技术使用说明书

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1、Four short words sum up what has lifted most successful individuals above the crowd: a little bit more.-author-date技术使用说明书技术使用说明书TCD9302局部放电测试仪技术使用说明书一、概述TCD9302局部放电测试仪是我厂研制开发生产的一种新型仪器。它基本上保持了原有局部放电检测仪的优点和功能，并致力于缩小仪器体积、重量、使之成为名符其实的携带式仪器。该仪器是根据IEC(270)标准，利用脉冲电流法原理研制而成，并满足GB-7354-2004、GB-1207-97、GB120

2、897中关于局部放电测试对测试仪器规定的技术要求。该仪器具有灵敏度高、放大器系统动态范围大、测试的试品范围广、操作简便等优点。并采用先进的抗干扰组件和独特的门显示电路，抗干扰能力强，并具有四种高频椭圆扫描，适用于高压产品的型式、出厂试验，新产品研制试验，电机、互感器、电缆、套管、电容器、变压器、避雷器、开关及其它高压电器局部放电的定量测试。可供制造厂、科研部门、电力部门现场使用。二、名词、术语1 局部放电局部放电是指在绝缘的局部位置放电，它并不构成整个绝缘的贯通性击穿。它包含三种放电形式：内部放电（在介质内部）、沿面放电（在介质表面）、电晕放电（在电极尖端）。2 电荷量q在试品两端瞬时注入一定

3、电荷量，使试品端电压的变化和由局部放电本身引起的端电压的变化相同，此注入量即为局部放电的视在电荷量。3 视在放电量校准器视在放电量校准器是一标准电量发生器，试验前它以输出某固定电量加之试品两端，模拟该试品在此电量下放电时局部放电测试仪的响应，此时调整刻度系数，确定局部放电检测仪的量程，以便在试验时测量该试品在额定电压下的视在放电量。因该放电量时以标准电量发生器比较后间接测出，而非直接测出，故此放电量称为“视在放电量”。校正电量发生器是测量局部放电时必备的仪器，它的性能参数直接关系到测试结果的准确性。视在放电量校准器由校准脉冲电压发生器和校准电容串联组成，其参数主要包括：脉冲波形上升时间、衰减时

4、间、内阻、脉冲峰值、校准电容值等。校准脉冲电压发生器电压波形上升时间为从0.1U0到0.9U0的时间，衰减时间定义为从峰值下降到0.1U0的时间。4检测阻抗检测阻抗是拾取检测信号的装置，在使用中，应根据不同的测试目的，被试品的种类来选择合适的检测阻抗，以提高局部放电测量的灵敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。检测阻抗按调谐电容范围分112号。（见表1）5时间窗(门单元)时间窗是为防止大于局部放电的干扰信号进入峰值检波电路而设计的一种电路装置。因在实际试验时，尤其是在现场做试验时，不可避免地会引入一些干扰，所以，时间窗的使用更显得重要。时间窗的工作原理是把椭圆扫描时基分成导通(加亮区域)和截止(未

5、加亮区域)两部分,通过改变时间窗的位置和宽度将放电脉冲置于导通(加亮区域)，干扰脉冲置于截止(未加亮区域)，此时仪表读数即为放电脉冲数值，而干扰则不论大小，皆不会影响放电脉冲数值。若此时两个时间窗同时关闭，则仪表读数为整个椭圆上脉冲之峰值。三、技术参数1可测试品的电容范围：6F250F2检测灵敏度及允许电流(见表1)。3椭圆扫描时基(1) 频率：50、100、150、200、400z(2) 旋转：以30度为一档，可旋转120度。(3) 工作方式：标准扩展直线。(4) 高频时基椭圆的输入电压范围：13275。4显示单元采用10080mm矩形示波管，有亮度与聚焦调节旋钮。5放大器(1) 3dB低频

