材料测试答案1

《材料测试答案1》由会员分享，可在线阅读，更多相关《材料测试答案1（9页珍藏版）》请在装配图网上搜索。

1、材料测试答案 1（1）1 名词解释：相干散射（汤姆逊散射）：入射线光子与原子内受核束缚较紧的电子（如内层电子）发生弹性碰撞作用， 仅其运动方向改变而 没有能量改变的散射。又称弹性散射；不相干散射（康普顿散射）：入射线光子与原子内受核束缚较弱的电子（如外层电子）或晶体中自由电子 发生非弹性碰撞作 用，在光子运动方向改变的同时有能量损失的散射。又称非弹性散射；荧光辐射：物质微粒受电磁辐射激发（光致激发）后辐射跃迁发射的光子（二次光子）称为荧光或磷光，吸收一次光子与发射二次光子之间延误时间很短（10-810-4S ）称荧光，延误时间较长（10-410s ）则为磷光；（有待确定）俄歇效应：如原子的退激

2、发不以发射X 射线的方式进行则将以发射俄歇电子的德方式进行，此过程称俄歇过程或俄歇效应；吸收限：当入射 X 射线光子能量达到某一阈值可击出物质原子内层电子时，产生光电效应。与此能量阈值 相应的波长称为物 质的吸收限。晶面指数与晶向指数：为了表示晶向和晶面的空间取向（方位），采用统一的标识，称为晶向指数和晶面指数；晶带：晶体中平行于同一晶向的所有晶面的总体干涉面：晶面间距为dHKL/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面HKLX 射线散射：X 射线衍射：X 射线反射：结构因子：晶胞沿（HKL面反射方向的散射波即衍射波Fhkl是晶胞所含各原子相应方向上散射波的合成波，HKL表征了晶胞的

3、衍射强度；多重因子：通常将同一晶面族中等同晶面组数P 称为衍射强度的多重性因数。罗仑兹因子：系统消光：因丨F | 2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。2 讨论下列各组概念中二者之间的关系：1)同一物质的吸收谱和发射谱； 答：当构成物质的分子或原子受到激发而发光，产生的光谱称为发射光谱，发射光谱的谱线与组成物质的 元素及其外围电子的 结构有关。吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱，吸收光谱则决定于物质的化学 结构，与分子中的双键有关。2)X 射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。答：可以选择入K刚好位于辐射源的Ka和KB之间的金属薄片作为滤光片，放在X射线源和试样之间。这时滤光片对KB

4、 射线强烈吸收，而对Ka吸收却少。3. X射线的本质是什么？答： X 射线是一种电磁波，有明显的波粒二象性。4女M可选用滤波片的材料？如何选用 X射线管的材料？答：选择2k刚好位于辐射源的K a和Kb之间的金属薄片作为滤光片，滤波片是根据靶元素确定的。经验 规律：当靶固定后 应满足当Z 中各参数的含义，以及该公式有哪些应用？答：dma表示HKL晶面的面间间距.8角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面间间的 夹 角，X表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：(1已知晶体的d值。通过测9,求特征X射线的入，并通过入判断产生特征X射 线的元素。这主耍应用TX射线荧光)匕谱仪和屯了探针中

5、。(2己知入射X射线的波K,通过测量6，求晶面 间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。hkl ）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个13当波长为入的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（HKL 干涉面的波程差又是多少？答：当波长为入的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl ）晶面的波程差是n入，相邻两个（HKL晶面的波程差是入14. “一束 X 射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”，此种说法是否正确？答：不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长 致的新的X射线，只要符合光的干涉三个条件

6、（光程差是波长的整数倍），不同点光源间发岀的 X 射线都可产生干涉和衍射。镜面反射，其光程差为零，是特殊情况。15. a -Fe属立方晶系，点阵参数a=0.2866nm。如用CrK X射线（入=0.2291 nm）照射，试求（110）、（200）及（211 ）可发生衍射的掠射角。答：， 2dHKLsin B =入得 016 原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？答：原子散射因数 f 是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。也称原子散射波振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反映了原子将X射线向某

