01X射线衍射参考问题详解

《01X射线衍射参考问题详解》由会员分享，可在线阅读，更多相关《01X射线衍射参考问题详解（15页珍藏版）》请在装配图网上搜索。

1、第一部分 X 射线衍射1. X射线的本质是什么？谁首先发现了 X射线，谁揭示了 X射线的本质？答：x射找的本质是一种槿瑕磁波？伦琴首光笈现了 x射线劳厄揭示r x射线的木庾？2. X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测 工件内部的缺陷等。X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构 变化的相关的各种问题。X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发出的X 射线的波长和强度，从而研究物质的

2、原子结构和成分。3为什么特征 X 射线的产生存在一个临界激发电压？ X 射线管的工作电压与其 靶材的临界激发电压有什么关系？为什么？答：娶僅内层电子受激笈T也坝给予皿加大于或裁于英结舍陡的陡規才能梗英腔离 轨逍.从而产生特征X射线而嬰施加前搭低能量.就存在一牛临界邀发坯压=射线 骨的工作肉压 谶恳其靶材關临界激发电压的3-各你 这时料征X射线闸连碱X射线比 MX背底较柢.4. 产生X射线需具备什么条件？答：实验证实:在高真空中，凡高速运动的电子碰到任何障碍物时，均能产生X射线，对于 其他带电的基本粒子也有类似现象发生。电子式X射线管中产生X射线的条件可归纳为：1，以某种方式得到一定量的自由电子

3、； 2，在高真空中，在高压电场的作用下迫使这些电子作定向高速运动；3，在电子运动路径上 设障碍物以急剧改变电子的运动速度。5. X 射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？答：波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播，反映了物质运动的连续性；微粒性 主要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量，能量和动量，反映了物质运动的分立 性。6什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？光电效应是指以光子激发电子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。光电效应在材料分析可用于光电子能谱分析与荧光光谱分析。7. 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用 CuK X 射线激发

4、CuK 荧光辐射；aa（2）用 CuK X 射线激发 CuK 荧光辐射；Ba（3）用 CuK X 射线激发 CuL 荧光辐射。aa答：根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定状态下，每个 壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。最内层能量最低，向外能量依次增加。根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的能量差 大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，所以KB的能量大 于Ka的能量，Ka能量大于La的能量。因此在不考虑能量损失的情况下：（1）CuKa 能激发 CuKa 荧光辐射；（能量相同）（2） CuKB能激发Cu

5、Ka荧光辐射；（KB Ka）（3）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Kala）8. 计算当管电压为 50 kv 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连 续谱的短波限和光子的最大动能。解：已知条件：U=50kv电子静止质量：m=9-1 X10-3ikg光速：c=2.998X108m/s电子电量：e=1.602X10-i9C普朗克常数：h=6.626X 10-34J.S电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为E=eU=1.602X10-19C X 50kv=8.01 X 10-18kJ由于 E=1/2m0v02所以电子与靶碰撞时的速度为v0=（2E/m0）1/2=4.2X106m/s所

6、发射连续谱的短波限入。的大小仅取决于加速电压入（A ）=12400/v（伏）=0.248入0辐射出来的光子的最大动能为E =h =hc/入=1.99X 10-15J0 0 09. 特征 X 射线与荧光 X 射线的产生机理有何异同？某物质的 K 系荧光 X 射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？答：特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能量以X 射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释 放的是特征X射线；以X射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是荧光X 射线。某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波

7、长。10. 连续谱 是怎样产 生 的？其短波限几0=ec=罟与某物质的吸收限hc 1.24九二竺二有何不同（V和V以Kv为单位）？k eV VKkk答当x射线管两极间加高压时，大量电子在高压电场的作用下，以极高的速度向阳极轰击, 由于阳极的阻碍作用，电子将产生极大的负加速度。根据经典物理学的理论，一个带负电荷 的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电磁波，或 至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的 电磁波将具有连续的各种波长，形成连续x射线谱。在极限情况下，极少数的电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子，这个