6、端频fL：20、40KHz任选。(2) 3dB高频端频率fH：200、300KHz任选。(3) 增益调节：粗调6档，档间增益差10倍5%。(4) 细调范围：10倍。(5) 正、负脉冲响应不对称性：5%。6时间窗(1) 窗宽：5度150度(50Hz) 连续可调。(2) 窗位置：每一窗可旋转0度170度。(3) 两个时间窗可分别或同时控制。7、脉冲峰值表(1) 线性指示：0100误差不大于5%。(2) 对数指示：1100误差不大于5%。表1 检测灵敏度及输入单元允许电流值输入单元序号调电容范围灵敏度(PC)(不平衡电路)允许电流有效值不平衡电路平衡电路1625100微微法0.0230mA0.25A

7、225100400微微法0.0460mA0.5A31004001500微微法0.06120mA1A440015006000微微法0.10.25A2A51500600025000微微法0.20.5A4A60.0060.0250.1微法0.31A8A70.0250.10.4微法0.52A15A80.10.41.5微法14A30A90.41.56.0微法1.58A60A101.56.025微法2.515A120A116.02560微法525A200A122560250微法1050A300A7R电阻0.52A15A8、具有辅助识别放电脉冲相位的零标志系统。9、工作电源 220V10% 工频10、体积：

8、440430180mm11、重量：约15Kg四、系统工程原理简介若试品a在试验电压下产生局部放电时，经耦合电容C产生脉冲电流，由输入单元拾取得脉冲讯号，经低噪声前置放大、滤波放大器选择所需频带及主放放大后，在示波屏的椭圆扫描基线上显示出放电脉冲，同时也送到脉冲峰值表（对数表）显示其峰值。时间窗单元控制试验电压每一周期内脉冲峰值表的工作时间，并在这段时间内将显示屏的显示加亮，宽度与位置可以改变，进一步加强了抗干扰能力。整个系统工作原理可参看框图（图1）。图1 TCD9302局部放电测试仪原理方框图试品试验台隔离滤波器无晕试验变压器耦合电容器检测阻抗局放仪电阻分压器零标输入电容分压器工频峰值表图2

9、局部放电系统示意图（外试法）五、通用试验方法(一)试验目的(1) 证实试品在规定电压下没有高于规定值之局部放电；(2) 测定电压上升时出现放电超过某一规定值时的最低电压(起始放电电压)和电压下降时放电低于规定值时最高电压(终止放电电压)。(3) 测定在某一规定电压下的放电强度。(二)试验条件(1) 交流电源电压应为正弦波，不应有过大的高次谐波。(2) 试品的电气、机械、温度条件应良好且稳定。(3) 由于电压回滞现象的影响，在试验前至少几小时以上的时间内，不要承受超过规定的局部放电试验电压最高值以上的电压。(4) 经过搬运后的试品，必须静放一段时间后再做局部放电试验(油浸)。(三)试验程序1.

10、将试验区内的杂物尽量移到试区以外，各种金属物体应牢固接地，检查和改善试区内一切可能放电的部位，应特别注意各种地线是否已接地。2. 根据不同的试品和试验条件，选择正确的接线方式。3. 用视在放电量校准器（Q视）对整个测试系统进行刻度系数K校正。如图1将视在放电量校准器接入线路中，调节仪器的增益旋钮，把指针调至参考值H，则刻度系数KH/Q视（详见具体操作说明5）。校正完毕后，测试仪器的细调（连续调节）增益旋钮不得随意变动，同时应将视在放电量校准器从高压线路上取下，以免在加压试验时将视在放电量校准器击穿而使高压线路短路。(四) 注意事项1. 在试验开始加压以前，试验人员必须详细而全面地检查一遍线路，

11、以免线路接错。测试仪器处的接地线是否与接地体牢固连接，若连接不牢或在准备工作时掐头去尾线被脚踢断，这将可能引起人身和设备事故。2对于连接线应避免将尖端暴露在外，防止尖端电晕放电，尤其对于电压等级较高的局部放电试验，必要时要加粗高压连接线及加装防电晕罩，减小因场强过高引起的电晕放电。屏蔽罩不能与试品的瓷裙相接触。3. 一般情况下，在试验过程中，被试品在耐压、预升压时局部放电量都比正常值大很多，此时仪器的仪表必然会超出满刻度。为防止仪器损坏，应将仪器的增益粗调旋钮逆时针旋转一档或更多档，以不超出满刻度为标准。当电压降至测量电压时，再将增益粗调开关顺时针旋转一档或更多档，以便记录测量值。4. 校正电

