计算机组成原理RAM实验报告
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1、山东大学软件学院组成原理实验报告(实验)课程名称 计算机组织与结构实验报告学生姓名:学号:指导教师:陈志勇实验地点:硬件实验室实验时间:2014年12月11日一、实验项目名称:RAM实验 二、实验目的:1. 了解半导体静态随机读写存储器RAM的工作原理及其使用方法。2 .掌握半导体存储器的字、位扩展技术。三、实验内容:RAM实验结构图INTEL2114静态存储器:弓脚图&鸟&A 皂 cs GND118217316415514613712g11910&10 I/Q I/QWEIntel2114RAM存储器芯片为双列直插式集成电路芯片,共有18个引脚,各 引脚的功能如下:A 0 -A 9 : 10
2、根地址信号输入引脚。砸:读/写控制信号输入引脚,当豌为低电平时,使输入三态门导通,信 息由数据总线通过输入数据控制电路写入被选中的存储单元;反之从所选中的存 储单元读出信息送到数据总线。I/O 1 I/O 4 : 4根数据输入/输出信号引脚。CS:片选信号,低电平有效,通常接地址译码器的输出端。第一部分:采用1K x 4的芯片,构成1K x 8的存储器。-VCC -Ar - -A8 - -An-I0i -IG203 -10-1 -WR-| RAMVCC-9658 75 4 3 2 10 L 1 1 I 1 11-A片-As- Lrq -A;?-A&-Ai-CS-(;ND-vcc t -Az r
3、, -As - Ab 、-IOl ,-102 -IOh 1、l:0d =、WERAMTntel2114711.SL2h-102 -6 -T04 -WE .IL8 q-217-31 g415S14-Gi 3 -71 21 191014 RAMK4K5Ku2A- 2Y- GND74I.S125四、实验要求:采用1K x 4的芯片,构成1K x 8的存储器。选择五个不连续的存贮单元地址,分别存入不同内容,作单个存贮器单元的 读/写操作实验。采用1K x 4的芯片,构成2K x 4的存储器。必须使用译码器进行扩展(三输入都用,接开关)。选择五个不连续的存贮单元地址,分别存入不同内容,作单个存贮器单元的
4、读/写操作实验。选用适当芯片,根据各种控制信号的极性和时序要求,设计出实验线路图。分别设计实验步骤。使用开关进行数据加载,通过指示灯显示实验结果,记录试验现象,写出实验报 告。给出字扩展试验中每片RAM芯片的地址范围。五、参考器件:RAM 采用两片MM2114隔离部件采用74LS125译码器采用74LS138备注:为简化试验,地址可只用低4位(其余地址可接地)。六、实验数据记录及结果分析:字扩展的实验操作:1. 初始化:将k15(74LS125的C信号)推至高电平,断开开关输入。将k13(RAM片选信号)推至低电平,选中RAM。将k14(读写控制)推至高电平读取状态,以防选地址过程中对沿路数据
5、进行修改。2. 写入数据:将k0k3的四个开关调至想要输入的地址。将k4k11调整至想要的二进制输入值。将k15(74LS125的C信号)推至低电平,连接开关输入。将k14 (读写控制)推至低电平写入状态,写入数据。3. 读取数据:将k14 (读写控制)推至高电平读取状态,断开对RAM的写入。将k15(74LS125的C信号)推至高电平,断开开关对扽灯泡的影响,读取数据。位扩展的实验操作:1. 初始化:将k15 (74LS125的C信号)推至高电平,断开开关输入。将k13 (第一块RAM片选信号)推至低电平,选中RAM,同时确保将k12 (第二块RAM片选信号)推至高电平,使RAM失效。将k14(读写控制)推至高电平读取状态,以防选地址过程中对沿路数据进行修改。2. 写入数据:将k0k3的四个开关调至想要输入的地址。将k4k7调整至想要的二进制输入值。将k15(74LS125的C信号)推至低电平,连接开关输入。将k14 (读写控制)推至低电平写入状态,写入数据。3. 读取数据:将k14 (读写控制)推至高电平读取状态,断开对RAM的写入。将k15 (74LS125的C信号)推至高电平,断开开关对灯泡的影响,读取数据。
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