8、光量子便具有最高能量和最短的波长，即短波限。连续谱短波限只与管压有关，当固定管压， 增加管电流或改变靶时短波限不变。原子系统中的电子遵从泡利不相容原理不连续地分布在K,L,M,N等不同能级的壳层上， 当外来的高速粒子（电子或光子）的动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出原子系统之 外，从而使原子处于激发态。这时所需的能量即为吸收限，它只与壳层能量有关。即吸收限 只与靶的原子序数有关，与管电压无关。11什么会出现吸收限？ K吸收限为什么只有一个而L吸收限有三个？当激发K 系荧光X射线时，能否伴生L系？当L系激发时能否伴生K系？答：一束 X 射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果。

9、并且吸收是造成 强度衰减的主要原因。物质对X射线的吸收，是指X射线通过物质对光子的能量变成了其他 形成的能量。X射线通过物质时产生的光电效应和俄歇效应，使入射X射线强度被衰减，是 物质对X射线的真吸收过程。光电效应是指物质在光子的作用下发出电子的物理过程。因为L层有三个亚层，每个亚层的能量不同，所以有三个吸收限，而K只是一层，所以 只有一个吸收限。激发K系光电效应时，入射光子的能量要等于或大于将K电子从K层移到无穷远时所做 的功Wk。从X射线被物质吸收的角度称入K为吸收限。当激发K系荧光X射线时，能伴生L 系，因为L系跃迁到K系自身产生空位，可使外层电子迁入，而L系激发时不能伴生K系。12欲用

10、Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多 少？激发出的荧光辐射的波长是多少？13. 已知钼的九=O.71A，铁的九=1.93A及钻的九=1.79A，试求光子的kkkaaa频率和能量。试计算钼的K激发电压，已知钼的九=0.619A。已知钻的K激发ka电压V =7.71Kv，试求其入。KK解：由公式v a二c/入a及E = hv有：KK对钼，v=3X108/(0.71 X1O-io) =4.23X1018 (Hz)E=6.63X10-34X4.23X10i8=2.80X10-i5 (J)对铁，v =3X108/ (1.93X10-i0)=1.55X10i8 (Hz)E=6.

11、63X10-34X1.55X1018=1.03X10-15(J)对钻，v =3X108/(1.79X10-i0)=1.68X10i8 (Hz)E=6.63X10-34X1.68X1018=1.11X10-15(J)由公式入=1.24/V ,KK对钼 V =1.24/A = 1.24/0.0619=20(kv)KK对钻入=1.24/V =1.24/7.71=0.161(nm)=1.61(A )。KK14. X射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm,试计算这种铅屏对Cu、MoKaK辐射的透射系数各为多少？a解：穿透系数I H/l二epH,其中|im：质量吸收系数/cm2g-i,p :密度/gcm

12、-3H：厚度/cm，本题p =11.34gcm-3,H=0.1cmPb对 Cr K，查表得 |d m=585cmg-i，a其穿透系数 I /I =e- U m p H=e-585 X 11.34 X 0. i=7.82Xe-289=1.13 x 10- 7HO对 Mo K，查表得 U m=141cm2g-i，a其穿透系数 I/I=e-UmpH=e-141X11.34X0. i=3.62Xe-70二 1.352 x 10-12HO15. 厚度为 1mm 的铝片能把某单色 X 射线束的强度降低为原来的 23.9，试求这种X射线的波长。试计算含Wc = 0.8%, Wcr=4%, Ww=18%的高速

13、钢对Mo辐Ka射的质量吸收系数。解:I = I e-( u / p ) p H= I e- um p H 式中um=u/p称质量衷减系数，其单位为cm2H 00/ g,p为密度，H为厚度。今查表Al的密度为2.70g/cm-3.H=1mm, 1=23.9% I带入计算得um=5.30查表得：入H0= 0.07107nm(MoKa)Um=3i u m1 + 32 u m2+3 i u mi3 1, 323 i为吸收体中的质量分数，而Um1,um2 Umi各组元在一定X射线衰减系数u m=0.8%X 0.704%X 30.418%X 105.4(1 0.8%4%18%)X 38.3=49.7612