7、一个方向散射时的散射效率。原子散射因数与其原子序数有何关系，Z越大，f越大。因此，重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。17总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。答：简单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是（h+k+l）偶数时出现反射，（h+k+l）奇数时消光。面心点阵衍射线的系统消光规律是 h,k,l 全奇或全偶出现反射， h,k,l 有奇有偶时消光。18 洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几个方面考虑而得岀的？ 答：罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响，第一种几何因子表示衍射的晶粒大小对衍射强度的影 响，罗仑兹第二种几 何因子表示晶粒

8、数目对衍射强度的影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍 射强度的影响。19 试述衍射强度公式中各参数的含义?答：X射线衍射强度的公式式中各参数的含义是：1。为入射X射线的强度；入为入射X射线的波长；R为试样到观测点之间的距离；V为被照射晶体的体积；Vc为单位晶胞体积；P为多重性因子，表示等晶面个数对衍射强度的影响因子；F为结构因子，反映晶体结构中原子位置、种类和个数对晶面的影响因子；A（ 0）为吸收因子，圆筒状试样的吸收因子与布拉格角、试样的线吸收系数卩I和试样圆柱体的半径有关；平板状试样吸收因子与卩有关，对衍射强度的影响；e-2M为温度因子2*而与0角无关。（0）为角因子，反映样品中参

9、与衍射的晶粒大小，晶粒数目和衍射线位置丄 中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。（有待补充）20.某斜方晶体晶胞含有两个同类原子，坐标位置分别为：（，二），该晶体属何种布拉菲点阵？写出该晶体(100)、( 110)、( 211)、( 221)等晶面反射线答: F=fe?PI i (3/4H+3/4K+L)+fe?PI i (1/4H+1/4K+1/2L)F2值。100),F=0, F2=0; (110),F=-2f, F 2=4f 2; (21 1 ),F=2f, F2=4f2;221),F=0, F2=021 说明原子散射因子丿、结构因子F、结构振幅b丨各自的物理意义=答答：原子 结构因子:

10、晶胞所含个原子相应方向上散射波的合成波。结构振幅:晶胞散射波幅和电子散射波幅振幅之比F| =E_b/E_e干涉函数:小晶体散射波强度与晶胞散射波强度之比G| A2=I_m/I_b22 金刚石晶体属面心立方点阵，每个晶胞含2丄8个原子丄坐标为：（0，0，0）、（ 22 2 10）、30,龙）、（0,龙）、（，4）、厂，4，）、，一）、4)原子散射因子求其系统消光规律（F2最简表达式），并据此说明结构消光的概念。F(h k l)答:2nfje22 i(hxjkyjlzj)2彳Fc2式中|FS|为晶体点阵中各结点的结构振幅,|Fc|为晶胞的结构振幅。由上式可知,|Fs|2=0 或Fc|2=0 均可使

11、|F （hkl） |2=0，从而使上式晶体衍射线强度Ic为零，这种满足布喇格方程条件但衍射线强度为零的现象戶2=0的称之为消光数规体所舉的点阵相型不不同勾不同的晶体,|Fc|2=0的指数规律相同，但|Fs|2=0的指数规律不同，所以，称|Fc|2=0的条件为点阵消光条件；|F （hkl） I 2=0的条件为结构消光条件。实际晶体中，位于阵点上的结构基元若非由一个原子组成，则结构基元内各原子散射波间相互干涉也可能产生F2=0的现象。此种在点阵消光的基础上，因结构基元内原子位置不同而进一步产生的附加消光 现象，称 为结构消光（补充）。23.“衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小，而与晶胞中的

12、原子位置无关；衍射线的强度则仅 取决于 晶胞中原子位置，而与晶胞形状及大小无关”，此种说法是否正确？答：衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面间间距，或者晶胞的大小。衍射线的强度主要取决于晶体24.用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记 录？答：用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄 取德拜图相，应当采 用带状的照相底片去记录。25.某一粉末相上背射区线条d 较大还是较小？与透射区线条比较起来，其 B 较高抑或较低？相应的答：背射区线条与透射区线条比较B较高，d较小。产生衍射线必须符

