0.025A，平均输出电流（+75）值为150mA3、 工作温度范围为-65to+125CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、 小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数量无误。4、

25、（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-011受控状态：二极管(6A10)修 改 页：第 11 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二极管： 6A10序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性4. 用晶体管测

26、试仪先后测试二极管正向压降：0.95V（MAX）和反向耐压：6A101000V5. 6A10在最大反向电压下其最大反向电流值为10A（+25），平均输出电流值为1.0mA（+100）6. 工作温度范围为-55to+150CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日

27、期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-012受控状态：快速恢复二极管FR107修 改 页：第 12 页 共53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二极管： FR107DO-41序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺游标卡尺3电性1.用晶体管测试仪（10mADC）测试二极管正向压降VF0.7V，

28、反向耐压：FR1071000V（工作温度范围-65+150）.2.用万用表先后测量二极管最大反向电流IRM=5.0A(25)与平均输出电流IO=1A（75）CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料所用材料与样品相符。与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识包装材料用料正确。小包装方式、数量无误。装箱方式、数量无误。（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-013受控状态：快速恢复二极管HER303

29、修 改 页：第 13 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二极管： HER303DO-27序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1.用晶体管测试仪（10mADC）测试二极管正向压降VF0.7V，反向耐压：FR200V（工作温度范围-65+150）.2.用万用表先后测量二极管最大反向电流IRM

30、=5.0A(25)与平均输出电流IO=1A（75）CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料所用材料与样品相符。与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识包装材料用料正确。小包装方式、数量无误。装箱方式、数量无误。（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-014受控状态： 12V稳压二极管类修 改 页：第 14 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；

31、MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性按下图将稳压管电流调整在5mA时，其12V的稳压管的允许稳压范围值在11.4V-12.7V为正常（1分钟内无损坏） 稳压电源 VCR晶体管测试仪稳压电源万用表示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与

32、配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、 小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数量无误。4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-015受控状态： 18V稳压二极管 修 改 页：第 15 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。M

33、I目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性按下图将稳压管电流调整在5mA时，其18V的稳压管的允许稳压范围值在16.8.V-19.1V为正常（1分钟内无损坏） 稳压电源 VCR晶体管测试仪稳压电源万用表示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3、装箱方式、数量无误。4、（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟

34、制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-016受控状态： 27V稳压二极管修 改 页：第 16 页 共 53页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性按下图将稳压管电流调整在5mA时，其27V的稳压管的允许稳压范围值在25.1V-28.9V为

35、正常（1分钟内无损坏） 稳压电源 VCR晶体管测试仪稳压电源万用表示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料1、所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、 小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数量无误。4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期 来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-016A受控状态： 1/2W稳压管修 改 页：第 16 A 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105

36、D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷1/2W参数稳压值(V)稳压值范围（精度5）稳压值(V)稳压值范围32.853.154340.8545.153.33.133.474744.6549.353.63.423.785148.4553.553.93.74.15653.258.84.34.084.526258.965.14.74.464.946864.671.45.14.845.367571.2578.755.65.325.888277.986.16.25.896.519186.4595.556.86.467.14

37、100951057.57.127.888.27.798.619.18.649.56109.510.51110.4511.551211.412.61312.3513.651514.2515.751615.216.81817.118.92019212220.923.12422.825.22725.6528.353028.531.53331.3534.653634.237.83937.0540.95拟制： 日期日期日期 来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-017受控状态： 三端精密稳压器（431BCZ）修 改 页：第17 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105

38、D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷精密稳压器： IC2 LM431BCZ TO-92序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体检查三极管的引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图，符合实际装配。MA游标卡尺3电性2K1稳压值检测，偏差1%。 12V2.5V1%V2、阴极电压VKA36V。 3、IKA100mA MA晶体管测试仪万用表稳压电源示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，

39、一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1所用材料与样品相符。2与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测6包装标识1材料用料正确。2小包装方式、数量无误。3装箱方式、数量无误。4（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-018受控状态： 三端稳压器修 改 页：第 18 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝

40、印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体检查三极管的引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 将三端稳压器接在调压稳压电源上，调稳压电源至7-20V电压，为三端稳压器输入电压，并测出其输出为5.0 0. 2 V。（精度为4）2. 稳压管满负载连续工作2小时，温升测试应小于503. 分别于100CM高度自由跌落三次，湿度达93%3%，其输出电压为5.0 0. 2 V。4、 将其接在调压稳压电源上，调稳压电源测出三端5、 稳压器的输入电压稳压范围，并测出其稳压值。6、 带负载能力，在电路里串入负载和电流表，调到电流为1