14、( cm2g)16. 欲使钼靶X射线管发射的X射线能激发放置在光束中的铜样品发射K系荧光 辐射，问需加的最低的管压值是多少？所发射的荧光辐射波长是多少？解： eV=hc/AkV =6.626X 10-34 X2.998X108/(1.602X 10-19 X 0.71 X1O-io)=17.46(kv)k入=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)0其中h为普郎克常数，其值等于6.626X10-34e为电子电荷，等于1.602X10-19C故需加的最低管电压应$17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。17什么厚度的镍滤波片可将Cu辐射的强度降低至

15、入射时的70% ?如果入射XKa射线束中K和K强度之比是5 : 1，滤波后的强度比是多少？已知U =aBm a49.03cm2/g,u =290cm2/g。mB解：有公式 I=I e-umm =I e-u pt00查表得：p=8.90g/cm3u =49.03cm2/gma因为 I=I*70%-u p t二 In 0.7ma解得 t=0.008mm所以滤波片的厚度为 0.008mm又因为：I =5 I e-mapta0I = I e- Um BptB0带入数据解得 I a /IB=28.8aB滤波之后的强度之比为 29：118. 如果Co的K a、K B辐射的强度比为5： 1,当通过涂有15m

16、g/cm2的Fe O滤23波片后，强度比是多少？已知FeO的p =5.24g/cm3，铁对Co的u =371cm2/g,2 3KBm氧对 Co 的 u m=15cm2/g0KB解：设滤波片的厚度为tt=15X 10-3/5.24=0.00286cm由公式 1二1 e-Umpt得：la=5loe-umaFet , I =loe-umpot ；查表得铁对 CoK 的 u =59.5,氧对 CoK0Bam的 U =20.2； um(Ka)=0.7X59.5+0.3X20.2=47.71 ； u m(K B)=0.7X371+0.3X 15=264.2 amI /I =5e-umapt/e-umBpt

17、=5Xexp(-umFeOKaX5.24X0.00286)/exp(-umFeOKBX5.24Xa B2 32 30.00286)= 5Xexp(-47.71X5.24X0.00286)/ exp(-264.2X5.24 X0.00286)=5Xexp(3.24) =128答：滤波后的强度比为128：1019. 计算 0.071 nm(Mo )和 0.154 nm(Cu )的 X 射线的振动频率和能量0KaKaC解：对于某物质X射线的振动频率Y = 丁 ；能量W=h Y其中：C为X射线的速度2.998x 108m/s;九为物质的波长；h为普朗克常量为6.625x 10-34 j s对于 Mo

18、KaC 2.998 x 108 m / s九0.071 x 10 -9 mk=4.223 x 1018 s -iW =h二6.625 x 10-34 J s x 4.223 x 1018 s-1 二2.797 x 10-15 Jkk对于 Cu Ka2.998 x 108 m / s0.154 x 10 -9 m=1.95 x 1018 s -1W =h二6.625x 10-34 J s x 1.95x 1018 s-1 二 1.29x 10-15 J kk20. 计算空气对 Cr 的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数Ka80%的氮和质量分数20%的氧，空气的密度为1.29X10-

19、3 g/crw)。解：nm=0.8X27.7+0.2X40.1=22.16+8.02=30.18 (crWg)=mXp=30.18X1.29X10-3=3.89X10-2 cm-121. 为使CuK a线的强度衰减1/2，需要多厚的Ni滤波片？( Ni的密度为 8.90g/cm3)。 CuKa1 和 CuKa2 的强度比在入射时为 2：1，利用算得的 Ni 滤波 片之后其比值会有什么变化？解：设滤波片的厚度为t根据公式 I/ I 二e-umpt；查表得铁对 CuK 的 U =49.3 (cm2/g)，有:1/2=exp(-mp t)0a m即七二-(丨*0.5)/ u m p 二0.00158

20、曲根据公式：|im二K入3Z3, CuK和CuK的波长分别为：0.154051和0.154433nm，所以|im二Ka1a2入 3Z3, 分别为： 49.18(cm2/g)， 49.56(cm2/g)I /I =2e-um a p t/e-um b p t 二2 X exp(49.18 X 8.9 X 0.00158)/ exp(49.56 X 8.9 X a 1 a20.00158)二2.01 答：滤波后的强度比约为2： 1。22实验中选择 X 射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以 Fe 为主要成分 的样品，试选择合适的 X 射线管和合适的滤波片？袴：实验中选择戈射裁管的原则是为避免或减

