教材--SPC应用导入

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1、nTeacher:Jacky langTeacher:Jacky langSPC 1-1 SPC(Statistical Process Control)之基本假設之基本假設只有穩定且在管制狀態的製程只有穩定且在管制狀態的製程,才能生產出合乎品質要求的產品才能生產出合乎品質要求的產品,所以所以SPC是在生產過程中檢查產品品質並辨認其形成不良品的原是在生產過程中檢查產品品質並辨認其形成不良品的原因因.1-2 SPC之目標之目標管制製程管制製程,區分變異區分變異,並在不良品生產前並在不良品生產前,將問題予以解決將問題予以解決.1-3 品質變異的机遇原因與非机遇原因品質變異的机遇原因與非机遇原因机遇

2、原因机遇原因:又稱正常原因又稱正常原因.是原料是原料,機械機械,人員人員,方法在標準範圍內的變化方法在標準範圍內的變化,因因係由微小原因所引起係由微小原因所引起,引起之變化因而相當微小引起之變化因而相當微小.是一種正常變化是一種正常變化,其變化是其變化是不可避免的不可避免的.非机遇原因可避免之原因人為原因特殊原因不正常原因非机遇原因可避免之原因人為原因特殊原因不正常原因,異常原因異常原因局部原因等等局部原因等等1.統計製程管制統計製程管制(SPC)理念與作法理念與作法1-4 管制界限之選擇管制界限之選擇1-4-1 若机遇原因之因素所造成的成本高可考慮使用較寬之管制界限反若机遇原因之因素所造成的

3、成本高可考慮使用較寬之管制界限反之采取較窄之管制界限之采取較窄之管制界限1-4-2 若生產之不良產品其輸出后果之成本很大則非机遇原因較為重要若生產之不良產品其輸出后果之成本很大則非机遇原因較為重要故需考慮使用較窄之管制圖故需考慮使用較窄之管制圖1-4-3 若机遇與非机遇原因均為重要則可采用較寬之管制界限惟減少非若机遇與非机遇原因均為重要則可采用較寬之管制界限惟減少非机遇原因冒險應考慮抽樣較多的樣本机遇原因冒險應考慮抽樣較多的樣本1-4-4 如按以往經驗超出管制界限情形很多時則使用較窄之管制界限為佳如按以往經驗超出管制界限情形很多時則使用較窄之管制界限為佳反之則使用較寬之管制界限反之則使用較寬之

4、管制界限1.統計製程管制理念與作法統計製程管制理念與作法管制圖是根據統計的常態分配的三個標準差而來,中間(Center line:CL)一條為平均值的中心實線.上(Upper control limit:UCL)下(Low control limit:LCL)二條是允許變異範圍的水平虛線.2.統計製程管制架構與步驟統計製程管制架構與步驟統計製程管制的步驟統計製程管制的步驟2.1.定義製程定義製程:所謂製程是產品從供應商開始一直到客戶接收所謂製程是產品從供應商開始一直到客戶接收.2.2.品質特性之選定品質特性之選定:品質特性是一個產品品質符合要求的指標品質特性是一個產品品質符合要求的指標.一張管

5、制圖一張管制圖只能管制一個品質特性只能管制一個品質特性.2.3.製程作業標準化製程作業標準化2.4.決定測量品質特性之功能決定測量品質特性之功能:以不同的操作員反覆量測一些零件以不同的操作員反覆量測一些零件,以探討量以探討量測儀器本身的變異量測儀器本身的變異量,接著確定標準量測程序接著確定標準量測程序.2.5.試作管制圖試作管制圖2.統計製程管制架構與步驟統計製程管制架構與步驟2.6.製程能力分析製程能力分析:以以CP=1.33來要求短期的製程穩定來要求短期的製程穩定,另以另以CPK=1.33來來要求長期的製程能力要求長期的製程能力.2.7.製程效率之研究製程效率之研究:是在真正以管制圖來監督

6、生產程序經過一皆段的研究後是在真正以管制圖來監督生產程序經過一皆段的研究後所得的資料所得的資料,可真正用來從事工作的改善可真正用來從事工作的改善.2.8.問題解決問題解決:可依循問題分析可依循問題分析,提供對策提供對策,驗證效果及標準化來進行驗證效果及標準化來進行.2.9.製程管制製程管制:流程如下流程如下決定產品特性繼續運作採取改善行動製程能力分析管制圖決定測量品質特性之能力定義製程非管制狀態管制狀態CPK1製程效率研究CPK 1.3改善製程製程效率研究改善技術或調查已改善的測量元件CPK/=9采用c或u特性相同嗎?或不可進行分組采用X(中)-RYYYYYYYYNNNNNNNNnX主要管制組

