统计过程控制(SPC)及反应计划

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1、1.目的通过应用控制图措施,对产品制造过程核心工序的重要质量特性/重要特性进行控制,及时发现异常因素并加以消除，保证工序处在稳定的受控的状态。2. 范畴合用于公司生产过程各核心工序重要质量特性/重要特性的控制。3. 术语及定义3.1术语 原则偏差 CL中心线CL 控制下限 LS规格下限UCL 控制上限 US规格上限PC 记录过程控制 P过程实绩CP 能力指数 P 稳定过程的能力指数3.2定义计量型数据:可以持续不间断取值的数据。计数型数据:不可以持续不间断取值的数据。稳定性：不存在变差的特殊因素处在记录控制的状态。规格限:我司或由供应商或客户对有关过程或产品特性所定的控制界线。变差:过程的单个

2、输出之间不可避免的差别，因素可提成两类：一般和特殊因素。4职责4.技术部1.1 在制定控制筹划中拟定核心的工序参数或控制特性;4.1.2 选用合适的控制图类型（如:-R，n图），拟定取样数量及测试频率;.13 计算持续的中心线和控制界线,涉及对控制界线进行修订;4. 检查完毕的控制图,分析其趋势/异常情形;.1.5 工序能力的研究。4.2现场检查员和操作人员4.2.1 按规范选用和检测样本并记录检测成果；.2.2所测量获得的数据处在稳定状态下计算该管理项目的Ck值，判断其过程能力与否达到基本规定。4.2.3 如CPk达到规定将其规定控制界线的控制图交与生产现场进行过程控制;如CP达不到规定期，

3、规定调节后再重新抽样作分析用控制图。4.24 知会生产部或开发部失控状况。4.3品质记录人员43.1 根据开发部给定的上下控制界线的过程用控制图进行打点绘图。.3.2当控制图反映出该管理项目达不到稳定状态时,及时报告生产部应和开发部一起判断缺陷或采用合适的纠正和避免措施使工序恢复控制,并跟进整治效果。44品质部负责对记录过程控制作业进行指引、检查、跟踪及验证。5. 工作程序5.1均值和极差控制图( - R图 )(附件二)5.1 控制图的准备5.111 建立合用于实行的工作环境5. 定义过程5.1 拟定作图的特性.顾客的规定;B目前的潜在问题区域；C.特性之间的互相关系；D.定义测量系统;E.使

4、不必要的变差最小化。5.均值和极差图绘制环节（ X-R图 ）5.21 收集数据选择子组大小、频率和数据;B.建立控制图及记录原始数据;.计算每个子组的均值(X）和极差（R)； X=X1+X2+Xn (1、X2为子组内每个测量值，n为子组的样本容量， 一般取n=5)R=Xax-miD.选择控制图的刻度；E.将均值和极差画在控制图上。.1.2 计算控制界线A.计算平均极差（R- ）及过程平均值（X= ）;K为子组的数量，R1和X1即为第一种子组的极差和均值，R2和X2为第二个子组的极差和均值，等等R-R = R+R2+Rk X= = X- 1- 2+X- k KB计算控制界线;UCR= DR- L

5、LR = DR- UL = +A2 R CL = X= A2 式中：4、D3、A2为常数,它们随样 本容量的不同而不同,详情见下表:n5678910437.57.282.112.01.211.821.78D3/0.0.1401022A2.881020730.80.484.37.340.31.在控制图上作出平均值和极差值控制线。5.23过程控制解释A.分析极差图上的数据点；-超过控制界线的点； -持续7点位于平均值的一侧;-持续7点上升或下降； -其他明显的非随机图形。辨认并标注特殊因素（极差图）;C.重新计算控制界线(极差图)；分析均值图上的数据点；-超过控制界线的点 -持续点位于平均值的一侧

6、-持续点上升或下降 -其他明显的非随机图形E辨认并标注特殊因素（均值图)；F.重新计算控制界线（均值图）。.1.2过程能力解释A、计算过程的原则偏差; = d2式中：为子组极差的均值（在极差受控时）,d2为随样本容量变化的常数。见表:23456710d21.131.62.62.532.702852.73.0计算过程能力;USL -LSL6 Cp= (双侧规格下）USL -X3Cp= (只有上限规定期)X-LSL3 (只有下限规定期）T-2 Pk （双侧规格下)6 USL + LSL2 其中：= ；=|-M| ；T=-LLC.过程能力理解。CPk 167 该过程能满足顾客的规定,批准后,开始生产

7、并按照已批准的控制筹划进行。.3 CPk1.67 该过程也许不满足顾客规定,生产件批准后，开始生产就对质量/重要特性加以注重，直到实际的Pk .67为止。P 1.33 过程没有达到满足顾客规定的原则，必须优先进行过程改善并形成纠正措施筹划文献。5.2不合格品数的nP图52.收集数据5.2.1.1选择子组的容量、频率及数量(子组容量必须相等)5.21.选择控制图的坐标刻度52.13将不合格品率描绘在控制图上5.2.2计算控制界线5.21计算过程平均不合格品数 （nP) nP = np1+np2+npK 式中:np1，p2为K个子组中的不合格数。.2.2.2计算上、下控制界线CLn = p 3 n

8、p (1- ), P = n n1+n2+.nk LCLnP = nP-3 np （1p） 52.2.画线并标注5.3过程控制解释.3.1分析数据点,找出不稳定的证据。a超过控制限的点;b持续点位于平均值的一侧；c.持续点上升或下降;d其他明显的非随机图形；e.重新计算控制限。5.过程能力解释4.1 计算过程能力5.4.1对于nP图,过程能力是通过过程平均不合格品率来表达，应使用历史数据,但应剔除特殊与因素有关的数据点。54.1.2当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最佳是2个或更多子组,且所有的点都受记录控制。5.2 绘制并分析修改后的过程控制图。.5记录规定.5.1 作分析用控制图,其抽样组数应取20组数据，样本大小一般为5。.2分析过程非稳定状态应及时采用纠正措施，再重新抽样分析，过程稳定状态才计算CPK值。5.5.3 核心工序作业人员只需按给定的上、下控界线进行描点，控制生产过程稳定状况。5.5 产品特殊特性项浮现变化（含设备、工艺等)时,需再次进行作分析控制图,作业人员再次按给定的上、下控制界线进行描点,控制生产过程稳定状况。5.5 新产品型号上马调试应对重要管理项目进行计算CPk。6 有关文献无7. 有关记录.1工序能力调查表 均值与极差图(X-R图)7.3 n控制图