非接触式模态测试方法、装置和系统
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文档编号:219055056
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(19 )中华人民共和国国家知识产权局(12 )发明专利说明书(10)申请公布号CN106017834B(43)申请公布日2019.05.03(21) 申请号 CN201610363441.7(22) 申请日 2016.05.26(71)申请人工业和信息化部电子第五研究所地址510610广东省广州市天河区东莞庄路110号(72 )发明人朱军华;何小琦;苏伟;宋芳芳;恩云飞;刘人怀(74 )专利代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人黄晓庆(51) Int.CI权利要求说明书说明书幅图非接触式模态测试方法、装置和系统(57)摘要本发明涉及一种非接触式模态测试方法、 装置和系统。所述方法包括步骤:根据激光头获 取的试验件的图像,布置试验件的各个测点;从 各个测点中选取若干个测点,测量压电晶片在各 个不同位置发生振动时若干个测点的振动响应信 号,其中压电晶片在接收到信号发生器输出的激 励信号时发生振动;根据若干个测点的振动响应 信号确定压电晶片的固定位置;在压电晶片位于 所述固定位置时,获取信号发生器输出的激励信
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