21、少产生荧遥辐射.应豈避免使用比样品中主元素的原子序数大2Y (尤其是R的捕料作靶材的X射线管.韭择滤波片的原则是X射线分折中,在X射线會芻样品之何厂个滤液片,以狀掉心线蕊波片前材料依靶的抑却帀疋.般釆用比靶材的心了甲数小1 或2的捕料.以分桁以铁为上的样品”应谚选用Co或比靶的X射銭第I同时选用Fe fil Mn 为澹波片。23若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？答士 I.5kW5kV=0.043A24. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”？ 答：当X射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，

22、受迫振 动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一 致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。当X射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射X射线长的X射 线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。一个具有足够能量的x射线光子从原子内部打出一个K电子，当外层电子来填充K空位 时，将向外辐射K系X射线，这种由X射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。 或二次荧光。 指X射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量 必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W,称此

23、时的光子波长入称为K系的 吸收限。当原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为Eq如果一个L层 电子来填充这个空位，K电离就变成了 L电离，其能由Ek变成El,此时将释Ek-EI的能量， 可能产生荧光X射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个 空位被 L 层的两个空位所替代，这种现象称俄歇效应。25衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？答衍射线在空间的方位主翌取决于晶体的面网间距，或者晶胞的大小匸衍射统的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置匸26.什么叫干涉面？当波长为入的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl

24、）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？答 间距为d的晶面对X射线的n级反射可以看作是间距为d /n的晶面的一级反射 这个面称为干涉面。当波长为入的X射线照射到晶体上发生衍射 相邻两个 hkl晶面的波程差是n入相邻两个 HKL晶面的波程差是入。27决定X射线强度的关系式是试说明式中各参数的物理意义?答:h为入射赛射线的强度*X为入射況射线的波疑R为试样到观测恵之间的距籟；V为被照射晶怵曲体积Vt为单也備胞体枳P 为罢重性因于震示聲晶面牛数对衍射强度的蜒瑕阂子匸卩为结判因于.反.映晶怵皓构中眼子位置、錚类和个数对晶面的劈响因子耳泡）为角因于.反訣样品中鑒与無鮒晶粒簾小，

25、晶粒数目和衍射线楼置対衍射强应的影响；加为吸收因子,卿简伏试样的吸收固子与布拉格角、试拝的线吸收条数卩I和试样凰柱体的半径有关匸平板状试样吸收因于与卩有关./（旳曲扌-而0角无关.匸汕港-示渦度因子。严_ 仃热扼动彩响IN的輛射孵匸无热振动理如情况卜的衍如f强度28试述罗伦兹三种几何因子各表示什么？表达式是综合了哪几方面考虑而得 出的？答：罗仑兹因数是三种儿何因子对衍射强度的影响，第一种儿何因子 我示衍射的晶粒大小对衍射按度的影响，罗仑兹笫种几何因子表示晶 粒数目对衍射强度的影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍 射强度的影响29试述原子散射因数f和结构因数Fhk?的物理意义。结构因数与

26、哪些因素有 关系?答：原子散射因数:仁A /A二一个原子所有电子相干散射波的合成振幅/一个电子相干散射波 ae的振幅，它反映的是一个原子中所有电子散射波的合成振幅。结构因数：F 2 二 F F % cos 2k (Hx + Ky + Lz )2HKLHKL HKLjjjjj=1+ 工f sin2兀(Hx + Ky + Lz )2jjjjj=1式中结构振幅F二A /A二一个晶胞的相干散射振幅/一个电子的相干散射振幅HKL b e结构因数表征了单胞的衍射强度，反映了单胞中原子种类，原子数目，位置对(HKL)晶面 方向上衍射强度的影响。结构因数只与原子的种类以及在单胞中的位置有关，而不受单胞 的形状