13、合布拉格方程2dsin 9 =入，对于背射区属于2 9高角度区，根据d=A/2sin 9，9越大d越小。26. 衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？答：入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随29变化，德拜法：通过进光管限制入射线的发散度。试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长，约为1020h。记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图，德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（1）对（2 9）的分布（1-2 9曲线）也不同；27. 测角

14、仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线 成 30角，则计数管与入射线所成角度为多少？ 能产生衍 射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？答： 60度。因为计数管的转速时试样的 2倍。辐射探测器接收的衍射是那些与试样表面平行的晶面产生的 衍射。晶体若不平行于试样表面，尽管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能被接收。28. 叙述X射线物相分析的基本原理，试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?答：定性分析：原理：X-ray衍射分析是以晶体结构为基础的，每种结晶物质都有特定的结构参数，这些参数在X-ray衍 射花样中均有所反映。故可作为鉴别物相的标志。若将几种物质混合后摄像，则所得 结果为各单独物相

15、衍射线条的简单叠加。定性分析：原理：X-ray衍射分析是以晶体结构为基础的，每种结晶物质都有特定的结构参数，这些 参数在X-ray衍射花 样中均有所反映。故可作为鉴别物相的标志。若将几种物质混合后摄像，则所得结果 为各单独物相衍射线条的简单叠加。 与照相法相比，衍射仪法在一些方面具有明显不同的特点，也正好是它的优缺点。（1）简便快速：衍射仪法都采用自动记录，不需底片安装、冲洗、晾干等手续。可在强度分布曲线图上 直接测量29和I 值，比在底片上测量方便得多。衍射仪法扫描所需的时间短于照相曝光时间。一个物相 分析样品只需约 15分钟即可扫描完毕。此外，衍射仪还可以根据需要有选择地扫描某个小范围，可

16、大大 缩短扫描时间。（2）分辨能力强：由于测角仪圆半径一般为185mm远大于德拜相机的半径（57.3/2mm），因而衍射法的分辨能力比照相法强得多。如当用CuKa辐射时，从2 9 30o左右开始，K,双重线即能分开；而在德拜照相中2 9小于90时K双重线不能分开。a（3）直接获得强度数据：不仅可以得岀相对强度，还可测定绝对强度。由照相底片上直接得到的是黑度, 需要换算后才得岀 强度，而且不可能获得绝对强度值。（4）低角度区的2 B测量范围大：测角仪在接近29 = 0附近的禁区范围要比照相机的盲区小。一般测2 9 = 0.50.6),而直径57. 3mm角仪的禁区范围约为 29 8。这相当于使用

17、CuK a辐射时，衍射仪可以测得面网间距d最大达3nmA的反射（用小角 d散射测角仪可达1000nm）,而一般德拜相机只能记录d值在1nm以内的反射。（5）样品用量大：衍射仪法所需的样品数量比常用的德拜照相法要多得多。后者一般有510mg样品就足够了，最少甚至可以少到不足Img。在衍射仪法中，如果要求能够产生最大的衍射强度，一般约需有0.5g以上的样品；即 使采用薄层样品，样品需要量也在100mg左右。（6）设备较复杂，成本高。显然，与照相法相比，衍射仪有较多的优点，突岀的是简便快速和精确度高，而且随着电子计算机配合衍射仪自动处理结果的技术日益普及，这方面的优点将更为突出。所以衍射仪技术目前已

18、为国内外所广泛使用。但是它并不能完全取代照相法。特别是它所需样品的数量很少，这是一般的衍射仪法远不能及的。29粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？ 答：粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续，或过小，德拜宽度增大，不利于分析工作的进行。因为当粉 末颗粒过大（大于 10-3cm ）时，参加衍射的颗粒数减少，会使衍射线条不连续；不过粉末颗粒过细（小于10-5cm ）时，会使衍射线条变宽， 这些都不利于分析工作。多晶体的块状试样，如果颗粒足够细将得到与粉末试样相似的结果，即衍射峰宽化。但晶粒粗大时参 与反射的晶面数量有限，所以发生反射的概率