12、量发生器校正完毕后，一定要从高压端脱离，并关闭电源开关，且仪器的增益细调旋钮不可再调。因增益粗调开关每相邻两档之间的关系是十倍，且档位有指示，故升压后根据放电量大小，可选择合适量程。逆时针旋转时，每降一档量程扩大十倍；反之，顺时针时，量程缩小十倍。5. 试验完毕后，应对整个测试系统再进行一次复查校正，验证是否与试验前所校正出的刻度系数相等，以免测试仪器或其它环节在试验过程中发生故障而使测试结果不对。六、具体操作说明（一）试验准备1201000120+10001 根据试品的容量Ca，耦合电容的大小Ck，选取适合序号的输入单元。表1中调谐电容量系指与输入单元初级绕组并联的电容（粗略估算以按试品容量

13、与耦合电容的容量串联计算）。例如：试品容量为120F，耦合电容量为1000F，则所需检测阻抗为有 107，查表1可取2号单元。输入单元应尽量靠近试品，输入单元经8米长的测量电缆与放大器输入插座相连。2. 试品接入输入单元的方法有以下几种（见图3）：a.并联法末Z至校正脉冲至放大器UCkCa始中Z至校正脉冲至放大器UCaCk始中末b.串联法c.平衡法Ca2U至校正脉冲至放大器ZCa1始中其中：Z为阻塞阻抗；Ca为试品；Ck为耦合电容。1 面板示意图9030标准直线120600扩展3002040200线性对数增益粗调增益细调左右Hz试验电源示 波 屏开关聚焦亮度门宽门位置中频电源前 面 板VV轴

14、流 风 机 接地零标输入信号输入 AC220V50Hz中频电源 5A4准备在仪器后面板AC220V插座上接上220V工频电源，然后打开电源开关，让仪器预热5分钟，同时对有关开关进行操作。“标准扩展直线”开关置于标准放大器频带fL、fH分别置20KH，300KH，放大器增益粗调置3档，细调置中间位置，切不可一开始将粗调开关置最高档。根据不同频率的试验电源选择电源频率，以便观察合适的椭圆。如果中频试验电源，请将中频试验电压开关旋在275V档，然后再接上中频电源。观察数字表读数，如果差得太多，可将试验电压开关往小档位上旋一档，直至合适值，千万不可旋在太小档位上，同时请注意，输入仪器的中频电压万不可超

15、过规定值275V！，否则仪器被损坏。椭圆旋转可不作调节。窗开关打在关位置，以后根据干扰出现的相位可开窗适当调旋转，根据干扰情况调窗宽、位置，使干扰在门窗之外，使局部信号在窗上，以便读取放电的数值。线性、对数开关置于线性位置。5. 视在放电量校准（JZF10校正脉冲发生器）用视在放电量校准器（JZF10校正脉冲发生器）的输出接于试品两端，红端接高压端(引线尽可能短，以防干扰)，黑端接低压端，调节其输出放电量，例如50PC，调节放大器增益粗调及增益细调旋钮，使放电量表指示满度。此时放电量表指示满度即100%表示50PC的放电量，注意此时增益细调旋钮位置不可再动。测量盒应尽量靠近试品高压端。校准完毕

16、后，拆除视在放电量校准器的连线，并关断其电源，防止高压损坏校准器。6. 试验操作接通高压试验回路的电源，逐步升高电压至规定电压，时刻注视PC表指示，此时放电量表的读数表示试品放电量的大小，如指示在80%，则表示试品视在放电量为5080%40PC。若此时试品放电量刚大于100%即超过满度，应立即将放大器增益粗调由原来的“3”切换到“2”档，此时放电量表100%，则表示500PC，假如此时放电量指示80%，由试品放电量为50080%400PC。若此时试品放电量小于10%：a. 应将放大器粗调由“3”档改至“4”档，此时放电量表100%则表示5PC，假如此时放电量表指示80%，则试品视在放电量为58

