TCL通讯设备有限公司：降低可靠性试验的批次缺陷率DMAI阶段

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1、l实施单位：TCL通讯设备（惠州）有限公司l实施时间：2006年2月7月公司名称公司名称项目编号项目编号项目名称项目名称项目组组长项目组组长项目类型项目类型牵头部门牵头部门涉及流程涉及流程涉及产品涉及产品项目成员项目成员区区 分分姓姓 名名意意 见见倡倡 导导 者者主主 黑黑 带带财务确认财务确认发发 起起 人人黑黑 带带/ /绿绿 带带CTQ/y单位单位现水平现水平目标水平目标水平先进水平先进水平项目项目 投入投入项目项目效益效益DMAI/DC/V5.5.现状描述现状描述: :6.6.项目范围项目范围: :7.7.效果及影响效果及影响: : 1.1.选择项目的理由：选择项目的理由： y e

2、a r - m o n t hamount2 0 0 6 0 32 0 0 5 1 22 0 0 5 0 92 0 0 5 0 62 0 0 5 0 32 0 0 4 1 22 0 0 4 0 92 0 0 4 0 62 0 0 4 0 33 53 02 52 01 51 050T i m e S e r i e s P l o t o f a m o u n t每月不良批每月不良批次数持续上次数持续上升升2. FEA 2. FEA 计算：计算：财务效果财务效果= =减少不良批次的返工浪费减少不良批次的返工浪费06年年1-4月共返工月共返工40980台，平均每月有台，平均每月有10245台，按

3、此计算一年共有台，按此计算一年共有10425台台12月月=122940台台返工费用：返工费用： 122940台台3.3375元元/台台=410312.25占用生产效益费用：占用生产效益费用：122940台台2元元/台台=245880元元年直截收益：年直截收益：返工费用返工费用410312.25+占用生产效益费用占用生产效益费用245880=656192.25元元外部顾客外部顾客批量性质量问题突出批量性质量问题突出不良率和返修率高不良率和返修率高用户用户代理商代理商VOVO外部顾客外部顾客用户用户代理商代理商C C外部顾客外部顾客可靠性试验出现的问题未能及时可靠性试验出现的问题未能及时有效解决，

4、导致重复发生。有效解决，导致重复发生。不能按营销出货计划按时出货。不能按营销出货计划按时出货。用户用户代理商代理商VOVO内部顾客内部顾客制造部门制造部门营销中心营销中心C CCTQCTQCTQ定 义月批次不良率指每月保证试验中检出不合格的批次数占每月总试验批次数的百分比。缺陷定义：要求月批次不良率5SIPOC模型图模型图产品范围产品范围生产转拉生产转拉20台产品台产品试验实施试验实施选择试验项选择试验项目目质量管理部质量管理部OQC试验报告试验报告生产部生产部质量管理部质量管理部IQC质量管理部质量管理部OQCSUPPLIERSSUPPLIERSINPUTINPUTPROCESSPROCES

5、SCUSTOMERSCUSTOMERSOUTPUTOUTPUT合格出货合格出货试验结果通报试验结果通报工程技术工程技术部部纠正预防措纠正预防措施表施表工程技术工程技术部部中试工程师审核分析中试工程师审核分析年月2 0 0 6 0 12 0 0 5 0 82 0 0 5 0 32 0 0 4 1 02 0 0 4 0 52 0 0 4 0 11 8 01 6 01 4 01 2 01 0 08 06 04 02 02 0 0 6 0 12 0 0 5 0 82 0 0 5 0 32 0 0 4 1 02 0 0 4 0 52 0 0 4 0 13 53 02 52 01 51 050试验批数不合