27、和大小的影响。30总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。答舌简单点阵不存在系统消光，休心点阵衍射钱的系统消光规律是(h+k+1)偶数时出现反射，(h.+k+l)奇数时消光. 而心点阵衍射线的系统消光规律是乱炽全奇或全偶出现反射点f有奇有偶时消光答 簡单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射钱的系统消光规律是(h+k+I)偶数时出现反射，(h+k+1)奇数时消光.而心点阵衍射线的系统消光规律是九細全奇或全偶出现反射,有奇有稠时消光31.计算结构因数时，基点的选择原则是什么？如计算面心立方点阵，选择(0, 0，0)、(1 ，1 ，0)、(0，1 ，0)与(1 ，0，0)四个原子是否可以，

28、为什么?答: 基点的选择原则是每个基点能代表一个独立的简单点阵，所以在面心立方点阵中选择(0， 0， 0)、(1， 1， 0)、(0， 1， 0)与(1， 0， 0)四个原子作基点是不可以的。因为这4 点是一个独 立的简单立方点阵。32.当体心立方点阵的体心原子和顶点原子种类不相同时，关于H+K+L二偶数时， 衍射存在，H+K+L二奇数时，衍射相消的结论是否仍成立？答：不成立 当 H+K+L二偶数时，|FHKL|2=f1+f22 当 H+K+L=奇数时，|FHKL|2=f1 -f22 8表3-1反射线消光规律二、无序固溶体有序化的判断AuCu3在395C以上时为无序态, 将之在395以下，快冷

29、将保持无序状态，此时遵循面心立方点阵消光条件。AuCu3在 395C经长时间保温后缓冷，为有序态。此时Au原子占据晶胞的顶点位置，Cu原子占据 面心位置。将 Au 原子坐标(000)， Cu 坐标(0 )， (0 )， (0)代入公式 当 H、 K、 L 全奇或 全偶时， |FHKL|2=(fAu+3fCu)2 当 H、 K、 L 奇偶混杂时， |FHKL|2=fAu-fCu2 可见，在有 序状态下，无论 H、 K、 L 为何值， |FHKL|2 始终不为 0，有序化使无序固溶体因消光而失 却的 衍射线重新出现，如图 3-4 所示。因此可以根据衍射线条的出现来判断有序化是否出现。33当 X 射

30、线在原子例上发射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为 波长的整数倍，则此方向上必然不存在放射，为什么？答:因対X射銭在原子上发射的强度罪常弱需通过波程差肯波长的整数倍 而产生干涉加强后才可能有反射鮭牌在而干涉加睡的条件之一必须存在波程 差且液程差需等于其波长的整数倍，不为波长的整数倍方向上蹇然不存在反射。34试述布拉格公式2dHKLsin0二入中各参数的含义，以及该公式有哪些应用？答 dHKL表示HKL干涉面的面网间距 9表示布拉格角或掠射角 入表示入射X 射线的波长。布拉格方程主要用途1已知晶体的d值通过测量e求特征X射线的入 并通过入判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光

31、光谱仪和电子探针中。2 已知入射x射线的波长 通过测量e 求晶面间距。并通过晶面间距 测 定晶体结构或进行物相分析35“一束 X 射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能 产生衍射线”，此种说法是否正确？36原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何 关系？37. 测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成 30角，则计数管 与人射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈何种几何关 系？38试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途？39.比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法和直接比较法的优缺点？40测角仪在采集衍射图时，如果试样表

32、面转到与入射线成 300角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？4试述X射线衍射仪结构与工作原理？答：因为X射钱在原子上发射的强度非常尉.需通过藏程差为波长的整数倍 而产生干涉加强后才可能有反射线存在.而干汾加睡的条件之一蹙烦存在波程 差,且液程差需等于其披长的整數協不为波收的整数倍方向上姥然不存在反射.42试述X射线衍射单物相定性基本原理及其分析步骤？鉴定时应注意问题?答：|卩相物质宦性分析的基木步骡是:)计算或査找出衍射阁谱上毎根堆的d值与T值t(2)利用I如最人的工报强钱的对懑匾值査找索引，找出基术符合的物相名称相及卡片母匸(3)将实测的乩T