41、A左右，测出其输出电压。MA晶体管测试仪万用表稳压电源示波器4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1. 材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-018A受控状态： 三端稳压器修 改 页：第 18 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1

42、.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷三端稳压块参数测试条件7805/（78L05）78127924最小、典型、最大最小、典型、最大最小、典型、最大V1101933V0(空载)4.9 5.0 5.111.75 12 12.2523.5 24 24.5V0（负载）4.8 5V 5.211.5 12 12.523 24 25拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-019受控状态：接收头修 改 页：第 19 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQ

43、L= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤。MI目测2尺寸符合产品工程图MA钢尺或游标卡尺3电性1. 把其接在测试板上，用遥控器从各个方位遥控，看它的接受性能，接收角度为60。2. 将测试板放在日光灯下（距离很近），再用遥控器遥控，看其的抗干扰能力，接收距离3M。CR遥控器测试夹具4可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1. 所用材

44、料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1. 材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-019A受控状态： 接收头修 改 页：第 19A 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷接收头参数参数名称最小值典型值最大值条件静态电流IS1.1mA2.8mA无信号工作电压

45、VS4.7V5.0V5.3V无信号接收距离L110m12m=0接收距离L28m9m30接收距离L34m6m45载波频率f038KHZ接收波长p940nm高电平输出电压VH4.5V低电平输出电压VL0.5V拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-020受控状态：轻触按键/防水按键修 改 页：A第 20 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观标识标识是否与来料相符。M

46、I目测元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤。MI目测2尺寸符合产品工程图MA钢尺或游标卡尺3电性从五个方向按下按键（垂直方向按下，左、右、前、后45度按下按键），用毫欧表测试其接触电阻，应小于150m。 1 2 3 4 5 CR毫欧表LCR4机械性能1. 用数字天平秤测试，满足标称按键力参数值。2. 元件体侧面受力大于3Kg无损伤。CR数字天平5可焊性用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在2305锡炉中，一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉6材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品8包装标识1. 材料用料正确。2. 小包装

47、方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. （内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-020A受控状态：轻触按键/防水按键修 改 页：第 20A 页 共 53 页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷开关参数项目测试条件规格接触电阻在微小电流(100mA)以下测试。100M绝缘电阻输入100VDC电压1分钟,按以下接触方法测试接触端子之间；胶座体与挑脚之间。100M耐电压输入AC250V(506

48、0HZ)电压1分钟，测试电流为0.5mA，按以下接触方法测试: 脚相互之间；挑脚与外壳之间。没有绝缘破损异常。端子强度在任意一个方向的侧端加上(3000g)力度,测试时间为1分钟。在端子中没有裂开、松动等异常，满足于机械电器性能可焊性试验端子顶部被浸入锡炉中1mm深处，温度为2301,时间为30.5。焊接面积要有75%以上。耐焊性试验1. 锡炉焊接的时候温度应控制在2605,过炉时间为30.5秒，基板厚度为1.0mm。2. 手焊接的时候,温度控制.3205时间为30.5秒。本体无变形，满足于机械，电气性能。寿命试验无负荷：操作者以每分钟60次的频率，100000次无负荷测试。1 接触电阻不能超

49、于200m。2 其它应满足于机械、电气性能。耐热试验放置温度852中测试96小时后再放置正常室温中1h来测定。外观无异常，满足于机械电器性能。耐冷试验放置温度-253中96小时后再放置常温中1小时来测定。拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12-021受控状态：背光源修 改 页：第 21 页 共 53页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测元件体元件体是否有毛刺、破损、开裂口等。MI目测黑点杂质：=(A+B)/2。0.1，允收。0.15允许2点，且相间距大于5允收。MA量规划痕：宽度0.02，允收。宽度0.04，长度3.0 不多于2条允收。MA量规透光点：0.2半透点，允收。0.25半透点允许2点，且相间距大于5允收。0.15全透点，拒收。MA量规花状斑纹：S22半透块一处，允收。S21.5全透块，拒收。MA游标卡尺PCB封装：要求选用双面板。PCB面高出胶壳面小于0.3mm。MA游标卡尺拟制： 日期日期日期来料检验标准版 本：第三版文件编号：WI/HV-12