17、0%4PC。b.将仪器面板上对数、线性开关切换至对数位置，因对数刻度10%以下分辨率高，可直接读出对数刻度。旋转“椭圆旋转”开关使椭圆转到预期的放电最利于观察之处。通常这个位置是零标脉冲分别处于椭圆上部左侧及下部右侧之处。连续升高电压，注意第一次出现持续放电，当放电量超过规定的最低值时的电压即为局部放电起始电压。若有干信号在放电脉冲附近，可以用窗宽和窗位置将干信号扰拒之窗外，即合扰窗开关，用一个或两个时间窗并用窗宽、窗位置来改变椭圆上加亮区域的宽度与位置，使其避开干扰脉冲，这样，放电量表的指示值只表示放电脉冲的大小，而不表示干扰信号的值，另外也可以改变频带的方法来提高抗干扰能力。注：如需判断放

18、电相位，接上合适的电阻分压器，取得10V左右的零标电压，缓缓升高试验电压，椭圆上将出现两个零标志脉冲，通过零标志可判别放电的相位，如图所示：七、测试中的干扰问题在局部放电测试中，往往由于外部干扰信号的影响，而使测试结果产生误判断，或者使测试工作根本无法进行下去。尤其对从事局部放电测试工作经验不多的人，更容易引起误判断。因此，在局部放电测试技术中，消除外部干扰成为一项很重要的技术内容，同时也是花钱较多的一项技术措施。(一) 外来干扰1与电源电压无关的干扰这种干扰与电源电压（加至被试品上的电压）无关，它不随电源电压的升高或降低而变化。它产生于：电气开关的开闭操作、电焊起弧、吊车开动、整流电机的电刷

19、、闪光灯、无线电电磁波以及各种工业干扰等等。这些干扰通过电源、测试回路和地线等途径侵入进来。2. 电源电压有关的干扰这类干扰一般随电源电压的增加而变大。它可由试区内各个部分产生。例如：试验变压器、高压引线、试品端部、高压线路接触不良、高压试区的绝缘物体与地线（或接地金属物）接触、试区内金属物体接地不良、以及其它物体的感应放电等等。与电源电压有关的干扰的侵入途径，可以通过电源、高压导线、空间和地线侵入到测试回路内。(二)消除外来干扰的方法1. 消除与电源电压无关的干扰方法：应从电源、空间、接地方式几个方面采取措施。为了消除空间电磁波的干扰，应将试验室加以屏蔽。对于由电源侵入的干扰，一般在电源进口

20、处加隔离变压器和滤波装置。消除由接地网来的干扰，应采取一点接地方式。2. 消除与电源有关的干扰措施：可将高压导线加粗（用较粗的蛇皮管、薄铁皮圆筒或铝筒）；对被试品端部加防晕罩；试区内各地线和金属物应良好接地；试区内的绝缘物体严禁与金属接地体接触；在高压线下部地面上不应有螺钉、地线头等金属物体。八、附件说明书1份质量反馈单1份电源线1根高频线1根测试电缆1根（8米）保险丝2只合格证九、成套装置1. 输入阻抗112号任选，7R号测长电缆用。2. 视在放电量器校准器（JZF10校正电量发生器，局放仪校正脉冲发生器）任选。3. LB系列工频、中频滤波器4. SBP系列三倍频感应试验设备5. 无局放电阻

21、分压器50KV、100KV、150KV、200KV任选。6. 无局放耦合电容系列7. YDTW无局放试验变压器系列8. 工频试验控制台十、视在放电量校准器参数及使用(一) 局放仪校正脉冲发生器局放仪校正脉冲发生器是专为局部放电的检测而设计的，本仪器的精度、上升时间、重复频率等直接决定了局部放电的测试精度，此仪器符合IEC标准。此校正脉冲发生器输出电量105000PC任意调节。适用于先校准后试验，先试验后校准的局放试验中。一、技术参数1方波幅值满刻度为2.5V、5V、10V、25V、50V；精度为2%2. 衰减器：10:1衰减3级。3. 输出脉冲极性“”每周期提供一个主正向脉冲；“”每周期提供一