19、变小，这样会使得某些衍射峰强度变小或不岀现。30.物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？ 物相定性分析的原理是根据每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构，即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此，从布拉格公式和强度公式知道，当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关，相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。这些衍射花样有两个用途：一是可以用来测定晶体的结构，这是比较复杂的。二是用来测定物相，所以， 任何一种

20、结晶物质的 衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相，这个过程比较简单。分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找岀与其相同 者即可。对食盐进行 化学分析与物相定性分析，前者获得食盐化学组成，后者能获得物相组成及晶体结构。31 物相定量分析的原理是什么？试述用K值法进行物相定量分析的过程。答：根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍射线的强度亦随之增加，所以通过衍射线强度的数值可以确定对应物相的相对含量。由于各个物相对X射线的吸收影响不同，X射线衍射强度与该物相的相对含量之间不成线性比例关系，必须加以修正。这是内标法的一种，

21、是事先在待测样品中加入纯元素，然后测岀定标曲线的斜率即K值。当要进行这类待测材料衍射分析时，已知K值和标准物相质量分数3 s,只要测岀a相强度Ia与标准物相的强度Is的比值Ia/Is就可以求 出a相的质量分数3 a。K 值法是内标法延伸。 从内标法我们知道，通过加入内标可消除基体效应的影响。K 值法同样要在样品中加入标准物质作为内标，人们经常也称之为清洗剂。 K 值法不须作标准曲线得出而能求得 K 值。1）对待测的样品。找到待测相和标准相的纯物质，配二者含量为 衍射线的强 1:1 混合样，并用实验测定二者某一对度，它们的强度比 K is o2）在待测样品中掺入一定量Ws的标准物质。并测定混合样

22、中二个相的同一对衍射线的强度li/ls。3）代入上一公式求出待测相4）求i相有原始样品中的含量i 在混合样中的含量 wi。Wi由于 JCPDS 卡片中已选用刚玉 A12O3 作为标准物质。测定许多物质与刚玉以1： 1 比例混合后，二者最强衍射峰之间的比值。因此可选用刚玉作为标准物质，得岀二者强峰的强度比，查 可求 得。JCPDS 卡片计算32在a -Fe2Og及Fe2Og混合物的衍射图样中，两相最强线的强度比匚-隔。 也3 _，试借助于索引上的参比强度值计算a-Fez。？的相对含量。Fe3O4这里设所求Fe2O3的相对含量为W Fe2O3，Fe3O4答：依题意可知在混合物的衍射图样中，两根最强

23、线的强度比的含量为已知为 Wpe3O4,借助索引可以查到I Fe2O31.3-1关非晶态物质结构哪些信息?答：非晶态物质最主要特征为短程有序、长程无序。非晶态物质的的密度一般与同成分的晶体和液体相差不大，这说明三种状态下的原子平均距离相接近，电子运动状态一般也不会有太大的突变。事实上,非晶态金属保持金属特性，非晶态半导体和绝缘体也都保持它们各自特性。可见，非晶态与晶态的最近邻 原子间的关系是类似 的，表明非晶态结构存在着短程有序。然而，非晶态的短程有序只是在最近邻关系上 与晶态类似，而在次近邻关系就有明显的 差别。与晶体结构不同，非晶态物质不存在结构周期性，因而点 阵、点阵参数等概念也就失去意义。因此，非晶态与晶态结构 的主要区别为长程无序。结构均匀、各向同 性也可视作非晶态材料的特征。此外，非晶结构属亚稳状态，因其自由能总较晶态 为高，故有自发向晶态转化的趋势。RDF （r）曲线第一峰下面积可求得最近邻配位数约通过以上工作可得岀有关该样品的某些信息：由I =0.253nm,近似等于金为 13;曲线的峰位，表示原子分布几率极大值的地方。曲线上第一峰位为属原子间的最近距离；由曲线可估计岀样品的短程有序畴。约为1.4 nm,表明短程有序范围约个原子距离。此外，分布函数曲线的峰宽可反映岀由静态无序和热动无序所引起的原子位置不确定性。