7、間(不同組)的平均值變化.n R 主要管制各組內(同一組樣品)的范圍變化.n.管制界限的計算管制界限的計算.nX圖nX=x1+x2+xn/nnX=x1+x 2+x k/Kn 中心線（CL）Xn 上限（UCL）X+A2 Rn 下限(LCL)=X-A2 RX-R管制圖X-R管制圖n(三三)X-R)X-R管制圖管制圖nR圖nR1:第一組內最大減最小n 上限（UCL）D4Rn 下限（LCL）D3 RnXR圖系數表（如右）樣本nA2D3D421.883.2731.0232.5840.7292.2850.5772.1260.483270.4190.0761.924XR管制圖抽樣參考表不穩定穩定108小時8

8、小時4510194小時8小時4520492小時8小時4550991小時4小時451001小時2小時45每小時生產量抽樣間隔樣本大小X-R管制圖n管制製作法管制製作法n 步驟步驟（1 1）收集最近與今后制程相似的數據約）收集最近與今后制程相似的數據約100100個個（2 2）依測定時間或群体區分排列）依測定時間或群体區分排列（3 3）對數據加以分組把）對數據加以分組把2 26 6個數據分個數據分為一組為一組n 組內的個別數據以組內的個別數據以n n表示表示n 分成几組的個別組數以分成几組的個別組數以K K表示表示n 剔除異常數據剔除異常數據n (4 (4）記入數據表內（入圖）記入數據表內（入圖）

9、（5 5）計算每組平均值）計算每組平均值X X（6 6）計算每組全距）計算每組全距R R（7 7）計算總平均值）計算總平均值 X X（8 8）計算每組全距平均值）計算每組全距平均值 R R（9 9）計算管制界限值）計算管制界限值.（10)10)例子例子X-R管制圖X圖R圖中心線CL =XCL=R上限(UCL)=X+A2 RUCL=D4R下限(LCL)=X-A2 RLCL=D3RX-R管制圖n n(10)(10)划出管制界限划出管制界限n 所定的方格最好能在上下限間隔約所定的方格最好能在上下限間隔約2030mm2030mm較合适較合适n（1111）打上點記號）打上點記號n 點與點（組与組）距离點

10、與點（組与組）距离25mm25mm較合較合适在管制界限內的點以為記适在管制界限內的點以為記,在管制在管制界限外以界限外以 為記為記.n(12)(12)記如入其它有關事項記如入其它有關事項.n(13)(13)檢討制程能力檢討制程能力.P P管制圖（不良率管制圖）的做法管制圖（不良率管制圖）的做法（1 1）先收集近期內的產品分組算出不良率）先收集近期內的產品分組算出不良率P Ppi/ni=pi/ni=不良個數總檢查數不良個數總檢查數（2 2）平均不良率）平均不良率P P Pn/Pn/N N 總不良數總不良數/總檢查數總檢查數(3)(3)計算管制線計算管制線 中心線中心線CL=PCL=P上管制限上管

11、制限UCL=P+3 P(1-P)/nUCL=P+3 P(1-P)/n下管制限下管制限LCL=P-3 P(1-P)/nLCL=P-3 P(1-P)/nP 管制圖(樣本數不同樣本數不同)n n 9940 W/B生產不良統計U15產出狀況集計表U15產出狀況集計表DATE投入量不良量產出量DEF RATE128690100.03%0.20%226270400.15%0.20%3281901500.53%0.20%428590800.28%0.20%526620600.23%0.20%628520200.07%0.20%W/B（1 1）收集）收集1010月的產品算出平均不良率月的產品算出平均不良率 平

12、均不良率平均不良率P P 0.2%0.2%(3)(3)計算管制線計算管制線 中心線中心線CL=P=0.2%CL=P=0.2%上管制限上管制限UCL=P+3 P(1-P)/n=0.42%UCL=P+3 P(1-P)/n=0.42%下管制限下管制限LCL=P-3 P(1-P)/n=0%LCL=P-3 P(1-P)/n=0%n 計算P管制圖管制界限:n 管制圖9940周W/B P 管 制圖0.00%0.10%0.20%0.30%0.40%0.50%0.60%0.70%0.80%1234567datedef.rateDEFRATECLUCLLCL 管制圖n管制狀態判斷管制狀態判斷(制程處于穩定狀態制程