6、格批数T i me S e r i e s P l o t o f 试验批数, 不合格批数年月不良批次率2 0 0 6 0 32 0 0 5 1 22 0 0 5 0 92 0 0 5 0 62 0 0 5 0 32 0 0 4 1 22 0 0 4 0 92 0 0 4 0 62 0 0 4 0 30 . 2 50 . 2 00 . 1 50 . 1 00 . 0 50 . 0 0T i me S e r i e s P l o t o f 不良批次率批次不良率波批次不良率波动太大，且持动太大，且持续上升续上升 收集从收集从20042004年以来至年以来至20062006年年4 4月的每月保

7、证试验总单数，并统计每月的具体试验不良信息，计算月的每月保证试验总单数，并统计每月的具体试验不良信息，计算每月试验批次不良率。每月试验批次不良率。每月试验批次数每月不合格批次数每月试验批次不良率 针对上页数据进行柏拉图分析，找出关键的少数导致可靠性试验缺陷率居高不下的焦点问题，重点进行分析改善。排列前排列前7 7位的故障类型位的故障类型占整个可靠性试验不占整个可靠性试验不良的良的7373，集中解决，集中解决这些问题就可杜绝大这些问题就可杜绝大部分可靠性问题的损部分可靠性问题的损失失同一故障重复同一故障重复发生率非常高发生率非常高-焦点问题陈述焦点问题陈述焦点问题焦点问题试验不试验不良次数良次数

8、潜在失效影响模式潜在失效影响模式产品类型产品类型市场市场投诉投诉分析及现阶段控制分析及现阶段控制A斑马纸脱落斑马纸脱落30机械应力或气候环境应力时电话机模组斑机械应力或气候环境应力时电话机模组斑马纸可能部分脱落，导致话机显示不良。马纸可能部分脱落，导致话机显示不良。HCD/HW电话机电话机有有05年年4月月-9月集中人力分月集中人力分析解决。见附页析解决。见附页C主板漏电主板漏电56天气潮湿时话机主板漏电，导致话机漏电天气潮湿时话机主板漏电，导致话机漏电流变大（甚至自动摘机），交换机判断为流变大（甚至自动摘机），交换机判断为话机摘机，导致电话打不进来。话机摘机，导致电话打不进来。HCD/HA电

9、话机电话机有有今年今年3月初已召集团队成月初已召集团队成员分析解决，现正跟踪员分析解决，现正跟踪改进结果。改进结果。B模组漏电模组漏电13天气潮湿时，模组上的海绵吸潮，导致绝天气潮湿时，模组上的海绵吸潮，导致绝缘阻抗降低，引起缘阻抗降低，引起32.768KHz晶体停振，晶体停振，导致电话机无显示、无拨号。导致电话机无显示、无拨号。HCD系系列电话机列电话机有有今年今年3月下旬已召集团队月下旬已召集团队成员分析解决，现正跟成员分析解决，现正跟踪改进结果。踪改进结果。FTH382中周偏移中周偏移13高温或湿热环境中无绳电话座机高温或湿热环境中无绳电话座机RF部分部分的鉴频中周的鉴频中周TH382频

10、率发生漂移，频率发生漂移，导致无导致无绳手机发话变小甚至无绳手机无连接绳手机发话变小甚至无绳手机无连接。HW系列系列电话机电话机有有团队分析解决中团队分析解决中E咪头松脱咪头松脱16跌落或振动时免提咪头可能松脱跌落或振动时免提咪头可能松脱导致话机导致话机免提啸叫。免提啸叫。或在高温存储环境中黄腊融化或在高温存储环境中黄腊融化堵住咪头孔，堵住咪头孔，导致免提无发话。导致免提无发话。HCD/HW电话机电话机有有团队分析解决中团队分析解决中DLCD镜片裂镜片裂15话机受到跌落和挤压时可能导致话机受到跌落和挤压时可能导致LCD显示显示镜片破裂，导致话机无显示。镜片破裂，导致话机无显示。HCD/HW电话