22、个正向脉冲和一个负向脉冲；“”每周期提供一个负向脉冲。4. 方波前沿0.05us5. 重复频率：45H65Hz，连续可调。6. 脉冲衰减时间100us1000us7. 内阻75。8. 工作方式：感应同步，手动调节。9. 一次工作时间5分钟。10仪器工作环境040，相对湿度85；仪器周围无强烈振动，仪器平放工作，不得倾斜。11电源：10V可充电电池。二、操作程序用户可根据实际情况选择输出幅值和Cq(10pF、100pF)、模拟放电量为Q=CqUo。将输出电缆一端接到“衰减输出”高频插座，另一端接到装有注入电容的匹配盒。将极性开关调节到所需要的脉冲型号，按下启动按钮，仪器进入工作状态。调节“方波幅

23、值”旋钮到所需要的电压值范围，然后再调节“细调”，将同步选择开关打到调频，然后调节旋钮使脉冲的频率尽量接近于试验电源的频率，如果需要同步，将开关打到感应接线柱上，此时脉冲与电网频率同步。当“极性开关”旋到“V”检查时，看表头指示是否在红线以下，如果在红线以下时则需充电。校正结束后，必须将匹配盒拿下，以免升高压时打坏，将仪器置于“关”位置。注：此仪器工作时必须平放，不能倾斜，另此仪器的方波信号为不接地的，不用接地。JZF10型正电量发生器的主要技术指标及使用JZF10型校正电量发生器是一种小型的可充电电池供电的视在放电量校准器，它可以分别以四种放电量向试品两端注入1.2KH左右的校正脉冲，可用于

24、先校准后试验的局放试验中，适合于国际电工委员会IEC270所推荐的任何一种试验电路。（一）主要技术参数电池电压1.258V输出电荷量5、50、500PC或5、10、50、100PC方波前沿0.05us脉宽：100us1000us内阻：75重复频率1.2KH频率变化200H注入电容10PF、100PF或10PF、20PF（二）使用方法首先检查JZF10校正脉冲发生器的电池电压，如面板上电压表指示，在8V以上方能正常工作。将输出的红、黑两个端子上接上导线，红端子上的导线尽量短，且靠近试品的高压端，黑线导线接试品的低压端，将校正电量开关置于5、10、50、100、500中任何合适一档即可校正。频率可

25、在1.2KH附近调节。校正电量发生器使用后及时将调节电荷量的波段开关旋在关位置。如校正电量发生器工作时表头指示在8V以下，则需充电，充电要适时，且时间要连续达到5小时。如校准电量发生器常期未用，则每月补充一次电。十一、常见图谱分析（1）接触不良这种干扰源如图1所示。其特点是干扰波位于椭圆时基的零点附近。在正负半波上对称出现，幅值相差不大。干扰在低电压时即出现。电压增大时，干扰占位区域也增大，由于叠加效果幅值增大较慢。有时在电压达到某一定数值后会完全消失。造成这种干扰的原因有：试验回路中金属对金属接触不良，塑料电线半导电屏蔽层中粒子间接触不良，电容器卷绕铝箔电极与插接片接触不良等。（2）浮动电位

26、物体波形见图2，特别是在电压峰值之前的正负半波部分出现。等幅值间隙不等。由于余辉，有时成对的出现，有时图像有飘动。电压增加时，根数增加，间隙缩小，中间值不变。有时电压增加到一定值后干扰信号会消失，再降低电压时，又会重新出现。起因：金属或碳质导体之间的间隙放电。它可以发生在试样上或测试回路中。在两个孤立的导电物之间，例如地面上处于浮动电位的多种物体间发生。（3）外部尖端电晕波形如图3，特别是仅在试验电压的一个半波中出现，位于外施电压的峰值部分，等幅值，等间距。电压增加时，放电讯号波的根数增加，但幅值总不变。起因：高压电极的尖端或边缘对空气中的放电。若干扰讯号位于椭圆时基的负关周，则尖端电晕处于高

