关键检验特性缺陷率统计方法

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19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110807605A(43)申请公布日2020.02.18(21)申请号CN201911113589.5(22)申请日2019.11.14(71)申请人北京京航计算通讯研究所地址100074北京市丰台区云岗北区西里一号院(72)发明人吴国材;陈真;杜贝娜;郭小星;付高生;李大立;梅晓冬;马静;史旭升(74)专利代理机构中国兵器工业集团公司专利中心代理人周恒(51)Int.CI权利要求说明书说明书幅图关键检验特性缺陷率统计方法(57)摘要本发明属于生产检验技术领域，具体涉及一种关键检验特性缺陷率统计方法。与现有技术相比较，本发明提出一种关键检验特性缺陷率的统计方法，能够区别对待各类检验特性对产品质量波动影响程度，同时提出了按照工序、产品、型号、单位四个维度进行统计的缺陷率统计装置，以便能更准确评价某单位的产品质量缺陷率情况。本发明的关键检验特性缺陷率统计装置按照失效程度对工序影响程度确定严酷度系数，实