11、机电话机有有设计结构问题此次项目设计结构问题此次项目解决困难，暂不考虑解决困难，暂不考虑原材料组件产品参数/结构设计生产过程工艺环境因素温度漂移率温度漂移率涂胶工艺涂胶工艺物料混用物料混用高温高温55老化试验筛选老化试验筛选铜壳材质铜壳材质机械振动机械振动品质因数品质因数Q值值磁心导磁率磁心导磁率湿热环境湿热环境磁心力矩磁心力矩谐振频率范围谐振频率范围骨架材质骨架材质内附调谐电容内附调谐电容线圈绕线材质线圈绕线材质灰尘因素灰尘因素生产调试生产调试高温环境高温环境低温环境低温环境TH382中中周周频频率率偏偏移移化学腐蚀化学腐蚀磁帽材质磁帽材质胶水性能胶水性能是否全检测试是否全检测试磁帽与磁芯相

12、对位移磁帽与磁芯相对位移电容材质等级电容材质等级封装工艺封装工艺我司生产调试工艺封蜡工艺封蜡工艺封红胶工艺封红胶工艺是否调试最佳是否调试最佳焊接影响焊接影响线路参数匹配线路参数匹配可能的影响因子可能的影响因子后续验证方案后续验证方案规格要求规格要求温度漂移率温度漂移率从我司现用的中周库存抽样，进行环境适应性试验并测试其温度漂移率是否超标。从我司现用的中周库存抽样，进行环境适应性试验并测试其温度漂移率是否超标。0.50.5内附调谐电容内附调谐电容针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆，测试其内附电容。针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆，测试其内附电容。330 330 5 5磁帽与

13、磁芯相对位移磁帽与磁芯相对位移针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆验证确认。针对市场客户端维修退回的不良中周进行结构分拆验证确认。455KHz455KHz0.50.5TH382TH382规格要求：规格要求： 中心频率（中心频率（1 13 3） 455KHz455KHz； 可调频率（可调频率（1 13 3） 455KHz455KHz3 3（minmin）；）； 内附电容（内附电容（1 13 3） 330pf330pf5 5； 品质因数（品质因数（1 13 3） Min50Min50（455KHz455KHz）；）； 温度漂移范围温度漂移范围0.50.5电容电容带螺纹磁帽带螺纹磁帽骨架骨架

14、磁芯磁芯绕线电感绕线电感铜壳螺纹铜壳螺纹TH382中周中周内部电路连接内部电路连接LC振荡回路振荡回路依靠磁帽进入磁依靠磁帽进入磁芯线圈的深度来芯线圈的深度来调节电感量依此调节电感量依此达到调节振荡频达到调节振荡频率的目的率的目的温度漂移率温度漂移率中山高雅中周中山高雅中周TH382在在TCL库存抽样库存抽样30pcs进行实验测试进行实验测试标注红色的数据超标注红色的数据超出规格限要求（出规格限要求（温温度漂移范围度漂移范围0.50.5）高雅中周频率变化率的高雅中周频率变化率的t t检验分析检验分析 2006-6-19 9:25:50Two-Sample T-Test and CI: 高雅中周

15、频偏变高雅中周频偏变化率化率, 试验环境试验环境 Two-sample T for 高雅中周频偏变化率试验环境 N Mean StDev SE Mean低温 29 -0.0114 0.0887 0.016高温 30 0.668 0.859 0.16Difference = mu (低温) - mu (高温)Estimate for difference: -0.67967795% CI for difference: (-1.002232, -0.357121)T-Test of difference = 0 (vs not =): T-Value = -4.31 P-Value = 0.00

16、0 DF = 29P值为高温、低温条件下中周频率变化率指标差别显著。温度漂移率温度漂移率高雅中周频率高低温试验变化率的流程能力分析高雅中周频率高低温试验变化率的流程能力分析1、低温频率变化率指标流程能力Cpk 1.822、高温频率变化率指标流程能力高温频率变化率指标流程能力Cpk 0.02，能力不足，有一半以上指标超标，急需改善。能力不足，有一半以上指标超标，急需改善。TH382TH382中周温度漂移率：中周温度漂移率： 通过上述分析验证高温环境导致通过上述分析验证高温环境导致TH382TH382中周中周频率严重漂移超过频率严重漂移超过0.50.5，供应商的原材料供应商的原材料和工艺变异大和工