33、值耳卡片1：的数抑一一对照，若基木符件，就可宦为该物鉴龙时应注禺的诃迦:()1的数拯比切0數抵重要* 低血度践的数抠比為曲洪銭的数抵鱼要.(3)强後比弱统鱼要，特别要亘规止憤大的强芻(4)应更视特征鮭。应尽可能地先利坤其他分析、鉴定手段.初步确定出样品可能是計么物相将它局限于一定的范甩内=43请说明多相混合物物相定性分析的原理与方法？多相分析原理是：晶休对X射线的衍射效应是収决于它的晶体结构的,不同种类的晶狐将给出不同的衍射花样.假如一个样品内包含几种不同的物相，期各个物相仍然f呆持各口特征的桁射花样不变.而轄个样品的衍射花样则相当于它们的送合，木会产生干扰。这就列我们鉴别这些混仟物样品中和各

34、个物相提供可能.关键是如何将这儿套衍射线分开.这也是多相分桁的难点所在亠多相定性分析方法(0多相分析中若混令物是知的，无非是通过天射线衍射分析方法进行验证匸在实血匚柞中也能经常谴到这种惰况。(2)若多相混合物是未知且含暈相近则可从每个物相的3条强线考虑,采用单物相鉴定方法44物相定量分析的原理是什么？试述用 K 值法进行物相定量分析的过程。答：根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍射线的强度亦随之增加, 所以通过衍射线强度的数值可以确定对应物相的相对含量。由于各个物相对X射线的吸收影 响不同，X射线衍射强度与该物相的相对含量之间不成线性比例关系，必须加以修正。这是内标法的一种，

35、是事先在待测样品中加入纯元素，然后测出定标曲线的斜率即 K 值。当要进行这类待测材料衍射分析时，已知K值和标准物相质量分数3S,只要测出a相强度la与标准物相的强度Is的比值la/ls就可以求出a相的质量分数3a。45. CuKa辐射（入=0.154 nm）照射Ag （f.c.c）样品，测得第一衍射峰位置2 9=38，试求Ag的点阵常数。答：由 sin2 二入（h2+k2+|2）/4a2查表由Ag面心立方得第一衍射峰（h2+k2+l2）=3，所以代入数据2 9=38，解得点阵常数a=0.671nm46. A-TiO2 （锐铁矿）与RTi02 （金红石：）混合物衍射花样中两相最强线强 度比I /

36、 I =1.5。试用参比强度法计算两相各自的质量分数。（已知A -Ti02R-T02K=3.4， K=4.3）RA解： KR=3.4KA=4.3 那么 K=KR /KA=0.83 =1/ （1+KI /I ） =1/（1+0.8X1.5）=45%RA R3 =55%A47. 在a-Fe2O3及Fe3O4混合物的衍射图样中，两根最强线的强度比I /IaFe203 =1.3，试借助于索引上的参比强度值计算a -Fe2O3的相对含量。Fe3O4答：依题意可知在混合物的衍射图样中，两根最强线的强度比oFe203；= 1.3 Fe3O 4这里设所求a- Fe O的相对含量为W ，Fe O的含量为已知为W

37、 ，2 3OFe 20 33 4Fe30 4借助索引可以查到a- Fe O及Fe O的参比强度为K1和K2，由K1 = KV 可得K1334ss2 z K 2I = kv1s ws可以求出所求。s的值再由w二w （1 - w ）以及1 .24 x 10 2V与物质吸收限a as九 -_hc48. 解释X-ray的短波限。一 eV的物理意义。为何某物质的K系特征谱有Kahe 1 .24 x 10 2 eV 一Vkk与K而其K系吸收限仅有一个？49. 为什么说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关?50. X射线多晶衍射，实验条件应考虑那些问题？结合自己的课题拟定实验方案。51. 衍射谱标定方法与注意事项有那些？52. 根据谢乐公式，利用 x 射线进行纳米颗粒尺寸分析或其它粉体材料分析时应 注意什么？在具体分析过程中如何解决出现的问题？53. 叙述X射线照射到物质上发生的相互作用54. 叙述用X射线仪检测的误差来源作拘一种质呈检测于段，我国大，屮型朮混厂新型干法）儿乎都配套使fflrx射线 荧光分析狡: x射线荧光分析过程屮产生误差的原規主要有操作方面、仪器方面、以技试料 木身等二方闻因素.55. 计算面心立方的结构因子，其晶面指数满足什么条件时出现衍射强度