27、电压下，若干扰讯号位于时基椭圆的正半周，则尖端在接地部分，有时也可能高压、接地部分都有尖端电晕放电，则时基椭圆的正负半周就出现两组讯号。（4）液体介质中的尖端放电波形见图4，特别：在试验电压正负半周峰值位置均有一组讯号，同一组讯号等幅值，等间隔，一组中间值较大的讯号先出现，随电压增加值也增大。一组中间值小的讯号其幅值不随电压变化。起因：在绝缘液体中发生了尖端或边缘电晕放电。或一组大的讯号出现在正半周，则尖端位于高压部分；若它出现在负半周，则尖端处于接地部分。（5）继电器，接触器的动作干扰讯号波形见图5，特点：在时基椭圆上干扰讯号波形分布不规则，间隙地出现，且同试验电压大小无关。起因：闪光灯，热

28、继电器，接触器和各种火花试验器或有火花放电的记录器动作时造成。（6）可控硅元件干扰讯号波形见图6，特点：干扰讯号在时基椭圆上之位置固定，每一元件产生一个独立的高频脉冲讯号。电路接通，电磁耦合效应增强时，讯号幅值增加，也可能发生波形展宽、相移，从而在时基上占位增加。起因：供电网络中有可控硅器件在运行。干扰的大小同所用可控硅器件的功率直接有关。（7）异步电机干扰波形见图7。特点：在时基椭圆上正负半周波形出现对称的二组讯号，且沿扫描时基逆时针方向移动。起因：异步电机运行时产生的干扰讯号耦合到检测回路中来。（8）萤光灯干扰波形见图8。特点：在椭圆时基上出现栏栅状幅值大致相等的脉冲，并伴有正负半波时对称

29、出现的二簇脉冲组。（9）电动机干扰波形见图9。特点：沿椭圆时基均布，等幅值每一个单个讯号或“山”字形。起因：带换向器的电动机如风扇、电吹风运转时所发出的干扰讯号。（10）无线电干扰干扰波形见图10，特点：沿整个时基椭圆分布的幅值有调制的高频正弦波。起因：高频电力放大器，无线电话、广播话筒等。（11）中高频工业设备干扰波形见图11。特点：讯号在时基椭圆上连续发生，但仅在半周内出现。起因：感应加热装置及频率接近局部放电检测频率的超声波发生器等。（12）磁饱和产生的谐波干扰波形见图12。特点：在时基椭圆正负半波上对称出现一对谐波振荡讯号，讯号幅值随电压增加而增加，电压除去，讯号消失。讯号稳定，能重复

30、再现。起因：试验系统中铁芯设备（试验变压器，并联或串联电抗器，滤波电抗器，匹配变压器，调压变压器）磁饱和时产生的谐振讯号。（13）电极在电场方向运动干扰波形见图13。特点：仅在时基椭圆的半周中出现二个讯号脉冲，它们相对于峰值点对称分布。起始点该二讯号很靠近，随电压增大，二者逐渐分开，且有可能产生新的讯号脉冲对。起因：电极（尤其是金属箔电极）在电场作用下运动。（14）介质表面放电干扰讯号波形见图14。特点：放电讯号出现在试验电压峰值之前。正负半周中都有，而且幅值基本相等。讯号幅值和位置有随机性变化。开始时，放电讯号是可分辨的，到一定电压值后便难以分辨。起因：二个接触的绝缘导体之间介质表面上的，或介质表面上切向场强较高的区域发生放电。（15）漏电痕迹和树枝波形特点：讯号与一般典型的图像不符合，波形呈不规则，不确定的图像，与电压有关。起因：脏污绝缘中泄漏，绝缘局部过热致的碳痕迹或电树枝足道等。上述有些图像，如（4）、（13）、（14）、（15）等也可能即属试品本身的缺陷。（15）则为介质内部放电之图像。-