17、艺变异大。温度漂移率温度漂移率选取市场退回的的选取市场退回的的25pcs样品进行实际频率测试样品进行实际频率测试标注红色的数据超标注红色的数据超出规格限要求（出规格限要求（温温度漂移范围度漂移范围0.50.5） 不良电容有13个，其余12个电容容量合格。 1、分析不良品中周发现中周内附电容有两种不同品牌（TDK、高雅品牌），其中TDK的电容有13pcs, 高雅的电容有12pcs。 2、不良品的电容测量，发现TDK电容容量均变小，只有270-310pf（规格要求为313.5346.5pf （330pf5 ），高雅电容均在合格范围内。 （经立即联系供应商追朔供货记录及生产记录，供应商确认回复，TD

18、K电容使用的原因：批量生产时高雅电容不够时经常用TDK电容替用）。 经过上述分析排查可以确定经过上述分析排查可以确定TDKTDK电容不良电容不良造成造成TH382TH382中周频率偏移，中周频率偏移，其电介质材料为二类X7R(2X1)，电容容量误差达到K档10%。 针对市场退回不良样品进行其结构内附微型管状陶瓷电容器容量测试，结果如下：针对市场退回不良样品进行其结构内附微型管状陶瓷电容器容量测试，结果如下：规格要求：规格要求： 330pf330pf5 5 编号12345678910111213容量315302305332281318321270275334319298341编号14151617

19、1819202122232425容量285296319278322335308296326292286326 其电感量和电容均符合规格要求，此时通过逆向思维，对频率偏移的中周进行磁帽调节，发现均可调回初始调制频率。因此得出：TH382TH382中周中周磁帽与磁芯发生了相对位移磁帽与磁芯发生了相对位移，导致，导致LCLC振荡回路的电感量发生振荡回路的电感量发生 了变化，因此谐振频率偏移初始调制值。了变化，因此谐振频率偏移初始调制值。对其余对其余1212个进行结构分析：个进行结构分析：带螺纹磁帽其内部电路是一个LC振荡回路用调笔调节磁帽，依靠磁帽螺纹与铜壳螺纹旋转，覆盖磁芯线圈的深度来调节电感量依

20、此达到调节振荡频率的目的。 公司无绳机芯调试线反馈已调试好的无绳座机放置一两天周转到装配线生产时反馈出现手机发话变小和无对码故障。 五楼机芯测试调试线，调节TH382以使座机射频接收失真度最小（小于5），且输出音频信号幅度最大。然后用红胶点胶到TH382中固定已调试好的最佳频率位置（即固定磁帽位置）。而行业标杆公司步步高、PHILIPS采用封蜡工艺。 经对比试验：试用50台点高温蜡的TH382中周，经试验前后数据比对一致。 原因分析：红胶的特点是完全固化的时间较长约24小时，固化前后体积的收缩变化牵引铜壳上的磁帽与基板上磁芯的相对位移而引起振荡频率变化。 TH382点红胶固定磁帽PHILIPS

21、和步步高均采用封蜡工艺-的测试分析的测试分析跌落试验中共有12台话机松脱样机编号样机编号常温常温高温高温低温低温跌落跌落HCD(89)TSD 1#正常正常正常正常HCD(89)TSD 2#正常正常正常正常HCD(89)TSD 3#正常正常正常松脱HCD(89)TSD 4#正常正常正常松脱HCD(89)TSD 5#正常正常正常正常HCD(13B)TSD 1#正常正常正常松脱HCD(13B)TSD 2#正常正常正常正常HCD(13B)TSD 3#正常正常正常正常HCD(13B)TSD 4#正常正常正常松脱HCD(13B)TSD 5#正常正常正常正常HCD(55)TSD 1#正常正常正常正常HCD(

