实验一 钢的奥氏体晶粒度的测定及评级方法

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1、实验一钢的奥氏体晶粒度的显示与测定一实验目的1. 熟悉钢的奥氏体晶粒度的显示与测定的基本方法。学习利用物镜测微尺标定目镜测微 尺和毛玻璃投影屏刻度格值。通过它们间的关系到确定显微镜物镜和显微镜的线放大倍数。2. 熟悉钢在加热时，加热温度和保温时间对奥氏体晶粒大小的影响。3测定钢的实际晶粒度。用直接计算法和弦计算法测量晶粒大小。用比较法评定晶粒度 级别。二.实验原理金属及合金的晶粒大小与金属材料的机械性能、工艺性能及物理性能有密切的关系。细 晶粒金属的材料的机械性能、工艺性能均比较好，它的冲击韧性和强度都较高，在热处理和 淬火时不易变形和开裂。粒晶粒金属材料的机械性能和工艺性能都比较差，然而粗晶

2、粒金属 材料在某些特殊需要的情况下也被加以使用，如永磁合金铸件和燃汽轮机叶片希望得到按一 定方向生长的粗大柱状晶，以改善其磁性能和耐热性能。硅钢片也希望具有一定位向的粗晶, 以便在某一方向获得高导磁率。金属材料的晶粒大小与浇铸工艺、冷热加工变形程度和退火 温度等有关。 晶粒尺寸的测定可用直测计算法。掌握了这种方法也可对其它组织单元长 度进行测定，如铸铁中石墨颗粒的直径；脱碳层深度的测定等。某些具有晶粒度评定标准的材料，可通过与标准图片对比进行评定。这种方法称为比较 法。1. 奥氏体晶粒度的显示钢在临界温度以上直接测量奥氏体晶粒大小比较困难的，而奥氏体在冷却过程中将发生 相变。一般采用间接的方法

3、显示其原奥氏体晶界，以测定奥氏体晶粒大小。根据GB6394-86规 定显示奥氏体晶粒大小的方法有以下几种：图1过共析钢的状渗碳体(X1OO)(4)网状渗碳体法适用于含碳量大于1.0%的过共析钢的奥氏体晶 粒度。方法是:将试样在93010C(或特定的温度) 下加热保温40min以上(或特定的时间)后以缓慢的 速度冷却冷却到600C,在过共析钢的奥氏体晶界上析 出网状渗碳体，以此来显示奥氏体晶粒形貌与大小。 经上述热处理的试样抛光后，应使用硝酸或苦味酸酒 精溶液腐蚀。2. 奥氏体晶粒度的测定在经上述方法之一制备的金相试样上，即可进行奥氏体晶粒度的测定。根据GB6394-86 规定显示奥氏体晶粒大小

4、的方法有以下几种：(2)比较法目前生产中，一般都采用比较法测定晶粒度。在用比较法评定钢的晶粒度时，试样制好 后在100倍显微镜下直接观察或投射在毛玻璃上，其视场直径为0.80mm。首先对试样作全面 观察，然后选择其晶粒度具有代表性的视场与与标准的1-8级级别评级图(X100)对比评定 试样的奥氏体晶粒度，与标准级别图中哪一级晶粒大小相同，即定为试样的晶粒度号数。该 法简便、快速。试样上的晶粒经常是不均匀的，大晶粒或小晶粒如属个别现象可不予考虑，若不均匀现 象较为普遍，则当计算不同大小晶粒在视场中各占百分比，如大多数晶粒度所占有的面积不 小于视场的90%,则只定一个晶粒度号数，来代表被测试样的晶

5、粒度；否则试样的晶粒度应 用两个或三个级别号数表示，前一个数字代表占优势的晶粒度。例如试样上晶粒大多数是6 级，少数是4级时，即写为64级。在有些情况下，在100倍观察被测试样的晶粒大于1级 或小于8级，为了准确评定其大小，可以在降低或增高放大倍率的条件下与标准级别图对照, 再按表1的数据换算成100倍下的晶粒级别。例如某试样在100倍下观察晶粒比1级还大， 即可在50倍下观察，与标准级别图对照是2级，查表后得知晶粒度为0级。如果显微镜的放大倍数不是100倍时，仍可按标准晶粒度级别图测定其晶粒度，随后根 据所选用的倍数按表1换算成100倍时的标准晶粒度级别。也可用下式换算：N = N + 6.

6、64391g(M/Mb)表1不同放大倍数晶粒度换算表放大 100 倍其它放大倍数晶粒度级另U-101234567891025345678910111250123456789101112100-1012345678910200-2-1012345678300-2-101234567400-2-10123456表2晶粒度尺寸标准晶粒度 号计算的晶粒平均直径(mm)弦的平均长度(mm)一个晶粒的平均面积(mm2)在1mm3内晶粒的平均 数量-31.0000.87511-20.7130.6500.52.8-10.5000.4440.25800.3530.3130.12522.610.2500.2220

7、.06256420.1770.1570.031218130.1250.1110.015651240.0880.07830.00781144850.0620.05530.00390409660.0440.03910.001951158570.0300.02670.000983238180.0220.01960.000499268290.01560.01380.00024262144100.01100.00980.000122741458测定非等轴晶粒时(扁园或伸长的)，沿试样的三轴线分别计算出各轴线方向每一毫米长 度的平均晶粒数目。每一轴线方向的平均晶粒灵敏，必须在不少于三条直线上求得。由试样

8、三个轴线方向得出的每一毫米长度的平均晶粒数量值之积乘以晶粒扁园系数0.7，即可求出每 lmm3内的平均晶粒数。再查表2确定其晶粒度。卫=0.7 x闻x闻$衣g式中：n 每1mm3内平均晶粒数。n1 a轴方向每一毫米长度平均晶粒数。n2 b轴方 向每一毫米长度平均晶粒数。n3c轴方向每一毫米长度平均晶粒数。0.7晶粒扁园度系 数。三实验设备与材料实验设备：金相显微镜、热处理炉、制样设备实验材料：T12钢四. 实验方法与步骤1. 本实验采用网状渗碳体法显示奥氏体晶粒，采用比较法评定奥氏体晶粒度。2. 试样装炉前，根据加热温度编号、打号，并作好标记。3将试样放入炉中，采用特定的温度：850C、900

9、C、950C、1000C、1050C，加热并 保温 40min 后随炉冷却至 550 以下出炉空冷。4.将上述处理的试样制备成金相试样。5将制成的金相试样，用相应的腐蚀剂将晶界腐蚀出来。然后在放大100倍的金相显微 镜下观察各温度下奥氏体晶粒度显示清晰部位，与标准的评级图（X100）对比评定出奥氏体 晶粒度。6、每位同学个领一块试样，观察并测量。然后和其他同学试样及评定的结果比较，做好 记录。五. 实验结果1. 写出本实验的目的、原理和操作要点。2. 比较各温度下T12钢奥氏体晶粒度。温度（C）850C900C950C1000C1050C晶粒度3. 画出各温度下奥氏体晶粒大小示意图。4. 画出温度晶粒度关系曲线，并对实验所得数据的讨论和分析。六. 思考题1. 说明奥氏体晶粒随温度升高而长大的原因2. 如何控制奥氏体晶粒大小？3. 碳和合金元素对奥氏体晶粒大小的影响?2级3级5级7级8级