13、處于穩定狀態)n(1)(1)多數點集中在中心線附近多數點集中在中心線附近n(2)(2)少數點落在管制界限附近少數點落在管制界限附近n(3)(3)點之分布与變動呈隨机狀態點之分布与變動呈隨机狀態,無規則可循無規則可循.n(4)(4)無點超出管制界限無點超出管制界限.n檢定判讀原則檢定判讀原則:n(1)(1)應視每一個點為一個分配應視每一個點為一個分配,非單純之點非單純之點.n(2)(2)點之動向代表制程之變化點之動向代表制程之變化;雖無异常之原因雖無异常之原因,各點各點在界限內仍會有差异存在在界限內仍會有差异存在.n n 异常之檢定原則:檢定規則1:(2/3A)3點中有兩點在A區或A區以外者.檢

14、定規則2:(4/5B)5點中有4點在B區或B區以外者.异常之檢定原則檢定規則3:(6或7連串)連續6(7)點持續上升或下降者.檢定規則4:(8缺C)有8點在中心線之兩側,但C區并無點子.n 异常之檢定原則檢定規則5:(9單側)連續9點在C區或C區以外者.檢定規則6:(14升降)連結14點交互著一升一降n 檢定規則7:(15C)連結15在中心線上下兩側之C區者檢定規則8:(1界外)有1點在A區以外者异常之檢定原則計數值管制圖(P chart)不良率管制圖,P Chart,公式(樣本數相同):P=-di為不良數,ni為樣本數,k為樣本組數管制界限:CL=PUCL=P+3 LCL=P-3i=1Ki=

15、1KdiniP(1-P)nP(1-P)n例題 for P chart計數值管制圖(P chart)P Chart 公式(樣本數不相同):1.變動管制界限:計算各樣本組之管制界限CL=PUCL=P+3 LCL=P-3P(1-P)niP(1-P)ni計數值管制圖(P chart)例題:P chart by 變動管制界限計數值管制圖(P chart)P Chart 公式(樣本數不相同):2.使用平均樣本:a.各樣本組大小變化量須 20%b.n n 點易落在管制線之外c.n n點易落在管制線之內CL=PUCL=P+3 LCL=P-3P(1-P)nP(1-P)n計數值管制圖(P chart)P Char

16、t 公式(樣本數不相同):3.不良率標準化:CL=0UCL=+3 LCL=-3P(1-P)niPi-PZi=計數值管制圖(P chart)例題:P chart by 不良率標準化計數值管制圖(P chart)計數值管制圖(nP chart)不良數管制圖,nP chart適用於樣本大小相同時且不良率P相當小時.與P chart之差異是nP樣本數是固定的.公式:管制界限:CL=nPUCL=nP+3 nP(1-P)LCL=nP-3 nP(1-P)例題:nP chart計數值管制圖(nP chart)計數值管制圖(c chart)缺點數管制圖,c chartP&nP charts 皆處理不良品.所謂不

17、良品是有一個或以上不合格缺點.固一個有10個缺點產品與一個只有1個缺點產品是相等的,都是不良品.i=1KC ic=Kci=第i個樣本缺點數 CL=cUCL=c+3 cLCL=c+3 c例題:c chart計數值管制圖(c chart)計數值管制圖(chart)單位缺點數管制圖,chartc管制圖適用於單位產品構成一個樣本組,但樣本或樣本組其實可由n個單位產品所組成,而每個樣本組大小亦可變動.故須建立另一種統計方式.Chart 公式:CL=UCL=+3 LCL=-3 nn=i=1KKnCiCi為第I樣本組有n個單位產品之缺點總數.同P Chart 於樣本數不相同,有三重計算方式:1.變動管制界限

18、2.使用平均樣本3.不良率標準化計量值管制圖計量值管制圖可區分:1-1平均值與全距管制圖（X-R Chart）1-2平均值與標准差管制圖（X-S Chart）1-3個別數據與移動全距管制圖（X-Rm Chart）1-1-1 平均數管制圖(X chart)X 為樣本(X)大小n的樣本平均數i=1nXinX=X=X1+X2+XmmCL=XUCL=X+A2RLCL=X-A2RR=Xmax-XminR=R1+R2+RmmCL=RUCL=D4RLCL=D3R1-1-2 全距管制圖(R chart)計量值管制圖(X chart)例題計量值管制圖(R chart)例題計量值管制圖1-2平均值與標准差管制圖（X-S Chart）谢谢观看/欢迎下载BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES.BY FAITH I BY FAITH