22、55)TSD 2#正常正常正常松脱HCD(55)TSD 3#正常正常正常正常HCD(55)TSD 4#正常正常正常松脱HCD(55)TSD 5#正常正常正常正常HCD(37)TSD 1#正常正常正常松脱HCD(37)TSD 2#正常正常正常松脱HCD(37)TSD 3#正常正常正常正常HCD(37)TSD 4#正常正常正常正常HCD(37)TSD 5#正常正常正常正常HCD(17B)TSD 1#正常正常正常松脱HCD(17B)TSD 2#正常正常正常正常HCD(17B)TSD 3#正常正常正常正常HCD(17B)TSD 4#正常正常正常松脱HCD(17B)TSD 5#正常正常正常正常HCD(6

23、2)TSD 1#正常正常正常正常HCD(62)TSD 2#正常正常正常松脱HCD(62)TSD 3#正常正常正常正常HCD(62)TSD 4#正常正常正常松脱HCD(62)TSD 5#正常正常正常正常咪头套松脱测试咪头套松脱测试-根本原因列表根本原因列表焦点问题根本原因列表F F中周中周TH382TH382频率偏移频率偏移E E咪头套松脱咪头套松脱1高雅电容高雅电容X7R JX7R J档档5%5%全部更换为中周中周TH382TH382频率偏移频率偏移基板与铜壳之间加涂胶水加固基板与铜壳之间加涂胶水加固供应商改进采用封高温蜡工艺固定采用封高温蜡工艺固定改进工艺供应商出厂供应商出厂5555度度12

24、12小时小时100100老化筛选工序老化筛选工序增加检验措施针对改进后的TH382进行试验，结果全部合格。 针对改进后针对改进后TH382TH382中周频率高、低温试验变化率的流程能力分析：中周频率高、低温试验变化率的流程能力分析：1 1、低温频率变化率指标流程能力、低温频率变化率指标流程能力Cpk 2.80Cpk 2.80，改进前为，改进前为1.821.82，改进效果明显。，改进效果明显。2 2、高温频率变化率指标流程能力、高温频率变化率指标流程能力Cpk 1.27Cpk 1.27，与改进前的，与改进前的0 0相比较有很大的改善。相比较有很大的改善。改进前后改进前后TH382TH382中周高

25、温环境频率变化率（）比较：中周高温环境频率变化率（）比较：改进后全不符合规格要求0.5针对改进后的TH382中周进行装机老化实验7天，要求话机发话SLR变化不大于8dB。结果全部合格。物料规格供应商灵敏度变化(dB)0公里5公里0公里5公里11414.71616.7-221515.41718-2.6315.515.618.519-3.441414.71717.5-2.851515.41717.8-2.461313.51617-3.571717.82020.7-2.9814.814.81717.5-2.7917.8182121.3-3.3101516.117.518-1.9111515.717.

26、617.8-2.1121616.71818-1.31313.314.11516.4-2.3141515.51818.4-2.9151415.31717.8-2.5161314.11515.9-1.8171717.61920-2.4181516.41818.5-2.11915.615.61717-1.42014.515.317.617.6-2.32116.317.21919-1.82215.4161818.7-2.72313.5141616.5-2.52412.813.51515-1.5251414.31717.6-3.3261313.51616-2.5271516.51818.4-1.9281

27、718.42121-2.6291414.91717.2-2.3301414.61616.5-1.9TH382高雅测试项目 老化测试7天中周30PCS装机老化实验测试结果序号老化前发话测试(dB)老化后发话测试(dB)针对改进后的针对改进后的TH382中周进行装机老化试验，流程能力分析中周进行装机老化试验，流程能力分析1、改进后的TH382进行装机老化流程能力分析Cpk 1.3723A AMMI IC CD D改变材质改变材质原用橡胶材质咪头套EVA材质咪头套 将橡胶咪头套改用EVA材质的咪套，在原来的基础上将咪套尺寸加大在原来的基础上将咪套尺寸加大0.5mm0.5mm，因，因EVAEVA材质密

28、度不大，收缩性好，在尺寸大的情况下也能很容易的材质密度不大，收缩性好，在尺寸大的情况下也能很容易的装入，并且黄腊在液态状态下很容易被装入，并且黄腊在液态状态下很容易被EVAEVA材质的咪套吸附，在黄腊固化材质的咪套吸附，在黄腊固化后相对咪套与咪槽卡得紧一些后相对咪套与咪槽卡得紧一些，同时可降低材料成本。 针对改进后的EVA材质咪头套在有问题的具体6款机型HCD89、HCD13B、HCD55、HCD37、HCD17B、HCD62上进行跌落验证实验，每款话机5台，共测试30台，由原来有12台不合格，改进后全部合格。60%100%50%55%60%65%70%75%80%85%90%95%100%改

29、进前 改进后合格率改进前改进后第一批试用第一批试用20002000个已到，下周在此六款话机批量试用（依生产计划）个已到，下周在此六款话机批量试用（依生产计划）焦点问题根本原因改进方案实施控制方案现有产品处理风险分析负责人时间中周中周TH382TH382频频率偏移率偏移鉴频中周TH382内附电容TDK电容不良更换为高雅电容X7R J档5%电容器丝印瓷粉颜色区别IQC来料检查确认公司HW成品存货问题话机6K已全部返工更换改进后的TH382中周处理。库存问题中周已全部退回供应商禁发TCL处理。改进中周外观标记由TH382改为L7。试验验证合格。但最终仍需待市场验证。中试黄志强PE经理廖海昌IQC刘雪

30、峰6月30日鉴频中周TH382结构分析磁帽与磁芯相对位移基板与铜壳之间加涂胶水加固来料抽样检查确认供应商过程质量控制温度漂移率供应商出厂55度12小时100老化筛选工序供应商提供老化试验报告IQC来料检验审核报告我司生产调试固定工艺点红胶采用封高温蜡工艺固定生产改变工艺，设立巡检制度工艺检查确认PE经理廖海昌咪头套咪头套松脱松脱咪头套材质与封蜡工艺不配。橡胶材质咪套无吸附性，封蜡只起密封作用，无固定作用。原用橡胶材质咪头套EVA材质。同时采用封黄胶工艺。已进行批量试用安排，尺寸匹配后即可全部替换。工艺巡检控制。现有产品从适用性角度和发生问题的机率评估决议让步接受。可能出现的机械应力如反面跌落导

31、致咪套松脱，话机免提啸叫。导致用户投诉。中试黄志强PE经理廖海昌IQC李伟庆6月30日- -文件列表文件列表焦点问题控制办法控制文件部门负责人时间中周中周TH382TH382频率频率偏移偏移已经更改电容；基板与铜壳之间加涂胶水加固；供应商出厂55度12小时100老化筛选工序；采用封高温封蜡工艺固定。从六月份开始已全部采用更改后的电容（丝印改为L7）供应商的加涂胶水工艺指导卡。供应商高雅XXX6月30日供应商的每批来料随附老化实验报告刘雪峰6月30日我司机芯调试封蜡工艺指导卡PE经理廖海昌6月30日供应商的改进变更新规格书中试黄志强6月30日的进货检验单刘雪峰6月30日咪头套咪头套松脱松脱原用橡胶材质咪头套EVA材质。目前已经试用两个批次机型，后续正式采购试用。结构尺寸匹配后全部更换试用EVA材质的咪头套。供应商EVA咪套规格书我司中试部品认证报告我司部品小批量试用报告中试黄志强欧书英7月30日替用的的工程更改单PE经理廖海昌7月30日IQC的进货检验单IQC李伟庆7月30日